基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及智能检测技术领域，具体为基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法及装置

【技术实现步骤摘要】
基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及智能检测
，具体为基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法及装置
。

技术介绍

[0002]随着计算机技术的发展，计算机主板在电子设备中扮演着至关重要的角色
。
计算机主板由许多电子元器件组成，包括芯片
、
插槽
、
电容等等
。
这些元器件在主板上呈现出复杂的排列和连接方式，给生产过程中的质量检测带来了挑战
。
[0003]传统的计算机主板元器件检测方法主要依赖人工进行，需要大量的人力和时间
。
人工检测存在着一定的局限性，容易出错或漏检，且无法满足大规模生产的需要
。

技术实现思路

[0004]为了解决以上的问题，本申请提供基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法及装置，能够通过机器视觉方案实现对于计算机主板中的元器件进行自动化检测
。
[0005]为了达到上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：第一方面，提供基本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法，其特征在于，所述方法应用于计算机主板产线，所述计算机主板产线包括主板检测位和计算机主板检测位，所述主板检测位用于检测主板是否存在表面缺陷；所述计算机主板检测位用于检测所述主板是否存在性能缺陷，以及所述计算机主板中的多个元器件是否存在性能缺陷；所述方法包括：获取待测主板的待测图像，并根据预存的模板图像在所述待测图像中确定多个检测区域，分别确定各个所述检测区域内是否存在缺陷区域，并根据各个所述缺陷区域的缺陷特征确定所述缺陷区域的缺陷类型；所述模板图像根据所述待测主板对应的标准图像生成；对无缺陷区域的所述计算机主板进行上电，并获取所述计算机主板的电阻数据和湿度数据，并根据所述电阻数据和所述湿度数据确定所述主板是否存在性能缺陷；对无性能缺陷的所述计算机主板中的多个元器件进行上电，并采集多个所述元器件中的实时电压数据和实时温度数据，并根据所述元器件对应的电压修正参数和温度修正参数对所述实时电压数据和所述实时温度数据进行修正得到真实电压数据和真实温度数据，并基于所述元器件所对应的电压阈值和温度阈值确定所述计算机主板的运行性能是否满足要求
。2.
根据权利要求1所述的基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法，其特征在于，所述模板图像包括全局模板图像以及多个分区模板图像；所述获取所述待测主板的待测图像，并根据预存的模板图像在所述待测图像中确定多个检测区域，包括：获取取像部件针对所述待测主板采集的待测图像，并对所述待测图像进行多尺度比例缩放，获得多个不同尺度的尺度待测图像；分别对各个所述尺度待测图像进行滑动遍历，计算各个所述尺度待测图像与所述全局模板图像之间的相似度，选择最高相似度所对应的所述尺度待测图像为最优待测图像；根据所述全局模板图像和所述最优待测图像，确定所述待测主板在所述待测图像中的主板位置以及所述全局模板图像到所述待测图像的仿射变换矩阵；所述仿射变换矩阵表征各个所述分区模板图像到所述待测图像的仿射变换关系；根据所述主板位置以及所述仿射变换矩阵分别将各个所述分区模板图像仿射至所述待测图像，以在所述待测图像中确定多个检测区域；其中，每个所述分区模板图像对应一个检测区域
。3.
根据权利要求2所述的基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法，其特征在于，所述根据所述全局模板图像和多个所述尺度待测图像，确定所述待测主板在所述待测图像中的主板位置以及所述全局模板图像到所述待测图像的仿射变换矩阵，包括：根据所述全局模板图像和所述最优待测图像确定所述全局模板图像与所述待测图像之间的变换参数，并根据所述变换参数和预设的单位矩阵，确定所述全局模板图像到所述待测图像的仿射变换矩阵
。4.
根据权利要求3所述的基于机器视觉的计算机主板元器件智能检测方法，其特征在于，所述确定各个所述检测区域内是否存在缺陷区域，并根据各个所述缺陷区域的缺陷特征确定所述缺陷区域的缺陷类型，包括：基于所述分区模板图像确定该分区所对应的图像检测模型，将各个所述检测区域所对应的区域图像分别输入至对应的图像检测模型中确定是否为缺陷区域以及所述缺陷区域的缺陷类型；所述图像检测模型为训练后呈收敛状态的
Faster
‑
RCNN
模型，所述图像检测模

【专利技术属性】
技术研发人员：李洪明，李晓涛，乐磊，李伟，
申请(专利权)人：深圳市吉方工控有限公司，
类型：发明
国别省市：