一种测试工装结构制造技术

本实用新型专利技术属于电测试技术领域，公开了一种测试工装结构，测试工装结构包括至少一个插拔组件，插拔组件包括工装主体

【技术实现步骤摘要】
一种测试工装结构


[0001]本技术涉及电测试
，尤其涉及一种测试工装结构
。

技术介绍

[0002]在军用以及民用设备中，电子产品得到了广泛的应用
。
电子产品在出厂前一般都需要进行测试
。
随着科技的发展，对电子产品的测试项目及要求越来越多，例如，检测电子产品内的噪声系数
、
接收信道模拟滤波器带宽
、
通道增益
、
通道间增益一致性
、
各通道稳定度
、
接收通道间隔离度
、
接收镜频抑制度
、
中频输出信号等
。
[0003]目前，在对电子产品测试的过程中，每测试一个或者几个项目都会更换测试设备，即电子产品的连接器需要多次接入测试设备
。
而现有技术中，电子产品一般需要对多个通道进行测试连接，即每连接一个测试设备都会逐一的将每个通道连接的连接器进行一次拆装，导致较低的测试效率
。
此外，连接器一般都很小，拆装过程很不方便，且可能会出现错接通道的情况
。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种测试工装结构，可以同时连接待测产品的多个连接器，拆装方便，且有效防止错接通道的情况
。
[0005]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0006]提供一种测试工装结构，用于测试待测产品，所述待测产品包括至少一个连接器组件，所述连接器组件包括多个第一连接器，所述测试工装结构包括：
[0007]至少一个插拔组件，所述插拔组件与所述连接器组件一一对应设置，所述插拔组件包括工装主体
、
施力件以及多个第二连接器，所述施力件和多个所述第二连接器均设置于所述工装主体上，所述第二连接器与所述第一连接器可插拔连接；其中，
[0008]背向所述待测产品拉拽所述施力件能分离所述第二连接器与所述第一连接器
。
[0009]可选地，所述第一连接器为
SMP
连接器母头，所述第二连接器的第一端为
SMP
连接器公头，所述第二连接器的第二端为
SMA
连接器
。
[0010]可选地，所述连接器组件包括多个沿第一方向间隔设置的所述第一连接器，所述工装主体上沿第一方向间隔设置有多个所述第二连接器
。
[0011]可选地，所述插拔组件还包括第一螺接件，所述第一螺接件穿设所述第二连接器并与所述工装主体螺纹连接
。
[0012]可选地，所述第二连接器包括两个相对设置的耳部，两个所述耳部上均开设有穿孔，所述第一螺接件设置有两个且一一对应穿设所述穿孔并与所述工装主体螺纹连接
。
[0013]可选地，所述工装主体沿第一方向的两侧边缘均设置有一个所述施力件，所述施力件一端与所述工装主体螺纹连接，另一端设置有头部
。
[0014]可选地，所述施力件包括沿第一方向延伸设置的把手部和设置于所述把手部两端的支撑臂，所述支撑臂固定设置于所述工装主体沿第一方向的两侧边缘
。
[0015]可选地，所述插拔组件还包括定位销，所述待测产品上设置有第一定位孔，所述插拔组件上设置有第二定位孔，所述定位销的一端用于插接所述第一定位孔，所述定位销的第二端与所述第二定位孔插接
。
[0016]可选地，所述定位销的第二端与所述第二定位孔可拆卸连接
。
[0017]可选地，所述插拔组件还包括第二螺接件，所述第二螺接件用于穿设所述待测产品和所述工装主体中的一者并与另一者螺纹连接
。
[0018]本技术的有益效果：
[0019]本技术提供的测试工装结构，将多个第二连接器集成在一个工装主体上，使一个插拔组件对应一个连接器组件进行对接，即可以同时完成对待测产品的多个第一连接器的对接，方便对接，有效提高测试效率，且有效防止错接通道的情况
。
此外，施力件方便抓握，借助施力件，能方便分离第二连接器与第一连接器
。
附图说明
[0020]图1是本技术提供的测试工装结构的一视角结构示意图；
[0021]图2是本技术提供的测试工装结构的另一视角结构示意图；
[0022]图3是本技术提供的测试工装结构的又一视角结构示意图；
[0023]图4是本技术提供的待测产品的一视角结构示意图；
[0024]图5是本技术提供的待测产品的另一视角结构示意图
。
[0025]图中：
[0026]100、
待测产品；
110、
连接器组件；
111、
第一连接器；
120、
测试盒；
121、
底壳；
122、
上盖；
1221、
顶面；
1222、
第一定位孔；
1223、
第一连接部；
130、
第三连接器；
[0027]200、
插拔组件；
210、
工装主体；
211、
第二连接部；
220、
施力件；
221、
头部；
230、
第二连接器；
231、
耳部；
240、
第一螺接件；
250、
定位销；
260、
第二螺接件
。
具体实施方式
[0028]下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明
。
可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定
。
另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构
。
[0029]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系
。
对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义
。
[0030]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触
。
而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征
。
第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测试工装结构，用于测试待测产品
(100)
，所述待测产品
(100)
包括至少一个连接器组件
(110)
，所述连接器组件
(110)
包括多个第一连接器
(111)
，其特征在于，所述测试工装结构包括：至少一个插拔组件
(200)
，所述插拔组件
(200)
与所述连接器组件
(110)
一一对应设置，所述插拔组件
(200)
包括工装主体
(210)、
施力件
(220)
以及多个第二连接器
(230)
，所述施力件
(220)
和多个所述第二连接器
(230)
均设置于所述工装主体
(210)
上，所述第二连接器
(230)
与所述第一连接器
(111)
可插拔连接；其中，背向所述待测产品
(100)
拉拽所述施力件
(220)
能分离所述第二连接器
(230)
与所述第一连接器
(111)。2.
根据权利要求1所述的测试工装结构，其特征在于，所述第一连接器
(111)
为
SMP
连接器母头，所述第二连接器
(230)
的第一端为
SMP
连接器公头，所述第二连接器
(230)
的第二端为
SMA
连接器
。3.
根据权利要求1所述的测试工装结构，其特征在于，所述连接器组件
(110)
包括多个沿第一方向间隔设置的所述第一连接器
(111)
，所述工装主体
(210)
上沿第一方向间隔设置有多个所述第二连接器
(230)。4.
根据权利要求1所述的测试工装结构，其特征在于，所述插拔组件
(200)
还包括第一螺接件
(240)
，所述第一螺接件
(240)
穿设所述第二连接器
(230)
并与所述工装主体<...

【专利技术属性】
技术研发人员：周鹏，张文龙，
申请(专利权)人：合肥芯谷微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：