【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于空间可见光探测领域，具体涉及一种高分辨率图像下地基光的判断与消除方法。
技术介绍
1、空间目标表面接受到的空间辐射能量主要来源于太阳的直接辐射、地球大气辐射和地球表面反射，在可见光和近红外波段以太阳的直接辐射和地球表面的反射为主。在可见光波段，空间目标均为非自发辐射物体，主要是靠反射太阳光产生亮度。太阳光照射到地球表面时，能量分为吸收、镜面反射和漫反射三部分进行传递。其中被吸收的能量以红外波方式重新辐射到空间，镜面反射发生在具有反射表面的地方，由于能接收到的这部分能量很少，因此这两项可以忽略，而漫反射能量较多，使得光照图像不均匀显示，通常将上述地面光漫射的影响简称为地基光影响。
2、对空间目标进行观测时，目前地基光影响表现为不均匀光照对整体成像的影响，受影响侧图像的灰度值上升，部分图像信息被淹没于地基光中，这对后续阈值分割与目标提取非常不利，因此判断有无地基光的影响并设法消除成为空间可见光探测普遍关注的重点问题。地基光的影响问题实际上属于图像非均匀光照问题的一种特殊情况，属于图像预处理中背景抑制的范畴。若是处于...
【技术保护点】
1.一种高分辨率图像下地基光的判断与消除方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种高分辨率图像下地基光的判断与消除方法，其特征在于：步骤1中，对输入的可见光高分辨率图像f，图像分辨率至少为1280×720，按照行将图像平均分为f1、f2、f3、f4四个区域，并计算各区域的亮度总和。
3.根据权利要求2所述的一种高分辨率图像下地基光的判断与消除方法，其特征在于，步骤2中，计算地基光判断因子kjuge，kjuge＝k1·k2，若大于0则表明存在地基光，包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的一种高分辨率图像下地基光的...
【技术特征摘要】
1.一种高分辨率图像下地基光的判断与消除方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种高分辨率图像下地基光的判断与消除方法，其特征在于：步骤1中，对输入的可见光高分辨率图像f，图像分辨率至少为1280×720，按照行将图像平均分为f1、f2、f3、f4四个区域，并计算各区域的亮度总和。
3.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：张倩，陶远荣，林晓俊，田杰，成颖，胡曦，佟岐，张琨，张棋，程亦涵，
申请(专利权)人：中国航天科工集团八五一一研究所，
类型：发明
国别省市：
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