【技术实现步骤摘要】
用于测量和可视化PCB的电磁参数的值的方法、系统和探针
[0001]本专利技术涉及一种用于可视化印刷电路板(PCB)的电磁参数的测量值的方法、系统和探针，其中，所述探针的探针头非接触地测量所述PCB的至少两个不同位置处的至少一个电磁参数的值，并且相对于所述探针头固定在适当位置的相机针对所述不同位置中的每一个位置记录所述PCB在所述探针头周围的区域的图像。
技术介绍
[0002]探针，特别是示波器探针，是一种用于将信号源(例如电子电路中用于测量电子电路的信号的测量点)连接到示波器的设备。特别地，探针与示波器有物理连接，从而实现电气连接。根据信号源和要进行的测量，探针可以像导线一样简单(例如无源探针)，也可以像有源差分探针一样复杂，有源差分探针包括放大器，以将探针输入电容保持在很低的水平，从而最小化探针对要测量的信号的影响。
[0003]存在不同的示波器探针用于各种应用，如复杂电子电路的调试、高速串行总线信号的信号完整性测量、以及具有高电压电平的电力电子器件的表征。
[0004]此外，应该注意的是，由于电子电路的...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于可视化印刷电路板(PCB)的电磁参数的测量值的方法，包括：
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通过探针的探针头，非接触地测量(S11)所述PCB的至少两个不同位置处的至少一个电磁参数的值；
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通过相对于所述探针头固定在适当位置的相机，针对所述不同位置中的每一个位置，记录(S12)所述PCB在所述探针头周围的区域的图像；
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针对所述不同位置中的每一个位置，将所述电磁参数的测量值与所述PCB在所述探针头周围的区域的记录的图像相关联(S13)；
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确定(S14)所述区域的每个记录的图像在所述PCB的地图表示上的位置；
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将所述PCB的地图表示与所述电磁参数的测量值叠加(S15)；
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将所述PCB的地图表示与叠加的所述电磁参数的测量值一起可视化(S16)。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述电磁参数是电磁兼容性参数或电磁干扰参数。3.根据权利要求1
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2中任一项所述的方法，其中，所述PCB的地图表示在所述方法开始时是可用的，并且确定步骤(S14)还包括：
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将所述区域的每个记录的图像与所述PCB的地图表示进行比较(S14a)；
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基于所述比较，确定(S14b)所述区域的每个记录的图像在所述PCB的地图表示上的位置。4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述PCB的地图表示是所述PCB的图形地图表示，特别是所述PCB的照片或图像，并且在所述方法开始时记录或预先记录所述PCB的图形地图表示。5.根据权利要求3所述的方法，其中，所述PCB的地图表示是所述PCB的预先可用的布局，并且所述方法还包括：
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通过使用所述区域的记录的图像来生成所述PCB的图像。6.根据权利要求1
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2中任一项所述的方法，其中，所述PCB的地图表示在所述方法开始时不可用，并且在关联步骤(S13)之后和确定步骤(S14)之前，所述方法还包括：
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通过使用所述区域的记录的图像来生成(S17)所述PCB的地图表示。7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述确定步骤(S14)还包括：
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基于生成步骤确定(S14c)所述区域的每个记录的图像在所述PCB的地图表示上的位置。8.根据权利要求1
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7中任一项所述的方法，其中，在可视化步骤(S16)中，通过使用2维、2.5维或3维技术，在所述PCB的地图表示上可视化叠加的所述电磁参数的测量值。9.根据权利要求8所述的方法，其中，在所述可视化步骤(S16)中，在所述PCB的地图表示上用伪彩色覆盖叠加的所述电磁参数的测量值，基于叠加的所述电磁参数的测量值对所述PCB的地图表示进行伪彩色编码以将其可视化，或者使用条形图将叠加的所述电磁参数的测量值在所述PCB的地图表示上可视化。
10.一种用于可视化印刷电路板(PCB)(24，34)的电磁参数的测量值的系统，包括：
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具有探针头(22，32)的探针(21，31)，所述探针头被配置为非接触地测量所述PCB(24，34)的至少两个不同位置处的至少一个电磁参数的值；
【专利技术属性】
技术研发人员：G，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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