一种芯片输入电压检测装置制造方法及图纸

技术编号:40012061 阅读:5 留言:0更新日期:2024-01-16 15:25
本技术实施例提供一种芯片输入电压检测装置,属于芯片领域。第一芯片通过第一端口发送调节电压的第一控制信号;至少一个可调电压模块,可调电压模块接收第一芯片的第一控制信号后,调节电压至第一预设值,并输出调节后的电压;第二芯片,在待测芯片接收到调节后的电压后,通过第四端口向第一芯片发送第一反馈信号,第一反馈信号包括待测芯片的数据转换情况;以及第一芯片在发生数据转换时,记录符合预设值的输出电压。本申请所公开的一种芯片输入电压检测装置,通过芯片及电压调节模块的组合,在直接就能完成芯片输入电压测试功能的同时,也使芯片输入电压检测装置的使用更加方便,降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片,具体地涉及一种芯片输入电压检测装置


技术介绍

1、asic(application specific integrated circuit,专用集成电路)是指应特定用户要求和特定电子系统的需要而设计和制造的集成电路,asic面向特定用户的需求,与通用集成电路相比,asic在批量生产时具有体积更小、功耗更低、可靠性提高、性能提高、保密性增强和成本降低的特点。

2、随着asic芯片的发展,需要高效、准确和实用的芯片检测方法,可以快速和准确的判定一个新设计的芯片是否满足设计预期,目前市场上有很多通用型的芯片测试仪器,测试功能准确,功能多样性,但是价格比较昂贵,并且通用型的芯片测试仪器还需要再设计配套的evb(evaluationboard,测试板)测试设备,才能实现测试功能。


技术实现思路

1、本技术实施例的目的是提供一种芯片输入电压检测装置,该设备是为了解决现有技术中存在的芯片测试仪器使用不便,价格昂贵的问题。

2、为了实现上述目的,本技术实施例提供一种芯片输入电压检测装置,包括:第一芯片,其包括第一端口,并通过第一端口发送调节电压的第一控制信号至可调电压模块;至少一个可调电压模块,所述可调电压模块包括第一端口和第二端口,其通过第二端口接收第一芯片的第一控制信号后,调节电压至第一预设值,并通过第三端口输出调节后的电压至待测芯片;第二芯片,其包括第一端口,在待测芯片接收到调节后的电压后,通过第四端口向第一芯片发送第一反馈信号,所述第一反馈信号包括待测芯片的数据转换情况;以及第一芯片还包括处理器,发生数据转换时,所述处理器记录符合预设值的输出电压。

3、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,还包括至少一种开关电路,每种开关电路包括至少一路开关电路,所述开关电路一端与可调电压模块连接,另一端与待测芯片的输入端口连接。

4、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,还包括一种开关电路对应一个可调电压模块。

5、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,所述第一芯片还包括第五端口,所述第一芯片通过第五端口发送控制开关电路开或闭的第三控制信号。

6、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,所述第一反馈信号包括电流数据,所述电流数据是在待测芯片接收到调节后的电压后,第二芯片在待测芯片的io接口监测到的电流数据。

7、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,所述可调电压模块包括主控子模块和电压调节子模块,其中,电压调节子模块与主控子模块电连接,在主控子模块接收第一芯片的第一控制信号后,电压调节子模块调节电压至第一预设值,并输出调节后的电压到待测芯片。

8、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,所述电压调节子模块包括依次连接的增益子子模块、补偿子子模块、寄存器、转换电路,设定输出电压子子模块、电压输出子子模块、以及电压采样子子模块,其中电压采样子子模块还与所述主控子模块连接。

9、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,所述增益子子模块和补偿子子模块包括补偿修正从主控子模块接收到的有关输出电压的数据。

10、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,还包括将增益子子模块和补偿子子模块补偿修正的输出电压数据,写入到寄存器。

11、可选地,如上所述的一种芯片输入电压检测装置,还包括转换电路基于参考基准电压将输出电压数据转换为模拟信号的输出电压。

12、通过上述技术方案,本申请所公开的一种芯片输入电压检测装置,通过芯片及电压调节模块的组合,在直接就能完成芯片输入电压测试功能的同时,也使芯片输入电压检测装置的使用更加方便,降低了测试成本。

13、本技术实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,还包括至少一种开关电路,每种开关电路包括至少一路开关电路,所述开关电路一端与可调电压模块连接,另一端与待测芯片的输入端口连接。

3.根据权利要求2所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,还包括一种开关电路对应一个可调电压模块。

4.根据权利要求3所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,所述第一芯片还包括第五端口,所述第一芯片通过第第五端口发送控制开关电路开或闭的第三控制信号。

5.根据权利要求1所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,所述第一反馈信号包括电流数据,所述电流数据是在待测芯片接收到调节后的电压后,第二芯片在待测芯片的IO接口监测到的电流数据。

6.根据权利要求1所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,所述可调电压模块包括主控子模块和电压调节子模块,其中,

7.根据权利要求6所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,所述电压调节子模块包括依次连接的增益子子模块、补偿子子模块、寄存器、转换电路,设定输出电压子子模块、电压输出子子模块、以及电压采样子子模块,其中电压采样子子模块还与所述主控子模块连接。

8.根据权利要求7所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,所述增益子子模块和补偿子子模块包括补偿修正从主控子模块接收到的有关输出电压的数据。

9.根据权利要求8所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,还包括将增益子子模块和补偿子子模块补偿修正的输出电压数据,写入到寄存器。

10.根据权利要求7所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,还包括,转换电路基于参考基准电压将输出电压数据转换为模拟信号的输出电压。

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【技术特征摘要】

1.一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,还包括至少一种开关电路,每种开关电路包括至少一路开关电路,所述开关电路一端与可调电压模块连接,另一端与待测芯片的输入端口连接。

3.根据权利要求2所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,还包括一种开关电路对应一个可调电压模块。

4.根据权利要求3所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,所述第一芯片还包括第五端口,所述第一芯片通过第第五端口发送控制开关电路开或闭的第三控制信号。

5.根据权利要求1所述的一种芯片输入电压检测装置,其特征在于,所述第一反馈信号包括电流数据,所述电流数据是在待测芯片接收到调节后的电压后,第二芯片在待测芯片的io接口监测到的电流数据。

6.根据权利要求1所述的一种芯片输入电压检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘喜峰张超王兆盛郭建璞
申请(专利权)人:声龙新加坡私人有限公司
类型:新型
国别省市:

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