电路板检测方法及其设备技术

本发明专利技术电路板检测方法及其设备，其就一电路板，预先区分成多个多维阵列的相对大面积待测区块，各相对大面积待测区块分别交由其所对应的一光学检测装置，再次以多维阵列方式进行线宽

【技术实现步骤摘要】
电路板检测方法及其设备


[0001]本专利技术电路板检测方法及其设备，涉及一种电路板的检测技术，尤指一种以双重多维阵列方式进行电路板检测的

。

技术介绍

[0002]印刷电路板是各种通信
、
电子
、
电脑等相关产品中相当重要的零组件之一，值此高密度及高可靠性的商品需求催化下，产品体积普遍要求轻
、
薄
、
短
、
小，加上目前的发展倾向高频与高速，差动讯号线路的设计技术也渐于成熟，高阶印刷电路板内差动线路的线宽被要求须符合原设计公差也日益严谨
。
由于差动讯号及高频线路公差基本要求需控制在
10
％以内，对于电路板生产者来说，所需的管控误差更须控制在5％以内，产品品质才能确保稳定
。
而由于原设计者的设计布局线路往往已经在
3mil
以下，相对的线路工艺管控就需接近
0.15mil
，此时，如何进行后续的精准测量又要符合各种 MSA/MCAG R&R
等测量规范，实一大考验
。
[0003]然而即便能符合精准测量，但电路板为大尺寸排版生产，产制的工作尺寸常见的至少有：
20x16、20x24、24x28、28x32
英寸等大板作业，大板内预先排列有诸多小片电路板，每一小片电路板内又有数组需要进行线宽管控差动等讯号的细微线路，如何在非常大的面积中要对多个很小的线宽进行测量，还要符合经济效益，达到生产速度，至今尚无良方，因此测量速度又再一次限制产品全检的能力
。
[0004]传统上，对于电路板线宽的测量多为使用手持式测量机具进行抽检，该方式耗时
、
效率差，且因采取抽检，无法有效全面管控电路板线路品质变异，一旦不合规定的瑕疵电路板未经检出贸然出货到下游厂商，待其将瑕疵电路板装配零件后进行通电测试发生异常，才发现最终产品有问题的原因在于电路板瑕疵，将造成许多损失；显见，现有技术抽检方式并不可靠
。
近年来虽有业者开发自动检测机台意图就电路板的线距
、
线宽进行全面性测量，然该现有技术因采用单一影像撷取装置的光学检测机构进行检测，导致测量速度过于缓慢，测量效率差，无法实现全检效果，不符合检测上的效率原则
。
[0005]显见，前述现有技术电路板的检测技术，不论是以人工抽检方式或借单一自动测量系统的全检方式，都不符实际需求，实有改进的必要
。
[0006]专利技术人有鉴于此，特以研创成本专利技术，期能借本专利技术的提出，使改进现有大面积电路板的测量缺失，期使电路板的测量技术与功能，得以更臻完善且理想，符合实际需求
。

技术实现思路

[0007]为改善前述现有技术电路板于测量上存在未全面测量或全面测量时效率差等缺失，本专利技术主要目的与手段在于：提供一种电路板检测方法及其设备，其就一电路板的全面积，预先区分成多个多维阵列的相对大面积待测区块，该检测设备中设置有多光学检测装置，各相对大面积待测区块各自交由其所对应的光学检测装置，而后再次以多维阵列的方式就该相对大面积待测区块逐一进行线宽
、
线距或瑕疵的检测
。
通过该种双重多维阵列方
式，不但能就电路板进行全面性的检测，且检测效率较现有技术只设置单一光学检测装置有效提升，达到数倍以上；本专利技术同时满足全面性检测与快速
、
高效率等需求，实电路板检测技术的一大突破
。
[0008]本专利技术优点与功效更明显在于：提供一种电路板检测方法及其设备，由于出厂前每一块电路板都能被快速且全面性的检测，能确保送到下游厂商处的电路板其线宽
、
线距都符合规范
、
无瑕疵问题，以降低现有技术下游厂商将零件组装于瑕疵电路板后才发现异常，衍生损失
、
求偿等问题的机率
。
[0009]为达成上述目的，本专利技术具体的手段为：该电路板检测方法，包括下述步骤：
[0010]步骤一：就一电路板，预先区分成多维阵列的相对大面积待测区块；
[0011]步骤二：各相对大面积待测区块分别对应设有一光学检测装置；
[0012]步骤三：各相对大面积待测区块预先区分成的多维阵列的相对小面积检测区块；
[0013]步骤四：各具碰撞作用的光学检测装置就其所对应的相对小面积检测区块逐一进行检测并取得结果
。
[0014]较佳的其中一种实施例，多个该光学检测装置，能就各自对应的相对小面积检测区块同步移动或各自分别移动以进行检测
。
[0015]较佳的其中一种实施例，该多维阵列的区块数字依需要增减变化，且该光学检测装置，能就各自对应的检测坐标先行移动并固定位置，以对连续送入的电路板进行连续检测
。
[0016]较佳的其中一种实施例，由于电路板生产时发料尺寸大小不同，且电路板内的线路走向有横
、
有直
、
有斜等不同布线位置及走向，就电路板进行前述面积多维阵列区分时，这些光学检测装置的移动须能用以涵盖所有待测面积，以便就电路板内所有面积内的所有线路与位置都能进行光学检测；甚至各光学检测装置能适当越区到相邻的检测区块进行测量，以避免区与区之间的交接处未被测量
。
[0017]较佳的其中一种实施例，该些光学检测装置利用软件程序设计或再搭配感应器，具有移动时避免与相邻的另一光学检测装置发生碰撞的能力
。
[0018]较佳的，本专利技术电路板检测设备，包括一平台，该平台提供电路板放置，该平台得具移动功能或采用固定位置的非能移动作用；该平台悬置有多光学检测装置，该平台具移动或固定位置的作用
。
这些光学检测装置呈多维阵列方式排列，各光学检测装置具纵向
、
横向与高低调变移动能力
。
[0019]较佳的其中一种实施例，这些光学检测装置呈多维阵列方式排列
。
[0020]较佳的其中一种实施例，这些光学检测装置具纵向
、
横向与高低调变移动能力
。
[0021]较佳的其中一种实施例，该光学检测装置，包括一影像撷取装置
、
一光学镜片及一照明光源，能就光学检知结果输出讯号
。
[0022]较佳的其中一种实施例，该光学检测装置，装设于一连接座处，该连接座设置于一第一横移元件上，该第一横移元件一端与一第二横移元件处连接，该第二横移元件两端对应配合连接有一升降元件，且各升降元件底部配合连接到一滑移元件，各滑移元件设于该平台旁缘
。
[0023]较佳的其中一种实施例，该光学检测装置得配置于第二横移元件的任一侧面
。
[0024]较佳的其中一种实施例，该光学检测装置，装设于一连接座处，该连接座设置于该
第二横移元件处，该第二横移元件两端对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种电路板检测方法，其特征在于，包括步骤一：就一电路板，预先区分成多维阵列的相对大面积待测区块；步骤二：各相对大面积待测区块分别对应设有一光学检测装置；步骤三：各相对大面积待测区块皆预先区分成多维阵列的相对小面积检测区块；步骤四：各具碰撞作用的光学检测装置皆就其所对应的相对小面积检测区块逐一进行检测并取得结果
。2.
根据权利要求1所述的一种电路板检测方法，其特征在于，多个该光学检测装置，能就各自对应的相对小面积检测区块同步移动或各自分别移动以进行检测
。3.
根据权利要求1所述的一种电路板检测方法，其特征在于，该多维阵列的区块数字依需要增减变化，且该光学检测装置，能就各自对应的检测坐标先行移动并固定位置，以对连续送入的电路板进行连续检测
。4.
一种电路板检测设备，使用根据权利要求1所述的一种电路板检测方法，其特征在于，该电路板检测设备包括一平台，该平台悬置有多个光学检测装置，该平台具移动或固定位置的作用
。5.
根据权利要求4所述的一种电路板检测设备，其特征在于，这些光学检测装置呈多维阵列方式排列
。6.

【专利技术属性】
技术研发人员：萧正富，萧名慧，萧名心，
申请(专利权)人：八目科技有限公司，
类型：发明
国别省市：