【技术实现步骤摘要】
缓冲器和反相器的布局方法、装置和电子设备
[0001]本申请涉及数字集成电路
,具体而言,涉及一种缓冲器和反相器的布局方法
、
装置和电子设备
。
技术介绍
[0002]在数字集成电路布局布线后,待优化驱动门的总负载电容包括驱动的导线电容和负载门的输入端电容之和,通常需要插入缓冲器,以放大信号,从而驱动大电容导线和负载门,从而减小待优化驱动门的逻辑门延迟和互连导线延迟
。
[0003]目前,通常是基于
Van Ginneken Dynamic Programing
(
VGDP
)算法,在使用缓冲器进行优化的情况下,使用动态规划快速求得最优缓冲器插入解,并通过对
VGDP
算法进行改进提高算法速度
。
[0004]然而,上述优化方式只能插入非反向型的缓冲器,无法进一步改进电路延时
。
技术实现思路
[0005]有鉴于此,本申请实施例提供了一种缓冲器和反相器的布局方法
、
装置和电子设备,以进一步改进电路延时
。
[0006]第一方面,本申请实施例提供了一种缓冲器和反相器的布局方法,包括:获取待优化驱动门对应的每个负载门的解,所述每个负载门的解包括:所述每个负载门的输入电容
、
所述每个负载门的信号所需时间以及所述每个负载门的相位指示信息,所述每个负载门的信号所需时间为在满足预设时序约束时,所述每个负载门之后的电路要求所述每个负载门的最迟信 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种缓冲器和反相器的布局方法,其特征在于,包括:获取待优化驱动门对应的每个负载门的解,所述每个负载门的解包括:所述每个负载门的输入电容
、
所述每个负载门的信号所需时间以及所述每个负载门的相位指示信息,所述每个负载门的信号所需时间为在满足预设时序约束时,所述每个负载门之后的电路要求所述每个负载门的最迟信号到达时间,所述每个负载门的相位指示信息用于指示传输至所述每个负载门的信号相位与所述待优化驱动门的信号相位是否一致;根据所述每个负载门的解,沿着预设解传播方向,依次确定多个待插入位置的解集,每个待插入位置的解集中的每个解包括:所述每个待插入位置的输入电容
、
所述每个待插入位置的信号所需时间以及所述每个待插入位置的相位指示信息,所述每个待插入位置的解集中的每个解对应所述每个待插入位置的一个布局方案,所述一个布局方案用于指示在所述每个待插入位置布局缓冲器或反相器或导线,所述预设解传播方向为所述每个负载门到所述待优化驱动门的方向;根据所述预设解传播方向上最后一个待插入位置的解集,确定所述待优化驱动门的解集,所述待优化驱动门的解集中每个解包括:所述待优化驱动门的输入电容
、
所述待优化驱动门的信号所需时间以及所述待优化驱动门的相位指示信息;从所述待优化驱动门的解集中确定满足预设筛选条件的目标解;根据所述目标解以及所述多个待插入位置的解集,分别确定所述多个待插入位置的目标布局方案,以采用所述目标布局方案在所述多个待插入位置进行缓冲器或反相器或导线的布局
。2.
根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个负载门的解,沿着预设解传播方向,依次确定多个待插入位置的解集,包括:根据所述每个待插入位置的多种布局方案,以及所述预设解传播方向上所述每个待插入位置的前一位置的解,确定所述每个待插入位置的解集,所述多种布局方案包括:多种缓冲器布局方案
、
多种反相器布局方案以及导线布局方案;其中,所述预设解传播方向上第一个待插入位置的前一位置的解为:所述每个负载门的解,所述预设解传播方向上其它待插入位置的前一位置的解为:所述其它待插入位置的前一待插入位置的解
。3.
根据权利要求2所述的方法,其特征在于,若目标待插入位置的多种布局方案包括:至少两级布局单元的多种布局方案;所述根据所述每个待插入位置的多种布局方案,以及所述预设解传播方向上所述每个待插入位置的前一位置的解,确定所述每个待插入位置的解集,包括:根据所述目标待插入位置的最后一级布局单元的多种布局方案,以及所述目标待插入位置的前一位置的解,确定所述目标待插入位置的最后一级布局单元的解集;根据所述最后一级布局单元的解集以及所述目标待插入位置的其它级布局单元的多种布局方案,逐级确定所述其它级布局单元的解集;根据所述最后一级布局单元的解集以及所述其它级布局单元的解集,确定所述目标待插入位置的解集,所述目标待插入位置的解集包括:所述最后一级布局单元的解集以及所述其它级布局单元的解集
。4.
根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个待插入位置的多种布局
方案,以及所述预设解传播方向上所述每个待插入位置的前一位置的解,确定所述每个待插入位置的解集,包括:根据所述多种布局方案,以及所述前一位置的解集中的每个解,确定所述每个待插入位置的正相位解集和负相位解集
。5.
根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述多种布局方案,以及所述前一位置的解集中的每个解,确定所述每个待插入位置的正相位解集和负相位解集,包括:根据所述预设筛选条件,分别对所述前一位置的正相位解集中的每个解和负相位解集中的每个解进行筛选,得到所述前一位置的筛选后的正相位解集和筛选后的...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘存明,刘阳,刘鼎成,周泽邦,
申请(专利权)人:深圳鸿芯微纳技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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