【技术实现步骤摘要】
一种蒸镀用电子束偏置设计方法及蒸镀设备
[0001]本申请涉及蒸镀的
,尤其是涉及一种蒸镀用电子束偏置设计方法及蒸镀设备
。
技术介绍
[0002]如图1所示,为蒸镀设备的工作原理示意图,坩埚
12
内装有金属蒸镀料,镀料通过电子枪
11
发射的高能量电子束加热,加热后的镀料气化后,蒸发到收放辊
14
上的高分子膜基膜
15
上实现镀膜,基膜
15
随着收放辊
14
转动,实现连续镀膜
。
[0003]电子枪
11
通过高压发射出高速度的电子束,电子束速度大约为光速的三分之一
。
当电子束轰击到坩埚
12
内的镀料后,一部分电子束被镀料吸收使镀料融化;一部分高能量的电子被反弹到空间中,称为被散射电子;同时镀料加热后其内部也会激发并释放出低能量电子
。
散射电子与激发态电子统称为二次电子
3。
[0004]当二次电子3轰击到基膜
15
上时,会引起基膜
15
的内部微观结构破坏,造成力学性能下降,同时大量二次电子3还会引起基膜
15
的烫损或卷皱,使得镀膜效果变差
。
[0005]目前发现电子束轰击至坩埚的入射角度与二次电子发射系数具有关联,二次电子发射系数随着电子束入射角度变小而减少
。
通过磁场能够改变电子束的入射角度,但如何设置磁场 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种蒸镀用电子束偏置设计方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1
:确定入射角度初始值
θ
;
S2
:根据所述入射角度初始值
θ
计算出电子束的偏转半径
R
;
S3
:根据所述电子束偏转半径
R
确定磁感应强度
B
值;
S4
:建立带电粒子移动轨迹的追踪模型;
S5
:将所述磁感应强度
B
作为拟定磁感应强度
B
’
,以及偏转半径
R
带入追踪模型进行带电粒子移动轨迹追踪模拟得到入射角度模拟值
β
;
S6
:判断入射角度模拟值
β
与入射角度初始值
θ
是否一致;
S7
:若否,调整磁感应强度
B
值,将调整后的磁感应强度
B
值作为所述拟定磁感应强度
B
’
,重复步骤
S5
‑
S6
至入射角度模拟值
β
与入射角度初始值
θ
一致
。2.
根据权利要求1所述的一种蒸镀用电子束偏置设计方法,其特征在于:偏转半径
R
与磁感应强度
B
之间的函数关系式为:其中
,u
为电子束加速电压
。3.
根据权利要求1所述的一种蒸镀用电子束偏置设计方法,其特征在于:入射角度初始值
θ
的设定能够是电子束入射角度改变能够产生减小二次电子
(3)
发射系数效果的临界值
。4.
根据权利要求3所述的一种蒸镀用电子束偏置设计方法,其特征在于:磁场由磁发射器
(13)
产生...
【专利技术属性】
技术研发人员:尹翔,张艳鹏,刘旭,
申请(专利权)人:北京北方华创真空技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。