一种芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试治具，解决了通过T形杆和橡胶块能够对芯片定位，但是需要依次拉动多个T形杆、方能放入芯片，不便于操作的技术问题；包括支架、平移板和两个夹板，支架一侧的顶部固定设有支撑板，支撑板的顶端通过螺栓固定安装有抱闸电机，抱闸电机的输出轴固定连接有轴套，支架的另一侧滑动连接有两个导柱，两个导柱的表面均套设有弹簧；本实用新型专利技术通过拉杆拉动两个导柱，能够使平移板压缩两个弹簧，可增加两个夹板之间的距离，便于将芯片放置两个夹板之间，通过松开拉杆，两个弹簧能够推动平移板反向运动，可缩短两个夹板之间的距离，两个夹板能够夹紧不同尺寸的芯片。能够夹紧不同尺寸的芯片。能够夹紧不同尺寸的芯片。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试治具


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试治具。

技术介绍

[0002]芯片是半导体元件产品的统称，电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路，另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，芯片是现代电子产品的核心构件，在生产芯片过程中，经常需要通过测试治具对其限位、进行测试活动；
[0003]根据中国专利授权公告号CN217513697U提供的“一种芯片生产测试用翻转治具”，通过T形杆和橡胶块能够对芯片定位，但是需要依次拉动多个T形杆、方能放入芯片，不便于操作，橡胶块与芯片之间的接触面积较小，难以保证芯片的稳定性，通过旋转轴承能够转动芯片、实现其翻转活动，但是需要手动操作，且不具有锁定功能，芯片经翻转后容易晃动。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种芯片测试治具，解决了通过T形杆和橡胶块能够对芯片定位，但是需要依次拉动多个T形杆、方能放入芯片，不便于操作的技术问题。
[0005]为解决上述技术问题，本技术提供的一种芯片测试治本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试治具，包括支架(1)、平移板(8)和两个夹板(11)，其特征在于：所述支架(1)一侧的顶部固定设有支撑板(2)，所述支撑板(2)的顶端通过螺栓固定安装有抱闸电机(3)，所述抱闸电机(3)的输出轴固定连接有轴套(4)，所述支架(1)的另一侧滑动连接有两个导柱(6)，两个所述导柱(6)的表面均套设有弹簧(7)，两个所述导柱(6)的一端均与平移板(8)的一侧固定连接，所述平移板(8)另一侧的中部和支架(1)一侧的顶部均通过轴承(9)转动连接有转轴(10)，两个所述转轴(10)的一端均固定设有夹板(11)，两个所述夹板(11)的一侧均开设有三角槽(12)，其中一个所述转轴(10)的一端贯穿支架(1)、并与轴套(4)卡合连接，所述平移板(8)底端的两侧均固定设有立杆(16)，两个所述立杆(16)的底端均设有牛眼轮(17)，两个所述牛眼轮(17)均与支架(1)底端的内壁滑动连接。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛亮，
申请(专利权)人：无锡贝杰机械科技有限公司，
类型：新型
国别省市：