【技术实现步骤摘要】
所属的技术人员知道，本专利技术可以实现为系统、方法或计算机程序产品，因此，本公开可以具体实现为以下形式，即：可以是完全的硬件、也可以是完全的软件(包括固件、驻留软件、微代码等)，还可以是硬件和软件结合的形式，本文一般称为“电路”、“模块”或“系统”。此外，在一些实施例中，本专利技术还可以实现为在一个或多个计算机可读介质中的计算机程序产品的形式，该计算机可读介质中包含计算机可读的程序代码。可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是一一但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。尽管上面已经示出和描述了本专利技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本专利技术的限制，本领域的普通技术人员在本专利技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
技术介绍
1、硬件工程师使用仪器单个模块逐个测试。在现有测试过程中，测试繁琐、费时费力、不直观以及数据难以记录分析等
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，具体针对测试繁琐以及费时费力等问题，具体提供了一种移频设备测试方法、系统、设备及介质，具体如下：
2、1)第一方面，本专利技术提供一种移频设备测试方法，具体技术方案如下：
3、s1，基于待测设备的测试项目，确定测试参数以及测试参数对应的范围；
4、s2，对经待测设备处理后的信号进行超标分析，得到分析结果；
5、s3，基于所述分析结果以及测试参数对应的范围，判断所述待测设备是否存在异常。
6、本专利技术提供的一种移频设备测试方法的有益效果如下：
7、通过预先确定测试参数对应的范围来为后续提供更加精确的判断依据，另外，通过预先确定待测设备的测试项目一方面可以针对性的进行测试另一方面也提升了测试的广泛性。
8、在上述方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进。
9、进一步，所述测试参数包括：噪声、杂散、平坦度以及增益。
10、进一步，还包括：
11、s4，获取所述信号经过待测设备处理后的功率，并通过该功率计算校正值，基于所述校正值对所述待测设备进行校正。
12、进一步，所述s1还包括：
13、基于所述待测设备的测试项目，在预设映射表中搜索与所述测试项目对应的测试流程，基于测试流程执行s2至s3。
14、2)第二方面，本专利技术还提供一种移频设备测试系统，具体技术方案如下：
15、确定模块用于：基于待测设备的测试项目，确定测试参数以及测试参数对应的范围；
16、分析模块用于：对经待测设备处理后的信号进行超标分析，得到分析结果；
17、判断模块用于：基于所述分析结果以及测试参数对应的范围，判断所述待测设备是否存在异常。
18、在上述方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进。
19、进一步，所述测试参数包括：噪声、杂散、平坦度以及增益。
20、进一步，还包括：
21、校正模块用于：获取所述信号经过待测设备处理后的功率，并通过该功率计算校正值，基于所述校正值对所述待测设备进行校正。
22、进一步，所述确定模块还用于：
23、基于所述待测设备的测试项目，在预设映射表中搜索与所述测试项目对应的测试流程，通过所述分析模块以及所述判断模块按照所述测试流程进行测试处理。
24、3)第三方面，本专利技术还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器，所述处理器与存储器耦合，所述存储器中存储有至少一条计算机程序，所述至少一条计算机程序由所述处理器加载并执行，以使所述计算机设备实现如上任一项权利要求所述的一种移频设备测试方法。
25、4)第四方面，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有至少一条计算机程序，所述至少一条计算机程序由处理器加载并执行，以使计算机实现如上任一项权利要求所述的一种移频设备测试方法。
26、需要说明的是，本专利技术的第二方面至第四方面的技术方案及对应的可能的实现方式所取得的有益效果，可以参见上述对第一方面及其对应的可能的实现方式的技术效果，此处不再赘述。
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1.一种移频设备测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种移频设备测试方法，其特征在于，所述测试参数包括：噪声、杂散、平坦度以及增益。
3.根据权利要求1所述的一种移频设备测试方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1所述的一种移频设备测试方法，其特征在于，所述S1还包括：
5.一种移频设备测试系统，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的一种移频设备测试系统，其特征在于，所述测试参数包括：噪声、杂散、平坦度以及增益。
7.根据权利要求5所述的一种移频设备测试系统，其特征在于，还包括：
8.根据权利要求5所述的一种移频设备测试系统，其特征在于，所述确定模块还用于：
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器，所述处理器与存储器耦合，所述存储器中存储有至少一条计算机程序，所述至少一条计算机程序由所述处理器加载并执行，以使所述计算机设备实现如权利要求1至4任一项权利要求所述的一种移频设备测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，
...【技术特征摘要】
1.一种移频设备测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种移频设备测试方法，其特征在于，所述测试参数包括：噪声、杂散、平坦度以及增益。
3.根据权利要求1所述的一种移频设备测试方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1所述的一种移频设备测试方法，其特征在于，所述s1还包括：
5.一种移频设备测试系统，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的一种移频设备测试系统，其特征在于，所述测试参数包括：噪声、杂散、平坦度以及增益。
7.根据权利要求5所述的一种移频设备测试系统，其特征在于，还...
【专利技术属性】
技术研发人员：王永军，刘威，
申请(专利权)人：北京唯得科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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