一种存储芯片自动化测试系统及分选装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片测试领域，具体为一种存储芯片自动化测试系统及分选装置，其包括存储芯片、底板、外桶体、内筒体和夹具块；外桶体设置在底板上；内筒体转动设置在外桶体底部内壁上，外桶体底部设置动力组件，内筒体外周壁上设置支撑环；夹具块滑动设置在支撑环上，存储芯片设置在夹具块上；外桶体内壁上设置测试组件；出料口上转动设置出料挡板，外桶体底部内壁上设置推料组件，推料组件用来将测试不合格的存储芯片对应的夹具块通过出料口推出；底板上设置控制系统。本发明专利技术对设备的定位精度没有较高要求，且整体生产连续性好，生产效率高。另外能完成不合格件的分选存放。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试，尤其涉及一种存储芯片自动化测试系统及分选装置。

技术介绍

1、存储芯片能够快速实现把各项存储功能都整合到一个单一芯片上，保证优化后系统的高性能，此优势将会使存储芯片逐步被视为在线存储、近线存储和异地容灾的理想技术平台。芯片生产结束需要进行性能测试。

2、授权公告号为cn114226268a的中国专利公开了一种存储芯片自动化测试系统及分选装置,不但可以实现对存储芯片的全自动化测试还可以实现对存储芯片测试结果的自动化分选,而且本专利技术中的上料、测试、分选、下料，每个环节都是自动化操作，所以本专利技术不但大大提高了存储芯片的测试效率而且还大大节约了人工成本。

3、但是上述已公开方案存在如下不足之处：芯片的位置转移通过通过抓取机构进行，首先对位置精度要求较高，另外，抓取机构来回移动需要、定位抓取需要较多时间，影响芯片测试效率。

技术实现思路

1、本专利技术目的是针对
技术介绍
中存在的芯片定位要求高且抓取耗时较多影响测试效率的问题，提出一种存储芯片自动化测试系统及分选装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储芯片自动化测试系统，包括存储芯片(10)；其特征在于，还包括底板(1)、外桶体(3)、内筒体(4)和夹具块(8)；

2.根据权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于，支撑环(6)上端面沿外桶体(3)直径方向设置多组滑槽，滑槽在支撑环(6)外周面上形成开口，夹具块(8)底部设置多组滑板(7)，滑板(7)配合插入滑槽内。

3.根据权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于，夹具块(8)上设置多组手动夹具(9)，手动夹具(9)夹紧存储芯片(10)。

4.根据权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于，动力组件包括电机a(...

【技术特征摘要】

1.一种存储芯片自动化测试系统，包括存储芯片(10)；其特征在于，还包括底板(1)、外桶体(3)、内筒体(4)和夹具块(8)；

2.根据权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于，支撑环(6)上端面沿外桶体(3)直径方向设置多组滑槽，滑槽在支撑环(6)外周面上形成开口，夹具块(8)底部设置多组滑板(7)，滑板(7)配合插入滑槽内。

3.根据权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于，夹具块(8)上设置多组手动夹具(9)，手动夹具(9)夹紧存储芯片(10)。

4.根据权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于，动力组件包括电机a(5)、齿轮和环形齿圈；电机a(5)设置在外桶体(3)底部外壁上，电机a(5)的输出轴伸入内筒体(4)内；齿轮设置在电机a(5)的输出轴上，环形齿圈设置在内筒体(4)内周壁上，环形齿圈和齿轮啮合。

5.根据权利要求1所述的存储芯片自动化测试系统，其特征在于，推料组件包括弹性压板(13)、固定板(14)、伸缩装置(15)、支撑板(16)和推杆(17)；弹性压板(13)设置在外桶体(3)外壁上，弹性压板(13)与出料挡板(12)顶部外壁接触；固定板(14)设置在外桶体(3)底部内壁上，伸缩装置(15)水平设置在固定板(14)上，伸缩装置(15)的伸缩端朝向出料口，伸缩装置(15)的伸缩端与支撑板(16)连接，支撑板(16)位于内筒体(4)上方且位于内筒体(4)内周面内侧；推杆(17)水平设置在支撑板(16)朝向出料挡板(12)的端面上，推料时，推杆(17)先与出料挡板(12)接触将出料挡板(12)...

【专利技术属性】
技术研发人员：李芳，
申请(专利权)人：安徽中科天辰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：