【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试领域，尤其涉及模块测试方法、模块测试装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、在相关的对小批量生产的digital module数字量模块与analog module模拟量模块进行测试的方案中，通常配置大量的非标设备，并由专业操作人员对非标设备进行操控。然而，当操作人员操控机器时出现失误操作时，需要重新对上述模块进行测试，导致小批量生产场景下对数字量模块和模拟量模块进行测试时，存在测试效率低的缺陷。
2、上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供一种模块测试方法、模块测试装置及计算机可读存储介质，解决现有技术中小批量生产场景下对数字量模块和模拟量模块进行测试时，存在测试效率低的缺陷的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供一种模块测试方法，所述方法包括以下步骤：
3、获取与耦合器进行电连接的待测模块的模块编号；
4、确定所述模块编号关联的测试...
【技术保护点】
1.一种模块测试方法，其特征在于，所述模块测试方法包括：
2.如权利要求1所述的模块测试方法，其特征在于，所述接收到所述待测信号时，控制所述单片机执行所述测试程序，得到所述待测模块的测试结果的步骤包括：
3.如权利要求2所述的模块测试方法，其特征在于，所述待测信号为通道电压测试信号，所述控制所述单片机确定所述待测信号关联的第一测试参数，并读取所述待测模块的第二测试参数的步骤包括：
4.如权利要求3所述的模块测试方法，其特征在于，所述第一电压值至少包括第一电压参数和第二电压参数时，所述控制所述单片机确定所述通道电压测试信号关联的第一电...
【技术特征摘要】
1.一种模块测试方法，其特征在于，所述模块测试方法包括：
2.如权利要求1所述的模块测试方法，其特征在于，所述接收到所述待测信号时，控制所述单片机执行所述测试程序，得到所述待测模块的测试结果的步骤包括：
3.如权利要求2所述的模块测试方法，其特征在于，所述待测信号为通道电压测试信号，所述控制所述单片机确定所述待测信号关联的第一测试参数，并读取所述待测模块的第二测试参数的步骤包括：
4.如权利要求3所述的模块测试方法，其特征在于，所述第一电压值至少包括第一电压参数和第二电压参数时，所述控制所述单片机确定所述通道电压测试信号关联的第一电压值的步骤之后，还包括：
5.如权利要求1所述的模块测试方法，其特征在于，所述接收到所述待测信号时，控制所述单片机执行所述测试程序，得到所述待测模块的测试结果的步骤包括：
6.如权利要求1所述的模块测试方法，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：陶晖，刘绿山，陈振宇，
申请(专利权)人：深圳研控自动化科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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