【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子产品检测，尤其涉及一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置。
技术介绍
1、在电子产品在加工过程中，由于经历了复杂的加工和元器件物料的大量使用，无论是加工缺陷还是元器件缺陷，都可分为明显缺陷和潜在缺陷，明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷，例如短路/断路而潜在缺陷导致产品暂时可以使用，但在使用中缺陷会很快暴露出来，产品不能正常工作。
2、为保证产品的性能和是否满足标准参数，需要对电子产品进行不同的测试，如漏电保护测试、老化测试等，漏电保护测试通常是人工拿取漏电保护测试仪进行逐一的检测，费时费力，老化测试也仅是对产品的耐热性能进行检测，检测数据单一，很多电子产品需要在较为复杂的环境工作，如户外高温环境、湿度较高的环境、光照强度较高的地区使用等，较为单一的测试无法保证产品的性能。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其可以根据不同的电子产品所使用的环境需求进行选择性的老化测试和漏电保护测试，满足不同的测试需求，如光老化测试、湿热老化测试、高低温循环测试等，满足不同的测试环境设定，以得到更为准确的测试数据，可一体的设备分别进行不同的检测工作。
2、为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，包括：
3、箱体，包括第一测试箱和第二测试箱；
4、漏电保护测试组件，设置于所述第一测试箱内部，所述漏电保护测试组件包括漏电保护测试座，所述漏电保护测试座设置有插入腔
5、支撑组件，顶部设置有电动夹爪，所述电动夹爪用于夹取电子产品；
6、调节组件，包括第一电动丝杆和升降板，所述第一电动丝杆用于推动所述升降板升降；
7、老化测试柜，数量设置为多个且均匀设置于所述第二测试箱内部，多个所述老化测试柜内部均设有工作箱，所述工作箱顶部设有承载板；
8、传送面板，贯穿所述第二测试箱设置。
9、作为上述技术方案的优选，所述第一测试箱和所述第二测试箱外壁均设有进出口，所述支撑组件设置于所述进出口内侧。
10、作为上述技术方案的优选，所述漏电保护测试座还包括漏电保护测试仪，漏电保护测试组件通过与插入腔连通。
11、作为上述技术方案的优选，所述支撑组件还包括支撑板，所述支撑板底部设置有第一支撑座，所述支撑板设置于所述第一测试箱内壁内侧，所述支撑板外侧设置有滑动杆，所述电动夹爪设置于所述支撑板顶部，所述电动夹爪顶部固定设有连接座，所述连接座顶部设置有活动板，所述活动板底部表面设有第一导向柱，所述连接座内部设有滑槽且所述第一导向柱贯穿滑槽设置。
12、作为上述技术方案的优选，所述调节组件外侧设有第一限位柱，所述调节组件底部表面设有活动槽，活动槽内部贯穿设有第二导向柱，所述调节组件内部设有多个第一电动丝杆，所述调节组件顶部设有卡柱，所述卡柱前侧固定设有第二限位柱，所述卡柱后侧设有调节座，所述调节座内部贯穿设有锁紧螺杆，所述螺杆与所述调节组件螺纹连接。
13、作为上述技术方案的优选，所述第一测试箱内部固定设有工作台，所述调节组件设置于所述工作台表面，所述工作台外侧设有支撑架，所述漏电保护测试组件设置于所述支撑架内侧。
14、作为上述技术方案的优选，所述老化测试柜内壁顶部设有检测板，所述检测板设置于所述承载板顶部，所述检测板表面设有多个传感器和摄像头，相邻两个所述老化测试柜之间设有第一电磁门。
15、作为上述技术方案的优选，所述老化测试柜远离所述承载板一内壁表面设有推动组件，所述推动组件包括推板和第二电动丝杆，所述推板设置于所述传送面板顶部，所述第二电动丝杆用于驱动所述推板移动。
16、作为上述技术方案的优选，所述老化测试柜靠近所述承载板一内壁贯穿设有出料口，出料口内设置有第二电磁阀，出料口外侧设有回传组件，所述回传组件顶部设有回传带。
17、作为上述技术方案的优选，多个所述老化测试柜内的所述工作箱内部分别设有紫外灯管、第一加热室和制冷室以及加热座体和输送杆。
18、本专利技术提供了一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其具有漏电保护测试组件、支撑组件、调节组件、老化测试柜和传送面板，将对电子产品的漏电保护测试和老化测试分别设置在同一箱体的顶部和底部区域，电子产品由外侧输送进入支撑组件表面后，由电动夹爪抓取移动至调节组件的升降板表面，再根据产品的型号大小推动其升起将其卡入漏电保护测试座的插入腔内连通后进行漏电保护测试工作，整个过程自动输送和定位匹配并测试，且底部的老化测试柜设置为多个，能够根据不同的电子产品所使用的环境需求进行选择性的老化测试和漏电保护测试，满足不同的测试需求，如光老化测试、湿热老化测试、高低温循环测试等，满足不同的测试环境设定，以得到更为准确的测试数据，可一体的设备分别进行不同的检测工作，且检测过程自动输送和调整记录，提高整体的工作效率。
19、上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
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1.一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述第一测试箱（11）和所述第二测试箱（12）外壁均设有进出口（13），所述支撑组件（3）设置于所述进出口（13）内侧。
3.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述漏电保护测试座（21）还包括漏电保护测试仪，漏电保护测试组件通过与插入腔连通。
4.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述支撑组件（3）还包括支撑板（302），所述支撑板（302）底部设置有第一支撑座（30），所述支撑板（302）设置于所述第一测试箱（11）内壁内侧，所述支撑板（302）外侧设置有滑动杆（301），所述电动夹爪（31）设置于所述支撑板（302）顶部，所述电动夹爪（31）顶部固定设有连接座（311），所述连接座（311）顶部设置有活动板（32），所述活动板（32）底部表面设有第一导向柱（33），所述连接座（311）内部设有滑槽且所述第一导向柱（33）贯穿滑槽
5.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述调节组件（4）外侧设有第一限位柱（41），所述调节组件（4）底部表面设有活动槽，活动槽内部贯穿设有第二导向柱（42），所述调节组件（4）内部设有多个第一电动丝杆（43），所述调节组件（4）顶部设有卡柱（45），所述卡柱（45）前侧固定设有第二限位柱（46），所述卡柱（45）后侧设有调节座（47），所述调节座（47）内部贯穿设有锁紧螺杆，所述螺杆与所述调节组件（4）螺纹连接。
6.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述第一测试箱（11）内部固定设有工作台（111），所述调节组件（4）设置于所述工作台（111）表面，所述工作台（111）外侧设有支撑架（5），所述漏电保护测试组件（2）设置于所述支撑架（5）内侧。
7.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述老化测试柜（6）内壁顶部设有检测板（61），所述检测板（61）设置于所述承载板（62）顶部，所述检测板（61）表面设有多个传感器和摄像头，相邻两个所述老化测试柜（6）之间设有第一电磁门（64）。
8.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述老化测试柜（6）远离所述承载板（62）一内壁表面设有推动组件（8），所述推动组件（8）包括推板（81）和第二电动丝杆（82），所述推板（81）设置于所述传送面板（7）顶部，所述第二电动丝杆（82）用于驱动所述推板（81）移动。
9.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述老化测试柜（6）靠近所述承载板（62）一内壁贯穿设有出料口，出料口内设置有第二电磁阀，出料口外侧设有回传组件（9），所述回传组件（9）顶部设有回传带（91）。
10.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，多个所述老化测试柜（6）内的所述工作箱（63）内部分别设有紫外灯管（631）、第一加热室（632）和制冷室（633）以及加热座体（636）和输送杆（637）。
...【技术特征摘要】
1.一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述第一测试箱（11）和所述第二测试箱（12）外壁均设有进出口（13），所述支撑组件（3）设置于所述进出口（13）内侧。
3.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述漏电保护测试座（21）还包括漏电保护测试仪，漏电保护测试组件通过与插入腔连通。
4.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述支撑组件（3）还包括支撑板（302），所述支撑板（302）底部设置有第一支撑座（30），所述支撑板（302）设置于所述第一测试箱（11）内壁内侧，所述支撑板（302）外侧设置有滑动杆（301），所述电动夹爪（31）设置于所述支撑板（302）顶部，所述电动夹爪（31）顶部固定设有连接座（311），所述连接座（311）顶部设置有活动板（32），所述活动板（32）底部表面设有第一导向柱（33），所述连接座（311）内部设有滑槽且所述第一导向柱（33）贯穿滑槽设置。
5.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试及漏电保护测试装置，其特征在于，所述调节组件（4）外侧设有第一限位柱（41），所述调节组件（4）底部表面设有活动槽，活动槽内部贯穿设有第二导向柱（42），所述调节组件（4）内部设有多个第一电动丝杆（43），所述调节组件（4）顶部设有卡柱（45），所述卡柱（45）前侧固定设有第二限位柱（46），所述卡柱（45）后侧设有调节座（47），所述调节座（47）内部贯穿设有锁紧螺杆，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴天，赵艳宏，周俊双，曹健，陈宏，王佳赛，
申请(专利权)人：中检质技检验检测科学研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：
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