【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子，尤其涉及一种测试电路、存储芯片及模组设备。
技术介绍
1、离线驱动调整单元可用于存储器的输入输出接口，而离线驱动调整单元在校准前需要外接测试电阻来获得精确的电阻值，以能在进行读操作或写操作时充当片上电阻使用。而测试电阻必须与测试端口可靠连接才能保证后续校准的实施，故外接测试电阻的连接有效性也是检测过程中重要的一项。
2、然而，当前对外接测试电阻的连接有效性检测，受检测电路的工艺参数变化的影响容易出现检测错误，因而急需能提高外接测试电阻的连接有效性检测准确度的方案。
技术实现思路
1、鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的测试电路、存储芯片及模组设备。
2、第一方面，提供一种测试电路，包括：
3、比较器、调压单元、阻值可调单元和测试端口，所述测试端口用于外接测试电阻；
4、所述阻值可调单元与所述测试端口连接，以连接所述测试电阻；所述比较器的第一输入端与所述测试端口连接，用于获取所述测试端口处的检测电压；所述比较器的第二输入端接收标准电压，以通过比较所述检测电压和所述标准电压测试所述测试电阻的连接有效性；
5、其中，所述调压单元与所述比较器的输入端连接，用于增加所述测试端口处的压降与所述标准电压的偏离量。
6、可选的，所述调压单元与所述第一输入端连接，并与所述阻值可调单元并联，以在所述阻值可调单元处于最小阻值时，减小所述阻值可调单元的分压，增加所述测试
7、可选的，所述调压单元的阻值可调，其中，在测试所述测试电阻的连接有效性的过程中，所述调压单元与所述阻值可调单元的电阻值同步调节。
8、可选的，所述调压单元与所述第二输入端连接，为所述第二输入端提供所述标准电压；其中，在调节所述阻值可调单元以拉高所述测试端口的压降时，所述调压单元输出第一标准电压，在调节所述阻值可调单元以降低所述测试端口的压降时，所述调压单元输出第二标准电压；所述第一标准电压小于所述第二标准电压。
9、可选的，所述测试电阻连接在电源电压与所述测试端口之间，所述阻值可调单元连接在地电压与所述测试端口之间；其中，在所述阻值可调单元处于最大阻值时，所述调压单元输出第一标准电压，在所述阻值可调单元处于最小阻值时，所述调压单元输出第二标准电压；或者，所述测试电阻连接在地电压与所述测试端口之间，所述阻值可调单元连接在电源电压与所述测试端口之间；其中，在所述阻值可调单元处于最大阻值时，所述调压单元输出第二标准电压，在所述阻值可调单元处于最小阻值时，所述调压单元输出第一标准电压。
10、可选的，所述第一标准电压大于所述地电压，且小于所述电源电压的三分之一；所述第二标准电压大于所述电源电压的三分之二，且小于所述电源电压。
11、可选的，所述调压单元包括：第一供电端、第二供电端和串联在所述地电压和所述电源电压之间的n个调压电阻，n为大于2的正整数；所述第一供电端与所述地电压之间间隔一个所述调压电阻，所述第一供电端用于输出所述第一标准电压；所述第二供电端与所述电源电压之间间隔一个所述调压电阻，所述第二供电端用于输出所述第二标准电压。
12、第二方面，提供一种存储芯片，包括第一方面任一所述的测试电路。
13、可选的，所述存储芯片为双倍速率同步动态随机存储器芯片，所述存储芯片还包括：离线驱动调整单元，其中，所述测试电阻为对所述离线驱动调整单元进行校准时的参考电阻，其中，在每次对所述离线驱动调整单元进行校准前，测试所述测试电阻的连接有效性；或者，所述存储芯片为高带宽内存芯片，所述存储芯片还包括：离线驱动调整单元和参考电阻，其中，所述测试电阻用于校准所述参考电阻的阻值，其中，在封装所述存储芯片前，测试所述测试电阻的连接有效性，并通过所述测试电阻校准所述参考电阻的阻值，所述参考电阻用于对所述离线驱动调整单元进行校准。
14、第三方面，提供一种模组设备，所述模组设备包括通信模组、电源模组和存储模组，其中：所述电源模组用于为所述模组设备提供电能；所述存储模组用于存储数据和指令；所述通信模组用于进行模组设备内部通信，或者用于所述模组设备与外部设备进行通信；所述存储模组包括第二方面所述的存储芯片。
15、本专利技术实施例中提供的技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
16、本专利技术实施例提供的测试电路、存储芯片及模组设备，设置测试电路包括比较器、调压单元、阻值可调单元和测试端口，阻值可调单元与测试端口连接，以连接外接的测试电阻。设置比较器的第一输入端与测试端口连接，用于获取测试端口处的检测电压，比较器的第二输入端接收标准电压，这样通过比较检测电压和标准电压就能确定测试电阻的连接有效性。为了避免检测电路的工艺参数变化导致出现检测错误，还设置调压单元与比较器的输入端连接，用于增加测试端口处的压降与标准电压的偏离量，由于增加了两个电压的偏离量故工艺参数变化导致的检测电压和标准电压的波动就不会对两个电压的比较结果产生影响，从而使得对测试电阻的连接有效性的检测更准确。
17、上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
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1.一种测试电路，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于：
3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于：
4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于：
5.如权利要求4所述的测试电路，其特征在于：
6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于：
7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述调压单元包括：
8.一种存储芯片，其特征在于，包括权利要求1～7任一所述的测试电路。
9.如权利要求8所述的存储芯片，其特征在于：
10.一种模组设备，其特征在于，所述模组设备包括通信模组、电源模组和存储模组，其中：所述电源模组用于为所述模组设备提供电能；所述存储模组用于存储数据和指令；所述通信模组用于进行模组设备内部通信，或者用于所述模组设备与外部设备进行通信；所述存储模组包括权利要求8-9任一所述的存储芯片。
【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于：
3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于：
4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于：
5.如权利要求4所述的测试电路，其特征在于：
6.如权利要求5所述的测试电路，其特征在于：
7.如权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述调压单元包括：
8....
【专利技术属性】
技术研发人员：彭雨程，贾雪绒，
申请(专利权)人：西安紫光国芯半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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