TDC装置、测距装置以及校正方法制造方法及图纸

TDC装置(101)具备：TDC电路(1)，具有延迟电路及多个存储元件，所述延迟电路包括使测量信号依次延迟的多级延迟元件，所述多个存储元件与多级延迟元件对应地设置，并响应于所输入的测量时钟而保持多级延迟元件的输出；边缘检测部(2)，基于多个存储元件的输出的切换，对检测出测量信号的至少上升沿的延迟元件的检测级进行检测；以及延迟量校正部(4)，通过将与延迟元件的检测级和多个延迟元件的延迟量相关的延迟变换表中的检测级所对应的延迟量和校正延迟量相加相减，从而输出校正了延迟量的测量信号的延迟时间。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及tdc装置、测距装置以及校正方法。

技术介绍

1、在测定到对象物为止的距离的测距装置中，为了检测从照射了光的时刻到接收了反射光的时刻为止的光的飞行时间，使用tdc(time to digital converter：时间数字转换器)电路。tdc电路是将时间信息数字化的电路。该tdc电路大多采用的是使用延迟元件和触发器的方式。在该tdc电路中，延迟元件的延迟量根据半导体装置的制造条件、或者动作中的温度变化(所谓的pvt(process voltage temperature)变动)等而变动。若延迟元件的延迟量变动，则影响会波及到tdc电路中的测定精度。因而，在测距装置中，在不进行距离测定动作的定时，进行校准动作，即向tdc电路输入校准信号，来推断tdc电路的各延迟元件所具备的延迟量。

2、在专利文献1中公开了以下方法，校正延迟元件的延迟时间的偏差，以使得针对pvt变动正常地动作。专利文献1所述的方法是在对延迟元件所涉及的偏置的电流量进行调整的同时、使之成为作为目标的延迟时间的方法。

3、在先技术文献</p>

4、专利本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种TDC装置，具备：

2.根据权利要求1所述的TDC装置，其中，

3.根据权利要求2所述的TDC装置，其中，

4.根据权利要求3所述的TDC装置，其中，

5.一种测距装置，具备：

6.根据权利要求5所述的测距装置，其中，

7.一种校正方法，是具备TDC电路的TDC装置中的校正方法，所述TDC电路具有：包括使测量信号依次延迟的多级延迟元件的延迟电路；以及与所述多级延迟元件对应地设置，并响应于所输入的测量时钟而保持所述多级延迟元件的输出的多个存储元件，在所述校正方法中，

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种tdc装置，具备：

2.根据权利要求1所述的tdc装置，其中，

3.根据权利要求2所述的tdc装置，其中，

4.根据权利要求3所述的tdc装置，其中，

5.一种测距装置，具备：

6.根据权利要求5所述的测距...

【专利技术属性】
技术研发人员：安田国弘，上谷敏宽，
申请(专利权)人：北阳电机株式会社，
类型：发明
国别省市：