一种制造技术

技术编号:39797823 阅读:17 留言:0更新日期:2023-12-22 02:30
本发明专利技术属于探针卡

【技术实现步骤摘要】
一种LDI曝光机Mark对位的方法及应用


[0001]本专利技术属于探针卡

晶圆测试
,具体涉及一种
LDI
曝光机
Mark
对位的方法及应用


技术介绍

[0002]转接板是探针卡的主要组成部分,高端探针卡中的转接板多使用的是陶瓷转接板

陶瓷转接板是由多片生瓷片经过打孔

印刷

叠片

切割

层压

烧结等工艺制作而成,其中在板表面会有一些金属
PAD

PAD
即焊盘

陶瓷转接板的一侧表面被称为
C4

(Controlled Collapse Chip Connection)
,另一侧表面被称为
BGA


陶瓷转接板的
C4
面上需要加工金属走线
、PAD
或绝缘层,以与探针头对接<br/>。
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...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
LDI
曝光机
Mark
对位的方法,其特征在于,包括如下步骤:
Step1
用软件制作陶瓷基板的第一描画层,所述第一描画层的图案由4个直径
1.8

2.2mm
的圆组成;
Step2
制作与第一描画层图案一致的
mark
层,将第一描画层结合
mark
输出第一
ODB
数据并导入
LDI
曝光机;
Step3
在陶瓷基板的表面制作种子层;
Step4
在种子层表面旋涂光刻胶,
LDI
曝光机依据第一
ODB
数据对陶瓷基板进行强制曝光和显影;
Step5
在显影后表面采用电镀的方式对显影图案进行金属填充;
Step6
去除光刻胶并腐蚀掉种子层,陶瓷基板表面的
PAD
裸露出来;
Step7
以陶瓷基板上4个圆的图案为标准建立坐标系,通过影像测量
PAD
在所述坐标系下的位置度数据;
Step8
根据
PAD
测量的位置度,使用软件对设计的第一层布设线路图进行平移,制作第二描画层,结合所述
mark
层输出第二
ODB
数据,导入
LDI
曝光机;
Step9
在陶瓷基板的表面制作种子层;
Step10
在种子层表面旋涂光刻胶,
LDI
曝光机依据第二
ODB
数据对陶瓷基板进行强制曝光和显影;
Step11
在显影后表面采用电镀的方式对显影图案进行金属填充;
Step12
去除光刻胶并腐蚀掉种子层,完成第一层布设线路图的设置
。2.
根据权利要求1所述
LDI
曝光机
Mark
对位的方法,其特征在于,在
Step1
前对陶瓷基板进行抛光处理
。3.
根据权利要求1所述
LDI
曝光机
Mark
对位...

【专利技术属性】
技术研发人员:邵宇侯克玉于海超
申请(专利权)人:强一半导体上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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