【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶圆放置设备,尤其涉及一种晶圆承载结构。
技术介绍
1、晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅,高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的单晶硅,硅晶棒在经过研磨,抛光,切片后,形成硅晶圆片,也就是晶圆,而晶圆在进行灰化处理时,是将晶圆放置到承载台上,然后通过氧气、氩气等离子对晶圆表面进行灰化处理,已去除底膜。
2、以公开号为cn217468378u所示的一种半导体晶圆承载定位装置,包括,承载座,所述承载座上对称设置有两个共线的第一长槽、两个共线的第二长槽,所述第一长槽垂直于第二长槽,夹持组件,包括设置在承载座上的两个平行的夹板,所述夹板设置有连接轴,所述连接轴嵌入所述第一长槽内;还包括对称设置的夹块,所述夹块一端嵌入第二长槽内。
3、在上述装置中,通过两个夹块以及两个夹板之间形成夹持空间,对晶圆进行夹持放置,从而便于进行灰化处理;
4、但是该夹持放置装置其一次只能对一片晶圆进行夹持,其无法根据使用需求同时对多片晶圆进行夹持放置,从而降低了对晶圆的灰化处理效
【技术保护点】
1.一种晶圆承载结构,包括底座(1),其特征在于:
2.根据权利要求1所述的一种晶圆承载结构,其特征在于:所述固定杆(23)与支撑杆(16)的一侧相连接,所述第二挤压球(25)与第一挤压球(19)的表面相接触。
3.根据权利要求1所述的一种晶圆承载结构,其特征在于:所述连接块(6)与底座(1)的内部底端之间为滑动连接,所述蜗杆(13)与蜗轮(5)的边面相连接。
4.根据权利要求1所述的一种晶圆承载结构,其特征在于:所述挡板(14)表面的凹槽(15)位于第二卡槽(10)的正上方,所述隔板(17)与凹槽(15)的内壁为活动连接。
【技术特征摘要】
1.一种晶圆承载结构,包括底座(1),其特征在于:
2.根据权利要求1所述的一种晶圆承载结构,其特征在于:所述固定杆(23)与支撑杆(16)的一侧相连接,所述第二挤压球(25)与第一挤压球(19)的表面相接触。
3.根据权利要求1所述的一种晶圆承载结构,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:丁波,李铁,陈瀚,侯金松,杭海燕,谷卫东,
申请(专利权)人:上海微世半导体有限公司,
类型:新型
国别省市:
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