存储器装置和存储器装置的测试方法制造方法及图纸

提供存储器装置和存储器装置的测试方法。所述存储器装置包括：单元阵列，包括多个存储器单元；外围电路，被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作；测试逻辑电路，被配置为在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试操作；第一调节器，被配置为调节通过第一垫接收的第一电源电压并且将第一电源电压提供给单元阵列和外围电路中的至少一个；以及电源管理器，在第一垫与第一调节器的输入端子之间，并且在第一垫与测试逻辑电路之间，并且被配置为将测试电源电压提供给测试逻辑电路。在测试模式下，当第一调节器的第一目标电压电平波动时，电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。电压电平维持恒定。电压电平维持恒定。

【技术实现步骤摘要】
存储器装置和存储器装置的测试方法
[0001]本申请基于并要求于2022年6月14日提交到韩国知识产权局的第10
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2022
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0072434号韩国专利申请和于2022年8月4日提交到韩国知识产权局的第10
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2022
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0097584号韩国专利申请的优先权，所述韩国专利申请的公开通过引用全部包含于此。


[0002]专利技术构思涉及存储器装置，更具体地，涉及在测试模式下具有提高的操作稳定性的存储器装置和测试存储器装置的方法。

技术介绍

[0003]存储器装置可在大量生产的各种工艺中被测试，并且作为示例，当测试逻辑电路被包括在存储器装置中时，测试操作所必需的各种操作可由测试逻辑电路执行。
[0004]存储器装置可包括单元阵列和外围电路，并且各种类型的电源电压可被提供给存储器装置中的组件以操作单元阵列、外围电路和测试逻辑电路。在这种情况下，在测试模式下，与单元阵列和外围电路不同，在测试逻辑电路中，电源电压对噪声的灵敏度必须降低以确保测试操作的准确性。

技术实现思路

[0005]专利技术构思提供能够基于电源电压在存储器装置中通过其被发送的电力路径的分离来提高测试操作的准确性的储器装置和存储器装置的测试方法。
[0006]根据专利技术构思的一些实施例，提供了一种存储器装置，包括：单元阵列，包括多个存储器单元；外围电路，被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作；测试逻辑电路，被配置为在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试操作；第一调节器，被配置为调节通过第一垫接收的第一电源电压并且将第一电源电压提供给单元阵列和外围电路中的至少一个；以及电源管理器，在第一垫与第一调节器的输入端子之间，并且在第一垫与测试逻辑电路之间，并且被配置为将通过第一电源电压的电力处理操作生成的测试电源电压提供给测试逻辑电路，其中，在测试模式下，当第一调节器的第一目标电压电平波动时，电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。
[0007]根据专利技术构思的一些实施例，提供一种存储器装置，包括：单元阵列，包括多个存储器单元；外围电路，被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作；测试逻辑电路，在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试逻辑；第一垫，被配置为从所述存储器装置的外部接收第一电源电压；第二垫，被配置为从所述存储器装置的外部接收具有与第一电源电压不同的电平的第二电源电压；以及电源管理器，被配置为接收第一电源电压或第二电源电压，并且被配置为生成提供给测试逻辑电路的测试电源电压，其中，在测试模式下，测试逻辑电路被配置为通过包括电源管理器的第一电力路径来接收测试电源电压，单元阵列被配置为通过不包括电源管理器的第二电力路径来接收第一电源电压，并且外围电路通过不包括电源管理器的第三电力路径来接收第二电源电压。
[0008]根据专利技术构思的一些实施例，提供一种存储器装置的测试方法，所述测试方法包括：通过包括第一调节器的第一电力路径将从存储器装置的外部接收到的第一电源电压提供给单元阵列或外围电路；将第一电源电压提供给在测试模式下启用的电源管理器；以及通过与第一电力路径不同并且包括电源管理器的第二电力路径，将由电源管理器生成的测试电源电压提供给测试逻辑电路，其中，在测试模式下，当第一调节器的第一目标电压电平波动时，电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。
附图说明
[0009]从下面的结合附图的详细描述，将更清楚地理解专利技术构思的实施例，其中：
[0010]图1是示出根据本公开的一些实施例的存储器系统的框图；
[0011]图2A和图2B是示出根据本公开的各种实施例的存储器装置的框图；
[0012]图3是示出根据本公开的一些实施例的存储器装置的实施示例的框图；
[0013]图4是示出根据本公开的一些实施例的测试存储器装置的方法的流程图；
[0014]图5是示出在测试模式下提供给存储器装置的外围电路和测试逻辑电路的电源电压的电平的示例的示图；
[0015]图6是示出根据本公开的一些实施例的存储器装置的实施示例的框图；
[0016]图7是示出根据本公开的一些实施例的用单个裸片实现的存储器装置的示例的框图；
[0017]图8是示出根据本公开的一些实施例的存储器装置包括高带宽存储器(HBM)的示例的示图；
[0018]图9A、图9B、图10和图11是示出根据本公开的各种实施例的存储器装置的框图；以及
[0019]图12至图14是示出根据本公开的一些实施例的测试存储器装置的方法的示图。
具体实施方式
[0020]在下文中，本公开的实施例将参照附图被详细描述。
[0021]图1是示出根据本公开的一些实施例的存储器系统的框图。
[0022]参照图1，存储器系统10可包含存储器控制器100和存储器装置200。存储器装置200可包括包含多个存储器单元的单元阵列210、用于控制存储器操作(诸如，将数据写入多个存储器单元和从多个存储器单元读取数据)的外围电路220、在测试模式下执行与测试操作相关的各种功能的测试逻辑电路230、和将电源电压提供给存储器装置200中的至少一个组件的电源管理器240。尽管在图1中未示出，但是存储器装置200还可包括与存储器操作相关的至少一个其他组件，并且作为实例，用于控制存储器装置200的总体操作的控制逻辑、用于调节提供给存储器装置200中的组件的电源电压的电路、和/或用于控制包括在单元阵列210中的存储器单元的刷新操作的刷新电路还可被提供。
[0023]外围电路220可包括各种类型的电路配置，并且作为示例，可包括诸如用于选择单元阵列210的行的行解码器、用于选择列的列解码器和数据输入/输出电路的组件。作为实例，在地址ADD之中，行地址可被提供给行解码器，列地址可被提供给列解码器，并且数据DATA可通过列解码器和数据输入/输出电路在存储器控制器100与存储器装置200之间被发
送/接收。
[0024]存储器控制器100可通过存储器接口将各种信号提供给存储器装置200以控制存储器操作(诸如，写入/读取)。例如，存储器控制器100可将时钟信号CLK和命令/地址CMD/ADD提供给存储器装置200以访问单元阵列210的数据DATA。另外，存储器控制器100可包括测试控制器110，可在测试模式下将各种信号发送到存储器装置200/从存储器装置200接收各种信号，并且可基于发送到存储器装置200的信号和从存储器装置200提供的信号来执行存储器装置200的各种性能测试。作为示例，存储器控制器100可将测试模式TP发送到存储器装置200并将发送的测试模式TP存储在单元阵列210中，接收从单元阵列210读取的测试模式TP，并且基于接收到的测试模式TP来生成测试结果。
[0025]另一方面，存储器装置200可包括动态随机存取存储器(诸如，双倍数据速率同步动态随机存取存储器(DDR SDRAM)、低功率双倍数据速率(LPDDR)本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器装置，包括：单元阵列，包括多个存储器单元；外围电路，被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作；测试逻辑电路，被配置为在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试操作；第一调节器，被配置为调节通过第一垫接收的第一电源电压并且将调节后的第一电源电压提供给单元阵列和外围电路中的至少一个；以及电源管理器，连接到第一垫与第一调节器的输入端子之间的节点，并且在第一垫与测试逻辑电路之间，其中，电源管理器被配置为将通过第一电源电压的电力处理操作生成的测试电源电压提供给测试逻辑电路，其中，在测试模式下，当第一调节器的第一目标电压电平波动时，电源管理器的第二目标电压电平维持恒定。2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，电源管理器包括：电压电平调整器，被配置为接收第一电源电压并且增大第一电源电压的电压电平；以及第二调节器，被配置为从电压电平调整器接收输出电压，并且调节所述输出电压以生成具有与第二目标电压电平对应的电压电平的测试电源电压。3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中，电压电平调整器包括开关模式电源，并且第二调节器包括低压差调节器。4.根据权利要求1所述的存储器装置，还包括：第二垫，被配置为从所述存储器装置的外部接收第二电源电压，其中，第二电源电压被提供给第一调节器而不被提供给电源管理器。5.根据权利要求4所述的存储器装置，其中，第一电源电压具有比第二电源电压高的电压电平，其中，第一电源电压通过与测试电源电压被发送的电力路径不同的路径而被提供给单元阵列，并且第二电源电压通过与测试电源电压被发送的电力路径不同的路径而被提供给外围电路，并且其中，电源管理器被配置为通过第一电源电压的调节操作来生成测试电源电压。6.根据权利要求4所述的存储器装置，其中，第一电源电压具有比第二电源电压低的电压电平，其中，第一电源电压通过与测试电源电压被发送的电力路径不同的路径而被提供给外围电路，并且第二电源电压通过与测试电源电压被发送的电力路径不同的路径而被提供给单元阵列，并且其中，电源管理器被配置为通过第一电源电压的电压电平控制和调节操作来生成测试电源电压。7.根据权利要求6所述的存储器装置，其中，电源管理器升高第一电源电压的电压电平，并且然后执行所述调节操作以生成具有与第二目标电压电平对应的电压电平的测试电源电压。
8.根据权利要求1所述的存储器装置，其中，所述存储器装置包括多个裸片，测试逻辑电路和电源管理器在第一裸片上，并且单元阵列在堆叠在第一裸片上的第二裸片上，其中，第一电源电压通过第一调节器被提供给第二裸片，并且其中，来自电源管理器的测试电源电压被提供给第一裸片中的测试逻辑电路。9.根据权利要求8所述的存储器装置，其中，外围电路还在第一裸片中，并且第一电源电压通过第一调节器被提供给第一裸片中的外围电路。10.根据权利要求1所述的存储器件，其中，测试逻辑电路包括内置自测试电路，并且内置自测试电路包括用于生成提供给单元阵列的测试模式的模式生成器。11.根据权利要求1至10中的任何一项所述的存储器装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴哉垣，李硕汉，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：