一种半导体芯片批量检测机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种半导体芯片批量检测机构，包括支撑板，所述支撑板下表面的左右两侧均固定有支撑杆

【技术实现步骤摘要】
一种半导体芯片批量检测机构


[0001]本技术涉及检测机构
，具体为一种半导体芯片批量检测机构
。

技术介绍

[0002]电子芯片是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管
、
电阻
、
电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，半导体芯片在进行检测产品质量的时候需要用到检测机构
。
[0003]例如中国专利中
CN213210356U
公开了半导体芯片检测装置，包括工作台和检测装置，所述检测装置设于工作台台面上，所述的检测装置包括立柱
、
升降装置和检测平台，所述升降装置设于立柱上，所述检测平台设于工作台表面，所述升降装置包括电机
、
螺杆和移动板，所述电机的中心轴与螺杆底端连接，并带动螺杆上的移动板上下移动，所述移动板底面设有多个对称设置的探针组，所述探针组呈环形阵列方式固定安装在移动板底面；技术的检测装置结构简单，使用方便，检测时，能同时检测多个半导体芯片，提高了检测效率，降低检测成本，该专利中的检测装置虽然可以对多个半导体芯片进行检测，提升检测效率，但是该专利中检测装置未采用皮带传送装置将需要进行检测的半导体芯片进行批量传送并进行批量检测，其检测的效率相对较低，进而降低了其实用性
。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种半导体芯片批量检测机构，具备可以将半导体芯片进行批量检测提升检测效率等优点，解决了检测装置未采用皮带传送装置将需要进行检测的半导体芯片进行批量传送并进行批量检测，其检测的效率相对较低的问题
。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体芯片批量检测机构，包括支撑板，所述支撑板下表面的左右两侧均固定有支撑杆，左右侧所述支撑杆的正面与背面均固定有数量为两个的连接板，所述支撑板的上表面设有用以对半导体芯片进行批量检测的连接机构，左右侧所述连接板的外侧设有用以对检测机构进行调节其水平高度便于进行操作检测机构的调节机构；
[0006]所述连接机构包括固定在支撑板上表面的皮带传送装置，所述支撑板正面与背面且位于皮带传送装置的外侧通过螺栓固定有固定架，所述固定架内腔的顶壁固定有数量为两个的第一电动推杆，前后侧所述第一电动推杆输出轴的外侧固定有安装板，所述安装板的下表面固定有数量不少于两个的探针，所述固定架的上表面固定安装有控制器，所述皮带传送装置的外侧固定有数量不少于两个的放置块
。
[0007]进一步，数量不少于两个的所述放置块均匀分布在皮带传送装置的外侧，所述放置块为橡胶块
。
[0008]进一步，所述固定架位于支撑板的纵向中轴线上，前后侧所述第一电动推杆呈对
称分布于固定架横向中轴线的前后两侧
。
[0009]进一步，数量不少于两个的所述探针均匀分布在安装板的下表面，所述控制器位于固定架的横向中轴线上
。
[0010]进一步，所述调节机构包括滑动连接在左右侧连接板外侧的固定框，所述固定框的底端通过螺栓固定有固定板，所述固定板上表面且位于固定框的内部固定有第二电动推杆，所述第二电动推杆输出轴的外侧与连接板的下表面固定连接，所述固定板的下表面设有连接组件
。
[0011]进一步，所述连接组件包括固定在固定板下表面且数量为两个的底座，所述固定框左右侧且位于第二电动推杆的左右两侧均开设有数量为两个是散热口
。
[0012]进一步，所述连接板在固定框的内部做上下线性移动，所述第二电动推杆位于固定板的横向中轴线上
。
[0013]与现有技术相比，本申请的技术方案具备以下有益效果：
[0014]1、
该半导体芯片批量检测机构，需要将半导体芯片进行批量检测的时候，将批量的半导体芯片进行分别放置在数量不少于两个放置块的上表面，然后将皮带传送装置进行启动，当纵向数量不少于两个的放置块移动到固定架的内部时，经过控制器将皮带传送装置进行关闭，然后再进行启动第一电动推杆，然后第一电动推杆输出轴带动固定在安装板下表面且数量不少于两个的探针在固定架的内部进行向下移动并进行接触到纵向数量不少于两个的放置块上表面的半导体芯片然后对半导体芯片进行检测，依次循环进行检测，进而可以进行批量检测，提升其检测的效率
。
[0015]2、
该半导体芯片批量检测机构，可以将左右侧的第二电动推杆的输出轴进行同时启动，左右侧带动左右侧的连接板在左右侧固定框的内部进行上下移动，进而可以将检测机构的高度进行调节，可以满足不同身高的群体进行方便操作检测机构，进而提升了其实用性
。
附图说明
[0016]图1为本技术结构示意图；
[0017]图2为本技术连接机构示意图；
[0018]图3为本技术调节机构示意图
。
[0019]图中：1支撑板
、2
支撑杆
、3
连接板
、4
连接机构
、401
皮带传送装置
、402
固定架
、403
第一电动推杆
、404
安装板
、405
探针
、406
控制器
、407
放置块
、5
调节机构
、501
固定框
、502
固定板
、503
第二电动推杆
、504
底座
、505
散热口
。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0021]请参阅图1，本实施例中的一种半导体芯片批量检测机构，包括支撑板1，支撑板1下表面的左右两侧均固定有支撑杆2，左右侧支撑杆2的正面与背面均固定有数量为两个的
连接板3，支撑板1的上表面设有用以对半导体芯片进行批量检测的连接机构4，连接机构4可以进行批量检测半导体芯片，左右侧连接板3的外侧设有用以对检测机构进行调节其水平高度便于进行操作检测机构的调节机构5，调节机构5可以对检测机构进行调节其水平高度便于进行操作检测机构
。
[0022]请参阅图2，为了可以进行批量检测半导体芯片，本实施例中的，连接机构4包括固定在支撑板1上表面的皮带传送装置
401
，支撑板1正面与背面且位于皮带传送装置
401
的外侧通过螺栓固定有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种半导体芯片批量检测机构，包括支撑板
(1)
，其特征在于：所述支撑板
(1)
下表面的左右两侧均固定有支撑杆
(2)
，左右侧所述支撑杆
(2)
的正面与背面均固定有数量为两个的连接板
(3)
，所述支撑板
(1)
的上表面设有用以对半导体芯片进行批量检测的连接机构
(4)
，左右侧所述连接板
(3)
的外侧设有用以对检测机构进行调节其水平高度便于进行操作检测机构的调节机构
(5)
；所述连接机构
(4)
包括固定在支撑板
(1)
上表面的皮带传送装置
(401)
，所述支撑板
(1)
正面与背面且位于皮带传送装置
(401)
的外侧通过螺栓固定有固定架
(402)
，所述固定架
(402)
内腔的顶壁固定有数量为两个的第一电动推杆
(403)
，前后侧所述第一电动推杆
(403)
输出轴的外侧固定有安装板
(404)
，所述安装板
(404)
的下表面固定有数量不少于两个的探针
(405)
，所述固定架
(402)
的上表面固定安装有控制器
(406)
，所述皮带传送装置
(401)
的外侧固定有数量不少于两个的放置块
(407)。2.
根据权利要求1所述的一种半导体芯片批量检测机构，其特征在于：数量不少于两个的所述放置块
(407)
均匀分布在皮带传送装置
(401)
的外侧，所述放置块
(407)
为橡胶块
。3.
根据权利要求1所述的一种半导体芯片批量检测机构，其特征在于：所述固定架
(402)
位于支撑板...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨顺，夏秋，蔡虎，
申请(专利权)人：南京好定成自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：