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本发明涉及用于测量和可视化PCB的电磁参数的值的方法、系统和探针，其中，探针的探针头非接触地测量所述PCB的至少两个不同位置处的至少一个电磁参数的值；相对于所述探针头固定在适当位置的相机针对所述不同位置中的每一个位置记录所述PCB在所述探针...
该专利属于罗德施瓦兹两合股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过罗德施瓦兹两合股份有限公司授权不得商用。

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