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本发明涉及芯片测试领域，具体为一种存储芯片自动化测试系统及分选装置，其包括存储芯片、底板、外桶体、内筒体和夹具块；外桶体设置在底板上；内筒体转动设置在外桶体底部内壁上，外桶体底部设置动力组件，内筒体外周壁上设置支撑环；夹具块滑动设置在支撑环...
该专利属于安徽中科天辰科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽中科天辰科技有限公司授权不得商用。

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