一种钻头外径的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及测量，尤其涉及测量中用于直径测量的一种钻头外径的测量装置。一种钻头外径的测量装置，包括框架、自发辐射光的光发射管及其接收管，所述光发射管、接收管分别设置在所述框架上，所述光发射管的发射角小于或等于１０度，所述框架上设有平移机构，所述平移机构位于所述光发射管和接收管之间，所述平移机构连接有数据处理单元，所述数据处理单元分别与所述光发射管和接收管连接。所述钻头外径的测量装置提高了钻头外径的测量精度。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种钻头外径的测量装置
本技术涉及测量，尤其涉及测量中用于直径测量的一种钻头外径的测量装置。
技术介绍
印刷电路板又称印制电路板(Printec Circuit Board，简称PCB)，是一种用途相 当广泛的电子元件，在印刷电路板的加工中，钻孔是其重要的加工工艺之一，目前，印刷线 路板上的孔径一般可分为普通孔(普通孔的孔径为Φ 0.6 6. 35mm)和微小孔(微小孔的 孔径为彡0. 5mm)，较为常见的微小孔的孔径通常会小于或等于0. 1mm，而为了保证微小孔 的加工精度，必须对加工微小孔的钻头外径进行测量，但现有对钻头外径的测量通常通常 采用激光管发射自动测量，但是激光管加透镜制作工艺复杂，成本高，寿命短。
技术实现思路
为了更好的克服上述钻头外径测量中激光管加透镜制作工艺复杂、成本高、寿命 短的缺陷，本技术提供了一种钻头外径的测量装置。本技术解决其技术问题采用的技术方案是提供了一种钻头外径的测量装 置，包括框架、自发辐射光的光发射管及其接收管，所述光发射管、接收管分别设置在所述 框架上，所述光发射管的发射角小于或等于10度，所述框架上设有平移机构，所述平移机 构位于所述光发射管和接收管之间，所述平移机构连接有数据处理单元，所述数据处理单 元分别与所述光发射管和接收管连接。本技术的进一步改进是所述框架上设有挡板，所述挡板位于所述光发射管 和所述平移机构之间，所述挡板设有光线可通过的缝隙。本技术的进一步改进是所述框架上设有挡板，所述挡板位于所述光发射管 和所述平移机构之间，所述挡板设有光线可通过的通孔。本技术的进一步改进是所述平移机构的平移方向与所述光发射管发射的光 线相垂直。本技术的进一步改进是所述光发射管为红光发射管。本技术的进一步改进是所述光发射管为红外光发射管。本技术的进一步改进是所述光发射管的发射角等于10度。本技术的进一步改进是所述光发射管的发射角小于或等于5度。本技术的进一步改进是所述光发射管的发射角等于5度。本技术的进一步改进是所述光发射管的发射角为1度、2度、3度、4度、5度、 6度、7度、8度、9度、10度中的任一角度。与现有技术相比，本技术具有的有益效果是通过上述方案，采用小夹角的自 发辐射光的发光管代替，降低了成本，增加了寿命，减少了成本。附图说明图1为本技术一种钻头外径的测量装置的示意图；图2为本技术所述钻头外径的测量装置之光发射管的发射角度关系示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本技术作进一步的详细描述结合图1至图2， 一种钻头外径的测量装置，包括框架、自发辐射光的光发射管1及其接收管2，所述框架可 以是刚性机座，起支撑、承载作用，所述光发射管1、接收管2分别设置在所述框架上，所述 光发射管1的发射角小于或等于10度，所述框架上设有平移机构，所述平移机构位于所述 光发射管1和接收管2之间，所述平移机构连接有数据处理单元，所述数据处理单元分别与 所述光发射管1和接收管2连接。其中，所述光发射管1所发射出的光为自发辐射光，即普 通光，不包括受激辐射的激光，所述光发射管1也可以称为普通光发射管，不同于激光发射 管。如图1所示，所述框架上设有挡板4，所述挡板4位于所述光发射管1和所述平移 机构之间，所述挡板4可以设有光线可通过的缝隙，所述挡板4也可以设有光线可通过的通 孔。所述平移机构的平移方向与所述光发射管1发射的光线5相垂直，该光线5为从 所述光发射管1发射出，到接收管2接收。所述光发射管1可以优选为红光发射管，所述光发射管1也可以优选为红外光发射管。如图2所示，所述光发射管1的发射角可以优选为10度，所述光发射管1的发射 角也可以优选为小于或等于5度，所述光发射管1的发射角也可以优选为5度。所述发射管1的发射角为1度、2度、3度、4度、5度、6度、7度、8度、9度、10度中 的任一角度。本技术的测量原理是光发射管1连续的发射出光线5，其所发出的光线5由 接收管2接收，在平移机构上固定被测量物，即微小孔的钻头3，该平移机构的平移方向垂 直于光发射管1至接收管2的光线5，将钻头3的工作区调整到可与光发射管1的光线5相 交，该平移机构以恒定速度进行平移，带动钻头3以恒定速度平移，当钻头3与光线5相交 时，即，光线5照射在钻头3上时，对于接收管2而言，由于钻头3遮挡住了光线5，接收不到 光信号，当钻头3移开时，接收管2才重新接收到光信号，接收管2将接收不到光信号的时 间发送到数据处理单元，平移机构将其恒定速度值发送到数据处理单元，通过数据处理单 元将恒定速度乘以时间，即可得到钻头3的外径，将平移机构来回进行勻速的移动，可以多 次测量钻头3的外径，可降低测量误差，调整挡板4上的缝隙或者通孔的大小及位置，使光 发射管1所发出的光线5在挡板4缝隙或者通孔的遮档下，调整光线5 (即光束)的大小， 使钻头3可完全挡住光发射管1发出的光线5。本技术提供的一种钻头外径的测量装置，采用小夹角的自发辐射光的发光管 代替，降低了成本，增加了寿命，减少了成本，此外，本技术提供的一种钻头外径的测量 装置除了用于测量微小孔的钻头外，还可以用于各种微小轴类产品的外径测量。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术 人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视 为属于本技术的保护范围。权利要求一种钻头外径的测量装置，其特征在于包括框架、自发辐射光的光发射管(1)及接收所述光发射管(1)发射光线的接收管(2)，所述光发射管(1)、接收管(2)分别设置在所述框架上，所述框架上设有带动待测钻头平移的平移机构，所述平移机构位于所述光发射管(1)和接收管(2)之间，所述平移机构连接有数据处理单元，所述数据处理单元分别与所述光发射管(1)和接收管(2)连接。2.根据权利要求1所述的钻头外径的测量装置，其特征在于所述框架上设有挡板 (4)，所述挡板(4)位于所述光发射管(1)和所述平移机构之间，所述挡板(4)设有光线可 通过的缝隙。3.根据权利要求1所述的钻头外径的测量装置，其特征在于所述框架上设有挡板 (4)，所述挡板(4)位于所述光发射管(1)和所述平移机构之间，所述挡板(4)设有光线可 通过的通孔。4.根据权利要求1所述的钻头外径的测量装置，其特征在于所述平移机构的平移方 向与所述光发射管(1)发射的光线相垂直。5.根据权利要求1所述的钻头外径的测量装置，其特征在于所述光发射管(1)为红 光发射管。6.根据权利要求1所述的钻头外径的测量装置，其特征在于所述光发射管(1)为红 外光发射管。7.根据权利要求1所述的钻头外径的测量装置，其特征在于所述光发射管(1)的发 射角小于或等于10度。8.根据权利要求7所述的钻头外径的测量装置，其特征在于所述光发射管(1)的发 射角小于或等于5度。9.根据权利要求7所述的钻头外径的测量装置，其特征在于所述光发射管(1)的发 射角为1度、2度、3度、4度、5度、6度、7度、8度、9度、10度中的任一角度。专利摘要本技术涉及测量，尤其本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种钻头外径的测量装置，其特征在于：包括框架、自发辐射光的光发射管（１）及接收所述光发射管（１）发射光线的接收管（２），所述光发射管（１）、接收管（２）分别设置在所述框架上，所述框架上设有带动待测钻头平移的平移机构，所述平移机构位于所述光发射管（１）和接收管（２）之间，所述平移机构连接有数据处理单元，所述数据处理单元分别与所述光发射管（１）和接收管（２）连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：高云峰，刘定昱，朱加坤，杨立伟，雷群，
申请(专利权)人：深圳市大族激光科技股份有限公司，深圳市大族数控科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]