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光电器件及用于制造光电器件的方法技术

技术编号:40014601 阅读:30 留言:0更新日期:2024-01-16 15:48
本发明专利技术涉及基于GaN的发光二极管(1),所述基于GaN的发光二极管(1)包括:基于n‑GaN的电子注入区(10);基于p‑GaN的空穴注入区(11,11');有源区,所述有源区位于电子注入区(10)与空穴注入区(11,11')之间,所述有源区被配置成发射光辐射;氢阻挡层(12),所述发光二极管(1)的特征在于,所述空穴注入区(11,11')包括至少一个活化部分(11')和至少一个非活化部分(11”),使得所述活化部分(11)具有为所述非活化部分(11”)的受体浓度的至少十倍大的受体浓度,并且所述至少一个非活化部分(11”)位于在电子注入区(10)与氢阻挡层(12)之间,使得所述氢阻挡层(12)阻止氢从非活化部分(11”)释放。本发明专利技术还涉及一种用于制造这种LED的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及光电领域。发现在光电器件例如基于gan纳米线的发光二极管的制造中具有特别有利的应用。


技术介绍

1、通常,基于gan的发光二极管(led)包括载流子(电子或空穴)注入区,有源区置于载流子(电子或空穴)注入区之间。

2、有源区是电子-空穴对发生辐射重组从而允许获得光发射的位置。该有源区位于pn结处。它包括量子阱,例如基于ingan的量子阱。

3、载流子注入区允许在有源区处传输和注入电流。对于某些应用,特别是对于显示技术,优选的是减少led中的注入电流。为了保持有效的操作和足够的辐射率,可能有必要对这些载流子注入区进行改进。

4、通常,空穴注入区是基于p-gan的。在空穴注入区的形成期间,空穴注入区最初包含被吸收的氢中和的一定浓度的杂质,例如镁mg。这些“电非活性”杂质必须被活化以形成受体位点。因此,为了具有有效的p型导电性,需要对空穴注入区施加活化步骤。通常,该活化步骤是通过热退火完成的。在退火过程中,中和杂质的氢被释放,然后杂质形成“活性”受体位点。这些受体位点的浓度(称为受体浓度)取决于活化步骤的有效性。本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于GaN的发光二极管(1),所述基于GaN的发光二极管(1)包括:

2.根据前一权利要求所述的发光二极管(1),其中,所述氢阻挡层(12)覆盖所述空穴注入区(11)的仅所述至少一个非活化部分(11”)。

3.根据前述权利要求中任一项所述的发光二极管(1),所述发光二极管(1)包括所谓的氢储存层(15),所述氢储存层(15)置于所述氢阻挡层(12)与所述非活化部分(11”)之间,所述氢储存层(15)被配置成:至少在所述活化部分(11')的活化期间,在所述非活化部分(11”)内提供氢补充。

4.根据前一权利要求所述的发光二极管(1),其中,所述氢...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种基于gan的发光二极管(1),所述基于gan的发光二极管(1)包括:

2.根据前一权利要求所述的发光二极管(1),其中,所述氢阻挡层(12)覆盖所述空穴注入区(11)的仅所述至少一个非活化部分(11”)。

3.根据前述权利要求中任一项所述的发光二极管(1),所述发光二极管(1)包括所谓的氢储存层(15),所述氢储存层(15)置于所述氢阻挡层(12)与所述非活化部分(11”)之间,所述氢储存层(15)被配置成:至少在所述活化部分(11')的活化期间,在所述非活化部分(11”)内提供氢补充。

4.根据前一权利要求所述的发光二极管(1),其中,所述氢储存层(15)是基于氮化硅的,并且所述氢储存层(15)具有包含在0.1%至20%之间的氢原子浓度。

5.根据权利要求1至2中任一项所述的发光二极管(1),其中,所述氢阻挡层(12)与所述至少一个非活化部分(11”)直接地接触。

6.根据前述权利要求中任一项所述的发光二极管(1),其中,所述非活化部分(11”)具有比所述活化部分(11')的缺陷水平大的缺陷水平。

7.根据前述权利要求中任一项所述的发光二极管(1),所述发光二极管(1)还包括钝化层(13),所述钝化层(13)以与所述氢阻挡层(12)接触的方式延伸。

8.根据前述权利要求中任一项所述的发光二极管(1),其中,所述有源区(101)位于所述空穴注入区(11)与所述电子注入区(10)之间的pn结内。

9.根据前述权利要求中任一项所述的发光二极管(1),其中,所述氢阻挡层(12)是基于aln、n-gan、n-algan中的至少一者的。

10.根据前述权利要求中任一项所述的发光二极管(1),其中,所述电子注入区(10)和所述空穴注入区(11)沿基平面(xy)延伸,并且其中,所述氢阻挡层(12)具有至少一个开口,所述至少一个开口被配置成使所述空穴注入区(11)的所述活化部分(11')暴露。

11.根据前述权利要求中任一项所述的发光二极管(1),其中,所述电子注入区(10)沿着纵向方向(z)以线的形式纵向地延伸,并且所述空穴注入区(11)围绕所述电子注入区(10)径向地延伸,使得所述二极管(1)具有所谓的芯壳架构,并且其中,所述氢阻挡层(12)围绕所述非活化部分(11”)以环的形式径向地延伸。

12.根据前一权利要求所述的发光二极管(1),其中,具...

【专利技术属性】
技术研发人员:皮埃尔·楚尔菲安伯努瓦·阿姆施塔特蒂莫泰·拉西亚约恩·马利耶
申请(专利权)人:艾利迪公司
类型:发明
国别省市:

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