【技术实现步骤摘要】
一种存内计算装置的测试方法、装置、存储介质及设备
[0001]本申请涉及测试
,具体地涉及一种存内计算装置的测试方法
、
装置
、
存储介质及设备
。
技术介绍
[0002]基于目前人工智能
AI
的大算力低功耗的需求,
CIM(Computing
‑
in
‑
memory
,存内计算
)
技术成为主流
。CIM
技术中,运算过程在存储器中完成,这样可以大幅减少数据迁移造成的能耗与时延,进而提高整体计算效率
。
[0003]CIM
芯片生产后需要检测是否存在异常
。
在一些技术中,首先需要从晶圆上挑出制造无缺陷的芯片,然后将无缺陷的芯片进行封装
。
最后,封装好的芯片再次进行测试,以排除封装失效的芯片
。
无论是晶圆级测试还是封装后的测试,都需要借助
ATE(Automatic Test Equipment
,自动测试设备
)
或人工测试来完成,导致测试时间长且测试成本较高
。
技术实现思路
[0004]有鉴于此,本申请提供一种存内计算装置的测试方法
、
装置
、
存储介质及设备,以利于解决现有技术中测试时间长且成本高的问题
。
[0005]第一方面,本申请实施例提供了一种存内计算装置的测试方法,应用于 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种存内计算装置的测试方法,其特征在于,应用于待测存内计算装置,所述待测存内计算装置包括有多个计算通道,且每个计算通道包括多个乘法器及多级加法器,针对每个待测的计算通道所述方法包括:获取测试数据;所述测试数据包括测试权重数据及测试输入数据;存储所述测试数据中的测试权重数据,基于所述测试输入数据及存储的所述测试权重数据,计算出测试结果;基于所述测试结果及预设比对结果,确定是否存在异常
。2.
根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取测试数据包括:获取第一测试数据,所述第一测试数据包括第一测试权重数据及测试输入数据,所述测试输入数据包括第一测试输入数据及第二测试输入数据,且所述第一测试输入数据中目标比特位的数值与第二测试输入数据中相同比特位的数值不同;所述存储所述测试数据中的测试权重数据,基于所述测试输入数据及存储的所述测试权重数据,计算出测试结果包括:在所述多个乘法器中确定出第一目标乘法器;存储所述第一测试权重数据;将所述第一测试输入数据及存储的所述第一测试权重数据作为所述第一目标乘法器的两个输入数据,计算出第一测试结果;在所述第一测试结果与所述第一测试结果对应的预设第一比对结果相同时,将所述第二测试数据及存储的所述第一测试权重数据作为所述第一目标乘法器的两个输入数据,计算出第二测试结果;所述基于所述测试结果及预设比对结果,确定是否存在异常包括:在所述第一测试结果与所述第一测试结果对应的预设第一比对结果不同,或在所述第二测试结果与所述第二测试结果对应的预设第二比对结果不同时,确定所述待测存内计算装置存在异常
。3.
根据权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:在所述第二测试结果与所述第二测试结果对应的预设第二比对结果相同时,获取第二测试数据;所述第二测试数据包括第二测试权重数据及所述测试输入数据,所述第二测试权重数据中每个比特位的数值与所述第一测试权重数据中相同比特位的数值不同;存储所述第二测试权重数据,将所述第一测试输入数据及存储的所述第二测试权重数据作为所述第一目标乘法器的两个输入数据,计算出第三测试结果;在所述第三测试结果与所述第三测试结果对应的预设第三比对结果相同时,将所述第二测试输入数据及存储的所述第二测试权重数据作为所述第一目标乘法器的两个输入数据,计算出第四测试结果;所述基于所述测试结果及预设比对结果,确定是否存在异常还包括:在所述第三测试结果与所述第三测试结果对应的预设第三比对结果不同,或在所述第四测试结果与所述第四测试结果对应的预设第四比对结果不同时,确定所述待测存内计算装置存在异常
。4.
根据权利要求3所述的方法,其特征在于,还包括:在所述第四测试结果与所述第四测试结果对应的预设第四比对结果相同时,则确定所
述第一目标乘法器无异常,将所述第一目标乘法器标记为第一乘法器,并检测所述多个乘法器中是否存在第二乘法器;所述第二乘法器是指多个乘法器中除所述第一乘法器之外的乘法器;若存在第二乘法器,则基于所述第二乘法器更新第一目标乘法器,并重新执行步骤获取第一测试数据至步骤在所述第四测试结果与所述第四测试结果对应的预设第四比对结果相同时,则确定所述第一目标乘法器无异常,将所述第一目标乘法器确定为第一乘法器,并检测所述多个乘法器中是否存在第二乘法器,直至检测出所述多个乘法器中不存在第二乘法器
。5.
根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员:艾力,徐康健,傅金泉,张钟宣,
申请(专利权)人:杭州智芯科微电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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