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本技术涉及存储芯片测试领域，特别是涉及一种存储芯片老化测试系统。存储芯片老化测试系统，包括：测试装置，其包括：安装座，以安装待测芯片；老化测试板，电性连接于待测芯片；以及高温箱体，容纳安装座和老化测试板；输入装置，设有预留接口，预留接口电性...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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