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提供存储器装置和存储器装置的测试方法。所述存储器装置包括：单元阵列，包括多个存储器单元；外围电路，被配置为控制所述多个存储器单元的存储器操作；测试逻辑电路，被配置为在测试模式下操作并且被配置为对所述多个存储器单元执行测试操作；第一调节器，被...
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