一种测试电路、存储芯片及模组设备制造技术

技术编号:39939490 阅读:20 留言:0更新日期:2024-01-08 22:26
本发明专利技术公开了一种测试电路、存储芯片及模组设备。测试电路包括:比较器、调压单元、阻值可调单元和测试端口,测试端口用于外接测试电阻;阻值可调单元与测试端口连接;比较器的第一输入端与测试端口连接,用于获取测试端口处的检测电压;比较器的第二输入端接收标准电压,以通过比较检测电压和标准电压测试测试电阻的连接有效性;调压单元与比较器的输入端连接,用于增加测试端口处的压降与标准电压的偏离量。以提供一种准确检测连接有效性的方案。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子,尤其涉及一种测试电路、存储芯片及模组设备


技术介绍

1、离线驱动调整单元可用于存储器的输入输出接口,而离线驱动调整单元在校准前需要外接测试电阻来获得精确的电阻值,以能在进行读操作或写操作时充当片上电阻使用。而测试电阻必须与测试端口可靠连接才能保证后续校准的实施,故外接测试电阻的连接有效性也是检测过程中重要的一项。

2、然而,当前对外接测试电阻的连接有效性检测,受检测电路的工艺参数变化的影响容易出现检测错误,因而急需能提高外接测试电阻的连接有效性检测准确度的方案。


技术实现思路

1、鉴于上述问题,提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的测试电路、存储芯片及模组设备。

2、第一方面,提供一种测试电路,包括:

3、比较器、调压单元、阻值可调单元和测试端口,所述测试端口用于外接测试电阻;

4、所述阻值可调单元与所述测试端口连接,以连接所述测试电阻;所述比较器的第一输入端与所述测试端口连接,用于获取所述测试端口处的检测电压本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试电路,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于:

3.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于:

4.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于:

5.如权利要求4所述的测试电路,其特征在于:

6.如权利要求5所述的测试电路,其特征在于:

7.如权利要求6所述的测试电路,其特征在于,所述调压单元包括:

8.一种存储芯片,其特征在于,包括权利要求1~7任一所述的测试电路。

9.如权利要求8所述的存储芯片,其特征在于:

10.一种模组设备,其特征在于,所述模...

【技术特征摘要】

1.一种测试电路,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于:

3.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于:

4.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于:

5.如权利要求4所述的测试电路,其特征在于:

6.如权利要求5所述的测试电路,其特征在于:

7.如权利要求6所述的测试电路,其特征在于,所述调压单元包括:

8....

【专利技术属性】
技术研发人员:彭雨程贾雪绒
申请(专利权)人:西安紫光国芯半导体股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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