【技术实现步骤摘要】
晶圆用热处理设备
[0001]本技术涉及半导体加工设备
,尤其涉及一种晶圆用热处理设备
。
技术介绍
[0002]现有半导体加工的光刻工艺中,涂胶设备
、
光刻设备和显影设备分别完成光刻胶涂布工艺流程
、
光刻工艺流程以及显影工艺流程
。
随着半导体加工工艺水平的提升,市场主流将涂胶显影工艺流程集成在同一设备上,同时需要涂胶显影设备的产能大于光刻设备的产能,而涂胶显影设备的产能由工艺单元瓶颈产能和机器人瓶颈决定
。
现有的涂胶显影工艺设备,由片盒模块
、
穿墙单元
、
第一工艺模块
、
第二工艺模块和接口模块组成,其中,第一工艺模块或第二工艺模块内部均含有对晶圆进行加热工艺的热处理模块
。
但是现有的涂胶显影设备的结构复杂,晶圆从片盒模块到第一工艺模块或第二工艺模块需要经过多道工序,降低了晶圆的热加工效率,同时现有的涂胶显影设备的结构复杂,占地面积大,存在装配和运输难度大的问题,为此亟需一种体积小
、
设计灵活,以及装配和运输难度小的用于对晶圆进行热处理的设备
。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供一种晶圆用热处理设备,通过简化热处理设备的结构,使得设备能够达到占地面积
、
装配和运输难度小的效果;同时缩短了晶圆的加工的路径提高了产能
。
[0004]为实现上述目的,本技术提供了一种晶圆用热处理设备 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种晶圆用热处理设备,其特征在于,包括相连接的片盒模块和热盘模块,其中,所述片盒模块包括用于输送片盒的片盒机械手
、
用于放置所述片盒的片盒装载单元,以及从所述片盒内取出晶圆并输送到所述热盘模块内的晶圆机械手;所述热盘模块包括用于放置所述晶圆的晶圆放置位
、
用于对所述晶圆进行热处理和冷却处理的热处理单元和冷却单元,以及装载所述晶圆在所述晶圆放置位
、
所述热处理单元和所述冷却单元之间传输的热盘机械手
。2.
根据权利要求1所述的晶圆用热处理设备,其特征在于,所述热盘模块包括相对设置的第一工作区和第二工作区,所述热盘机械手设于所述第一工作区与所述第二工作区之间
。3.
根据权利要求2所述的晶圆用热处理设备,其特征在于,所述第一工作区与所述第二工作区内均设置有所述冷却单元
、
所述晶圆放置位和
N
个所述热处理单元,
N
为正整数,其中,
N
个所述热处理单元分为两部分,并在竖直方向上分别设于所述冷却单元和所述晶圆放置位的上下两侧
。4.
根据权利要求3所述的晶圆用热处理设备,其特征在于,
N
个所述热处理单元分为若干组,若干组所述热处理单元的处理温度呈梯度变化,以对所述晶圆进行不同温度的加工工艺处理
。5.
根据权利要求1至4中任一项所述的晶圆用热处理设备,其特征在于,所述热盘模块还包括用...
【专利技术属性】
技术研发人员:张朋,张建,曲征辉,
申请(专利权)人:沈阳芯源微电子设备股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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