【技术实现步骤摘要】
量子位测量装置、量子测量系统、以及量子计算机
[0001]本申请属于量子领域，特别是一种量子位测量装置
、
量子测量系统
、
以及量子计算机
。
技术介绍
[0002]量子处理器是量子计算的计算执行单元，由量子位组成，为保证量子位的运行和运行结果的数据，需要给量子位提供多种驱动信号并对量子位的运行结果进行测量
。
在量子领域，尤其是超导量子计算领域，通常采用间接测量的方法对量子位进行测量
。
具体的，采用谐振腔耦合连接量子位，谐振腔和量子位之间相互作用；通过测量谐振腔的状态变化获得量子位的状态变化
。
在对谐振腔进行测试时，通常采用反射模式，即施加测量信号至谐振腔，采集谐振腔反射的信号并进行处理获得量子位的状态信息
。
[0003]现有技术中，通常采用多种商用仪器搭建量子测控系统，如采用任意波形发生器
、
微波源等仪器作为信号源模块输出测量信号，并通过信号分析仪等仪器进行信号采集和处理
。
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种量子位测量装置，其特征在于，包括：多个第一时钟模块，每个所述第一时钟模块其被配置为依据接收的时钟源信号和秒脉冲信号分发多个相互同步的工作时钟信号；其中，所述秒脉冲信号用于对多个所述工作时钟信号进行对准；信号输出模块，其被配置为接收任务数据和触发信号并依据所述工作时钟信号输出多路用于测量量子处理器上量子位的量子态信息的测量信号；信号采集模块，其被配置为接收所述任务数据和触发信号并依据所述工作时钟信号处理与所述测量信号对应的反射信号；其中，所述反射信号为所述量子位执行运算后携带运算结果的信号；其中，所述信号输出模块与所述信号采集模块通信连接
。2.
根据权利要求1所述的量子位测量装置，其特征在于，还包括板卡主体，多个所述第一时钟模块
、
所述信号输出模块和所述信号采集模块均集成于所述板卡主体上
。3.
根据权利要求1所述的量子位测量装置，其特征在于，所述信号输出模块包括：第一控制单元，其被配置为接收所述任务数据和触发信号并依据所述工作时钟信号转发所述任务数据和触发信号；多个信号输出单元，其被配置为接收所述任务数据和触发信号并依据所述工作时钟信号输出多路用于测量量子处理器上量子位的量子态信息的测量信号
。4.
根据权利要求3所述的量子位测量装置，其特征在于，所述第一控制单元包括
FPGA
或
MCU
或
MPU
或
DSP。5.
根据权利要求3所述的量子位测量装置，其特征在于，所述信号输出单元包括
DAC。6.
根据权利要求3所述的量子位测量装置，其特征在于，还包括第二时钟模块，其被配置为输出用于配置所述第一控制单元的时钟信号
。7.
根据权利要求1所述的量子位测量装置，其特征在于，所述信号采集模块包括：第二控制单元，其被配置为接收所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：范良晨，李雪白，
申请(专利权)人：本源量子计算科技合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。