加工轨迹处理方法技术

本申请涉及加工轨迹处理方法

【技术实现步骤摘要】
加工轨迹处理方法、装置、加工设备及可读存储介质


[0001]本申请涉及激光加工领域，特别是涉及一种加工轨迹处理方法
、
装置
、
加工设备及可读存储介质
。

技术介绍

[0002]随着激光加工技术不断发展以及激光需求持续丰富，对激光加工精度要求越来越高
。
在激光加工过程中，加工轨迹规划作为激光加工控制的核心，直接影响着激光加工精度
。
[0003]在旋转体加工时，椭圆加工轨迹起到至关重要的作用，而采用圆弧来表示椭圆，由于拟合精度限制，通常需要将椭圆拟合成一系列圆弧曲线，且椭圆越大，用于拟合椭圆的圆弧曲线数量也越多，各圆弧之间衔接处的轨迹曲率会产生较大波动，进而严重影响激光加工精度
。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种加工轨迹处理方法
、
装置
、
加工设备及可读存储介质
。
[0005]一种加工轨迹拟合处理方法，包括：
[0006]获取加工轨迹的形状特征信息和拟合精度约束值；
[0007]根据所述形状特征信息和所述拟合精度约束值，确定所述加工轨迹的轨迹拟合曲线的拟合控制点信息；
[0008]基于所述拟合控制点信息和轨迹拟合曲线模型，确定所述加工轨迹的轨迹拟合曲线
。
[0009]在其中一个实施例中，所述加工轨迹为椭圆加工轨迹；
[0010]所述基于所述拟合控制点信息和轨迹拟合曲线模型，确定所述加工轨迹的轨迹拟合曲线，具体包括：根据所述拟合控制信息，结合二次有理贝塞尔曲线模型，确定所述椭圆加工轨迹的轨迹拟合曲线
。
[0011]在其中一个实施例中，所述获取加工轨迹的形状特征信息，具体为：获取待拟合椭圆轨迹的离心角
、
坐标平移量
、
角度偏转量
、
长轴信息和短轴信息；
[0012]所述根据所述形状特征信息和所述拟合精度约束值，确定轨迹拟合曲线的拟合控制点信息，包括：
[0013]基于所述角度偏转量
、
所述长轴信息和所述短轴信息，确定轨迹精度检测值；
[0014]当所述拟合精度约束值大于或等于所述轨迹精度检测值时，根据所述离心角
、
所述坐标平移量
、
所述角度偏转量
、
所述长轴信息和所述短轴信息，确定所述拟合控制点信息
。
[0015]在其中一个实施例中，所述根据所述离心角
、
所述坐标平移量
、
所述角度偏转量
、
所述长轴信息和所述短轴信息，确定所述拟合控制点信息，包括：
[0016]根据所述离心角
、
所述长轴信息和所述短轴信息，确定拟合控制点的坐标信息和权重系数；
[0017]当满足预设变换条件时，根据所述坐标平移量和所述角度偏转量，对所述坐标信息进行变换处理，确定所述变换后的目标坐标信息
。
[0018]在其中一个实施例中，所述获取加工轨迹的形状特征信息，包括：
[0019]获取待拟合椭圆轨迹的系数信息；
[0020]根据所述系数信息，获取所述待拟合椭圆轨迹的变换参量；
[0021]根据所述系数信息和所述变换参量，确定所述待拟合椭圆轨迹的形状特征信息
。
[0022]在其中一个实施例中，所述获取待拟合椭圆轨迹的系数信息，包括：
[0023]根据所述加工轨迹的初始轨迹数据，获取所述待拟合椭圆轨迹；
[0024]基于最小二乘法原则，确定所述待拟合椭圆轨迹的系数矩阵
。
[0025]在其中一个实施例中，所述根据所述系数信息，获取所述待拟合椭圆轨迹的变换参量，包括：
[0026]获取所述待拟合椭圆轨迹平移后的椭圆平移模型；
[0027]将所述系数信息代入所述椭圆平移模型，确定所述待拟合椭圆轨迹的坐标平移量
。
[0028]在其中一个实施例中，所述根据所述系数信息，获取所述待拟合椭圆轨迹的变换参量，还包括：
[0029]根据所述坐标平移量，获取所述待拟合椭圆轨迹的角度偏转量；
[0030]所述根据所述系数信息和所述变换参量，确定所述待拟合椭圆轨迹的形状特征信息，包括：
[0031]基于所述角度偏转量和所述系数信息，确定所述待拟合椭圆轨迹的长轴信息和短轴信息
。
[0032]一种加工轨迹处理装置，包括：
[0033]参数获取模块，用于获取加工轨迹的形状特征信息和拟合精度约束值；
[0034]控制点确定模块，与所述参数获取模块连接，用于根据所述形状特征信息和所述拟合精度约束值，确定轨迹拟合曲线的拟合控制点信息；
[0035]过渡曲线确定模块，与所述控制点确定模块连接，用于基于所述拟合控制点信息和轨迹拟合曲线模型，确定所述加工轨迹的轨迹拟合曲线
。
[0036]一种加工设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如上述的方法
。
[0037]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的方法
。
[0038]一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述任一项所述的方法
。
[0039]本申请所提供实施例存在的有益效果包括：
[0040]该加工轨迹处理方法，根据加工轨迹
(
如待拟合椭圆加工轨迹
)
的形状特征信息和拟合精度约束值，确定用于构造轨迹拟合曲线的拟合控制点信息，并将确定后的拟合控制点信息代入轨迹拟合曲线模型
(
如二次有理贝塞尔曲线
)
，从而在满足拟合精度限制的条件
下，构造适用于当前加工轨迹
(
如待拟合椭圆加工轨迹
)
的轨迹拟合曲线，且能够根据加工轨迹
(
如待拟合椭圆加工轨迹
)
的具体大小，构造相适应的轨迹拟合曲线，显著提高加工轨迹平顺程度，实现各轨迹点处的曲率变化保持在一定范围内，避免轨迹曲率短时间内产生跃迁，保证加工轨迹的速度和加速度的连续性，可提高激光加工精度
。
附图说明
[0041]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0042]图1为一个实施例中加工轨迹处理方法的流程示意图；
[0043]图2为一个实施例中椭圆轨迹拟合精度计算示意图；
[0044]图3为一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种加工轨迹拟合处理方法，其特征在于，包括：获取加工轨迹的形状特征信息和拟合精度约束值；根据所述形状特征信息和所述拟合精度约束值，确定所述加工轨迹的轨迹拟合曲线的拟合控制点信息；基于所述拟合控制点信息和轨迹拟合曲线模型，确定所述加工轨迹的轨迹拟合曲线
。2.
根据权利要求1所述的加工轨迹处理方法，其特征在于，所述加工轨迹为椭圆加工轨迹；所述基于所述拟合控制点信息和轨迹拟合曲线模型，确定所述加工轨迹的轨迹拟合曲线，具体包括：根据所述拟合控制信息，结合二次有理贝塞尔曲线模型，确定所述椭圆加工轨迹的轨迹拟合曲线
。3.
根据权利要求1所述的加工轨迹处理方法，其特征在于，所述获取加工轨迹的形状特征信息，具体为：获取待拟合椭圆轨迹的离心角
、
坐标平移量
、
角度偏转量
、
长轴信息和短轴信息；所述根据所述形状特征信息和所述拟合精度约束值，确定轨迹拟合曲线的拟合控制点信息，包括：基于所述角度偏转量
、
所述长轴信息和所述短轴信息，确定轨迹精度检测值；当所述拟合精度约束值大于或等于所述轨迹精度检测值时，根据所述离心角
、
所述坐标平移量
、
所述角度偏转量
、
所述长轴信息和所述短轴信息，确定所述拟合控制点信息
。4.
根据权利要求3所述的加工轨迹处理方法，其特征在于，所述根据所述离心角
、
所述坐标平移量
、
所述角度偏转量
、
所述长轴信息和所述短轴信息，确定所述拟合控制点信息，包括：根据所述离心角
、
所述长轴信息和所述短轴信息，确定拟合控制点的坐标信息和权重系数；当满足预设变换条件时，根据所述坐标平移量和所述角度偏转量，对所述坐标信息进行变换处理，确定所述变换后的目标坐标信息
。5.
根据权利要求1至4任一项所述的加工轨迹处理方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟菲，余强，封雨鑫，陈焱，
申请(专利权)人：深圳市大族智能控制科技有限公司，
类型：发明
国别省市：