一种显示屏制造技术

本申请公开了一种显示屏

【技术实现步骤摘要】
一种显示屏Array多通道实现通断性测量的系统


[0001]本申请实施例涉及电子测量仪器领域，尤其涉及一种显示屏
Array
多通道实现通断性测量的系统
。

技术介绍

[0002]随着新型显示屏各个器件技术的进步，对显示屏器件的研发和生产过程中的测试设备也在不断提出新的需求，以满足新型显示屏器件的品质
。
其中的一项就是“针对
Array
的巨量通道进行通断性测量”，该项测量要求实现
4000+
个以上的被测通道数量，在
5ms
以内的单笔测量时间以及小于5秒的总测量时间，电阻测量范围要求
500
欧姆～
10M
欧姆，测量精度要求达到量程范围的
0.5
％
。
除以上指标外，还需要能够对被测
Array
端子任意编程进行选通测量，以实现不同通道之间的绝缘性测试
。
[0003]请参考图1，图1为传统的多通道电阻测量系统结构
。
这种四线开尔文结构技术成熟，精度高，可以运用在一到数十个通道的测量，但是并不适合上千个通道的快速测量
。
首先是对于上千个通道的开关矩阵和连接端子，很难在一个
PCBA
中完全集成实现，必须采用多个卡槽的方案
。
而针对要求被测端任意组合的场合，需要在不同卡槽之间建立测试连接关系，不同卡槽间的地线干扰就会对测试精度带来影响
。
其次，对于高速测量要求，还需要采用多个表头并联测试才能够达到速度目标，这样一来卡槽间的连接关系就更加复杂，更复杂的设计一方面带来成本的增加，同时也会降低系统的可靠性，进而降低系统在新一代显示
Array
的通道通断性测量的效率
。

技术实现思路

[0004]本申请公开了一种显示屏
Array
多通道实现通断性测量的系统，用于提高在新一代显示
Array
的通道通断性测量的效率
。
[0005]本申请提供了一种显示屏
Array
多通道实现通断性测量的系统，包括：
[0006]背板单元和测卡单元；
[0007]背板单元包括处理器单元和供电单元；
[0008]背板单元上设置有测卡卡槽；
[0009]测卡单元安装在测卡卡槽上；
[0010]测卡单元包括测量端子
、
驱动采样及选通阵列
、
前置放大阵列和
ADC
阵列；
[0011]测量端子与驱动采样及选通阵列连接，测量端子用于测量信号；
[0012]驱动采样及选通阵列与前置放大阵列连接；
[0013]前置放大阵列与
ADC
阵列连接，
ADC
阵列用于将信号传输到背板单元的处理器单元上
。
[0014]可选地，测卡单元的测量端子包括第一端子
DO
‑
a
和第一电阻；
[0015]测卡单元的驱动采样及选通阵列包括采样选通
‑
A
模块；
[0016]测卡单元的前置放大阵列包括第一放大器；
[0017]测卡单元的
ADC
阵列包括第一
ADC
模块；
[0018]第一端子
DO
‑
a
与待测负载
Rx_ab
的第一端连接；
[0019]第一端子
DO
‑
a
分别与采样选通
‑
A
模块的
spn
‑
接口
、
第一电阻的第一端和第一放大器的负极接口连接；
[0020]第一电阻的第二端分别与采样选通
‑
A
模块的
spn+
接口和第一放大器的输出接口连接；
[0021]第一
ADC
模块的
out
接口与第一放大器的正极接口连接；
[0022]第一
ADC
模块的
int1
接口
、int2
接口
、int3
接口和
A_SLT
接口与背板单元上的处理器单元连接，第一
ADC
模块的
int4
接口接地；
[0023]可选地，测卡单元的测量端子还包括第二端子
DO
‑
b
和第二电阻；
[0024]测卡单元的驱动采样及选通阵列还包括采样选通
‑
B
模块；
[0025]测卡单元的前置放大阵列还包括第二放大器；
[0026]测卡单元的
ADC
阵列还包括第二
ADC
模块；
[0027]第而端子
DO
‑
b
与待测负载
Rx_ab
的第二端连接；
[0028]第二端子
DO
‑
b
分别与采样选通
‑
B
模块的
spn
‑
接口
、
第二电阻的第一端和第二放大器的负极接口连接；
[0029]第二电阻的第二端分别与采样选通
‑
B
模块的
spn+
接口和第二放大器的输出接口连接；
[0030]第二
ADC
模块的
out
接口与第二放大器的正极接口连接；
[0031]第二
ADC
模块的
int1
接口
、int2
接口
、int3
接口和
B_SLT
接口与背板单元上的处理器单元连接，第二
ADC
模块的
int4
接口接地
。
[0032]可选地，测卡单元的驱动采样及选通阵列包括
MUX64 to 2
‑
A
模块和
MUX64to 2
‑
B
模块；
[0033]测卡单元的前置放大阵列包括
DA
‑
A
放大器和
DA
‑
B
放大器；
[0034]测卡单元的
ADC
阵列包括
ADC
‑
A
模块和
ADC
‑
B
模块；
[0035]MUX64 to 2
‑
A
模块上有
64
个
SPn+
接口，
64
个
SPn+
接口对应驱动运放的输出；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种显示屏
Array
多通道实现通断性测量的系统，其特征在于，包括：背板单元和测卡单元；所述背板单元包括处理器单元和供电单元；所述背板单元上设置有测卡卡槽；所述测卡单元安装在所述测卡卡槽上；所述测卡单元包括测量端子
、
驱动采样及选通阵列
、
前置放大阵列和
ADC
阵列；所述测量端子与所述驱动采样及选通阵列连接，所述测量端子用于测量信号；所述驱动采样及选通阵列与所述前置放大阵列连接；所述前置放大阵列与所述
ADC
阵列连接，所述
ADC
阵列用于将信号传输到所述背板单元的所述处理器单元上
。2.
根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测卡单元的所述测量端子包括第一端子
DO
‑
a
和第一电阻；所述测卡单元的所述驱动采样及选通阵列包括采样选通
‑
A
模块；所述测卡单元的所述前置放大阵列包括第一放大器；所述测卡单元的所述
ADC
阵列包括第一
ADC
模块；所述第一端子
DO
‑
a
与待测负载
Rx_ab
的第一端连接；所述第一端子
DO
‑
a
分别与所述采样选通
‑
A
模块的
spn
‑
接口
、
所述第一电阻的第一端和所述第一放大器的负极接口连接；所述第一电阻的第二端分别与所述采样选通
‑
A
模块的
spn+
接口和所述第一放大器的输出接口连接；所述第一
ADC
模块的
out
接口与所述第一放大器的正极接口连接；所述第一
ADC
模块的
int1
接口
、int2
接口
、int3
接口和
A_SLT
接口与所述背板单元上的所述处理器单元连接，所述第一
ADC
模块的
int4
接口接地
。3.
根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述测卡单元的所述测量端子还包括第二端子
DO
‑
b
和第二电阻；所述测卡单元的所述驱动采样及选通阵列还包括采样选通
‑
B
模块；所述测卡单元的所述前置放大阵列还包括第二放大器；所述测卡单元的所述
ADC
阵列还包括第二
ADC
模块；所述第而端子
DO
‑
b
与待测负载
Rx_ab
的第二端连接；所述第二端子
DO
‑
b
分别与所述采样选通
‑
B
模块的
spn
‑
接口
、
所述第二电阻的第一端和所述第二放大器的负极接口连接；所述第二电阻的第二端分别与所述采样选通
‑
B
模块的
spn+
接口和所述第二放大器的输出接口连接；所述第二
ADC
模块的
out
接口与所述第二放大器的正极接口连接；所述第二
ADC
模块的
int1
接口
、int2
接口
、int3
接口和
B_SLT
接口与...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭文军，徐大鹏，侯振，
申请(专利权)人：长沙精智达电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：