一种光学元器件厚度的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量机构，所述测量机构的顶部设置有固定机构，所述固定机构的内部设置有光学透镜，所述固定机构包括放置板，所述放置板的底部开设有若干滑轨，所述放置板位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆，若干个所述活动杆的顶部固定连接有夹板，若干个所述夹板的内壁与光学透镜活动连接，所述放置板的顶部与光学透镜活动连接，所述放置板的底部中间转动连接有转动杆，所述转动杆靠近放置板的一侧开设有滑槽，通过旋转平台一侧的旋钮，链条转动可以使得夹板之间的间距进行扩大或减小，此外弧形的夹板契合光学透镜的边缘，使得光学透镜的各个方向都能得到支撑，使得夹持效果更稳定

【技术实现步骤摘要】
一种光学元器件厚度的测量装置


[0001]本技术涉及光学
，具体涉及一种光学元器件厚度的测量装置
。

技术介绍

[0002]光学元器件是指用于控制
、
操纵
、
传输和检测光的设备和零件，它们在光学系统中起着关键的作用，包括激光器
、
光纤通信
、
成像系统
、
传感器等领域，而光学透镜时最常见的光学元器件之一，光学透镜用于聚焦或分散光线，可以改变光的传播方向和聚焦点，而常见的透镜包括凸透镜和凹透镜
。
[0003]在测量光学透镜厚度时常常会用到接触式测厚仪，测量时需要将测量探头直接接触待测物体表面，然而透镜通常是光学系统中非常精密的元件，表面质量对光学性能至关重要，使用接触式测厚仪时，如果没有夹具来稳定透镜并提供适当的支撑，测量探头可能会在接触的过程中产生额外的力量，导致透镜表面被刮擦
、
磨损或损坏，其次，透镜的厚度测量通常需要高精度和高重复性，接触式测厚仪缺乏夹具时，由于透镜无法保持稳定的位置和固定的压力，可能导致测量结果的不稳定性和误差的增加测量时的微小移动或变形可能会影响测得的厚度数值，此外，有些透镜的厚度可能在不同的位置存在变化，尤其是非均匀透镜或具有复杂曲率的透镜，在这种情况下，使用接触式测厚仪进行测量可能无法提供准确的厚度值，因为测量结果会受到透镜形状和位置的影响
。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题如下：接触式测厚仪缺少夹具可能会导致光学透镜损伤或测量出现偏差
。
[0005]本技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0006]一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量机构，所述测量机构的顶部设置有固定机构，所述固定机构的内部设置有光学透镜，所述固定机构包括放置板，所述放置板的底部开设有若干滑轨，所述放置板位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆，若干个所述活动杆的顶部固定连接有夹板，若干个所述夹板的内壁与光学透镜活动连接
。
[0007]作为本技术进一步的方案：所述放置板的顶部与光学透镜活动连接，所述放置板的底部中间转动连接有转动杆，所述转动杆靠近放置板的一侧开设有滑槽，且所述滑槽为弧形
。
[0008]作为本技术进一步的方案：若干个所述活动杆的外侧壁靠近转动杆的一侧固定安装有销轴，所述销轴的外侧壁与滑槽的内壁滑动连接
。
[0009]作为本技术进一步的方案：所述测量机构包括平台，所述平台的顶部固定安装有上支撑架，所述上支撑架的底部内壁滑动连接有接触探头，所述接触探头的底部与光学透镜活动连接
。
[0010]作为本技术进一步的方案：所述平台的顶部中间与放置板固定连接，所述夹板的底部与平台滑动连接
。
[0011]作为本技术进一步的方案：所述转动杆的底部外侧壁固定安装有齿轮圈，所述齿轮圈的外侧壁啮合连接有链条，所述链条的另一端内壁啮合连接有齿轮，所述齿轮的顶部穿过平台且固定连接有旋钮，所述旋钮的外侧壁与平台转动连接
。
[0012]作为本技术进一步的方案：若干个所述夹板之间活动连接，若干个所述夹板互相闭合时为环形且内壁与放置板活动连接
。
[0013]本技术的有益效果：
[0014](1)
本技术在测厚仪的平台顶部设置了可以自由调节的固定机构，固定机构由弧形夹板组成，通过旋转平台一侧的旋钮，链条转动动可以使得夹板之间的间距进行扩大或减小，以此夹持不同大小的光学透镜，此外弧形的夹板契合光学透镜的边缘，使得光学透镜的各个方向都能得到支撑，使得夹持效果更稳定；
[0015](2)
夹具的间距调节通过唯一的旋钮顺时针或逆时针旋转即可完成，操作简单，使用时将光学透镜放置在固定机构内部的放置板上方即可夹持，固定方便
。
附图说明
[0016]下面结合附图对本技术作进一步的说明
。
[0017]图1是本技术整体结构示意图；
[0018]图2是本技术中平台内部结构示意图；
[0019]图3是本技术中固定机构整体结构俯视示意图；
[0020]图4是本技术中固定机构整体结构仰视图；
[0021]图5是本技术中固定机构完全收紧时整体结构剖视图
。
[0022]图中：
1、
测量机构；
101、
平台；
102、
上支撑架；
103、
接触探头；
2、
固定机构；
201、
放置板；
202、
夹板；
203、
销轴；
204、
滑槽；
205、
转动杆；
206、
链条；
207、
齿轮；
208、
旋钮；
209、
活动杆；
3、
光学透镜
。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0024]如图1‑5所示，一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量机构1，测量机构1的顶部设置有固定机构2，固定机构2的内部设置有光学透镜3，固定机构2包括放置板
201
，放置板
201
的底部开设有若干滑轨，放置板
201
位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆
209
，若干个活动杆
209
的顶部固定连接有夹板
202
，若干个夹板
202
的内壁与光学透镜3活动连接，夹板
202
为弧形，使得夹板
202
在收缩接触光学透镜3时能更好的契合其边缘；
[0025]放置板
201
的顶部与光学透镜3活动连接，放置板
201
的底部中间转动连接有转动杆
205
，转动杆
205
靠近放置板
201
的一侧开设有滑槽
204
，且滑槽
204
为弧形，转动杆
205
在旋转时，弧形的滑槽
204
可以推动销轴
203
在水平方向不变的情况下在滑轨内壁滑动；
[0026]若干个活动杆
209
的外侧壁靠近转动杆
205
的一侧固定安装有销轴
203
，销轴<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量机构
(1)
，其特征在于，所述测量机构
(1)
的顶部设置有固定机构
(2)
，所述固定机构
(2)
的内部设置有光学透镜
(3)
，所述固定机构
(2)
包括放置板
(201)
，所述放置板
(201)
的底部开设有若干滑轨，所述放置板
(201)
位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆
(209)
，若干个所述活动杆
(209)
的顶部固定连接有夹板
(202)
，若干个所述夹板
(202)
的内壁与光学透镜
(3)
活动连接
。2.
根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于，所述放置板
(201)
的顶部与光学透镜
(3)
活动连接，所述放置板
(201)
的底部中间转动连接有转动杆
(205)
，所述转动杆
(205)
靠近放置板
(201)
的一侧开设有滑槽
(204)
，且所述滑槽
(204)
为弧形
。3.
根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于，若干个所述活动杆
(209)
的外侧壁靠近转动杆
(205)
的一侧固定安装有销轴
(203)
，所述销轴
(203)
的外侧壁与滑槽
(204)
的内壁滑动连接
。4.

【专利技术属性】
技术研发人员：吴兆晴，叶彦汝，
申请(专利权)人：系科仪器上海有限公司，
类型：新型
国别省市：