存储器装置和存储器装置的测试方法制造方法及图纸

技术编号:39804917 阅读:30 留言:0更新日期:2023-12-22 02:38
提供存储器装置和存储器装置的测试方法。所述存储器装置包括:单元阵列,包括多个存储器单元;外围电路,被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作;测试逻辑电路,被配置为在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试操作;第一调节器,被配置为调节通过第一垫接收的第一电源电压并且将第一电源电压提供给单元阵列和外围电路中的至少一个;以及电源管理器,在第一垫与第一调节器的输入端子之间,并且在第一垫与测试逻辑电路之间,并且被配置为将测试电源电压提供给测试逻辑电路。在测试模式下,当第一调节器的第一目标电压电平波动时,电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。电压电平维持恒定。电压电平维持恒定。

【技术实现步骤摘要】
存储器装置和存储器装置的测试方法
[0001]本申请基于并要求于2022年6月14日提交到韩国知识产权局的第10

2022

0072434号韩国专利申请和于2022年8月4日提交到韩国知识产权局的第10

2022

0097584号韩国专利申请的优先权,所述韩国专利申请的公开通过引用全部包含于此。


[0002]专利技术构思涉及存储器装置,更具体地,涉及在测试模式下具有提高的操作稳定性的存储器装置和测试存储器装置的方法。

技术介绍

[0003]存储器装置可在大量生产的各种工艺中被测试,并且作为示例,当测试逻辑电路被包括在存储器装置中时,测试操作所必需的各种操作可由测试逻辑电路执行。
[0004]存储器装置可包括单元阵列和外围电路,并且各种类型的电源电压可被提供给存储器装置中的组件以操作单元阵列、外围电路和测试逻辑电路。在这种情况下,在测试模式下,与单元阵列和外围电路不同,在测试逻辑电路中,电源电压对噪声的灵敏度必须降低以确保测试操作的准确性。
专本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器装置,包括:单元阵列,包括多个存储器单元;外围电路,被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作;测试逻辑电路,被配置为在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试操作;第一调节器,被配置为调节通过第一垫接收的第一电源电压并且将调节后的第一电源电压提供给单元阵列和外围电路中的至少一个;以及电源管理器,连接到第一垫与第一调节器的输入端子之间的节点,并且在第一垫与测试逻辑电路之间,其中,电源管理器被配置为将通过第一电源电压的电力处理操作生成的测试电源电压提供给测试逻辑电路,其中,在测试模式下,当第一调节器的第一目标电压电平波动时,电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。2.根据权利要求1所述的存储器装置,其中,电源管理器包括:电压电平调整器,被配置为接收第一电源电压并且增大第一电源电压的电压电平;以及第二调节器,被配置为从电压电平调整器接收输出电压,并且调节所述输出电压以生成具有与第二目标电压电平对应的电压电平的测试电源电压。3.根据权利要求2所述的存储器装置,其中,电压电平调整器包括开关模式电源,并且第二调节器包括低压差调节器。4.根据权利要求1所述的存储器装置,还包括:第二垫,被配置为从所述存储器装置的外部接收第二电源电压,其中,第二电源电压被提供给第一调节器而不被提供给电源管理器。5.根据权利要求4所述的存储器装置,其中,第一电源电压具有比第二电源电压高的电压电平,其中,第一电源电压通过与测试电源电压被发送的电力路径不同的路径而被提供给单元阵列,并且第二电源电压通过与测试电源电压被发送的电力路径不同的路径而被提供给外围电路,并且其中,电源管理器被配置为通过第一电源电压的调节操作来生成测试电源电压。6.根据权利要求4所述的存储器装置,其中,第一电源电压具有比第二电源电压低的电压电平,其中,第一电源电压通过与测试电源电压被发送的电力路径不同的路径而被提供给外围电路,并且第二电源电压通过与测试电源电压被发送的电力路径不同的路径而被提供给单元阵列,并且其中,电源管理器被配置为通过第一电源电压的电压电平控制和调节操作来生成测试电源电压。7.根据权利要求6所述的存储器装置,其中,电源管理器升高第一电源电压的电压电平,并且然后执行所述调节操作以生成具有与第二目标电压电平对应的电压电平的测试电源电压。
8.根据权利要求1所述的存储器装置,其中,所述存储器装置包括多个裸片,测试逻辑电路和电源管理器在第一裸片上,并且单元阵列在堆叠在第一裸片上的第二裸片上,其中,第一电源电压通过第一调节器被提供给第二裸片,并且其中,来自电源管理器的测试电源电压被提供给第一裸片中的测试逻辑电路。9.根据权利要求8所述的存储器装置,其中,外围电路还在第一裸片中,并且第一电源电压通过第一调节器被提供给第一裸片中的外围电路。10.根据权利要求1所述的存储器件,其中,测试逻辑电路包括内置自测试电路,并且内置自测试电路包括用于生成提供给单元阵列的测试模式的模式生成器。11.根据权利要求1至10中的任何一项所述的存储器装置,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:朴哉垣李硕汉
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:

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