螺丝锁紧检测方法技术

本发明专利技术公开了一种螺丝锁紧检测方法

【技术实现步骤摘要】
螺丝锁紧检测方法、装置、系统和存储介质


[0001]本专利技术涉及穿戴式装置生产的
，尤其涉及一种螺丝锁紧检测方法
、
装置
、
系统和存储介质
。

技术介绍

[0002]当前人们生活水平提升，购买穿戴式裝置的消费者变多，对于手表的功能需求也慢慢变多
,
所以市面上的手表，必须搭載着不同的天线裝置，如
NFC
天线
、Wi
‑
Fi
天线
、LTE
天线和
UWB
天线
。
[0003]目前穿戴式装置通常包括机壳
、
电路板
、
固定机构和天线，固定机构包括支架和螺丝，电路板包括固定部，固定部位于支架和机壳之间，螺丝穿过支架与机壳螺纹连接，实现固定电路板，天线与电路板电连接，螺丝
、
机壳和电路板的地构成天线的参考地结构
。
当前产线锁紧螺丝的方式，通常是采用人工或者机器手臂，但目前只能检测是否有安装螺丝，无法检测螺丝是否锁紧，当螺丝未锁紧时，可能会影响穿戴式设备的性能，也容易造成后期使用中螺丝的脱落，使得穿戴式装置的不良率较高
。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种螺丝锁紧检测方法
、
装置
、
系统和存储介质，以解决螺丝未锁紧导致的穿戴式装置的不良率较高的问题
。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种螺丝锁紧检测方法，用于穿戴式装置，所述穿戴式装置包括机壳
、
电路板
、
固定机构和天线，所述固定机构包括支架和螺丝，所述电路板包括固定部，所述固定部位于所述支架和所述机壳之间，所述螺丝穿过所述支架与所述机壳螺纹连接以实现固定所述电路板，所述螺丝
、
所述机壳和所述电路板的地构成所述天线的参考地结构，所述天线用于与所述电路板电连接；所述螺丝锁紧检测方法包括：
[0006]获取当前穿戴式装置的天线与电路板连接时的当前反射损耗；
[0007]基于所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧
。
[0008]在本专利技术可选的实施例中，所述基于所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧包括：
[0009]获取标准反射损耗；
[0010]基于所述标准反射损耗和所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧
。
[0011]在本专利技术可选的实施例中，所述基于所述标准反射损耗和所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧，包括：
[0012]确定所述当前反射损耗与所述标准反射损耗的差值是否大于预设损耗差值阈值；
[0013]若所述当前反射损耗与所述标准反射损耗的差值大于预设损耗差值阈值，确定螺丝未锁紧；
[0014]若所述当前反射损耗与所述标准反射损耗的差值小于或等于预设损耗差值阈值，确定所述螺丝锁紧
。
[0015]在本专利技术可选的实施例中，所述预设损耗差值阈值大于
2dB
且小于
4dB。
[0016]在本专利技术可选的实施例中，所述预设损耗差值阈值为
3dB。
[0017]在本专利技术可选的实施例中，所述机壳
、
所述电路板和所述固定机构构成待测主体，所述电路板包括天线馈入点
、
天线匹配电路和检测点，所述天线匹配电路电连接于所述检测点和所述天线馈入点之间，所述天线用于与所述天线馈入点电连接；所述获取当前穿戴式装置的天线与电路板连接时的当前反射损耗，包括：
[0018]将当前穿戴式装置的待测主体固定；
[0019]控制天线运动至与天线馈入点电连接；
[0020]对检测点的反射损耗进行检测以得到所述当前穿戴式装置的当前反射损耗
。
[0021]在本专利技术可选的实施例中，所述电路板还包括射频模组和射频切换开关模组，所述射频切换开关模组设置在所述检测点和所述射频模组之间；所述对检测点的反射损耗进行检测以得到所述天线的当前反射损耗之前，还包括：
[0022]控制射频切换开关模组切换至开路状态；
[0023]相应的，所述对检测点的反射损耗进行检测以得到所述当前穿戴式装置的当前反射损耗，包括：
[0024]对检测点的反射损耗进行检测以得到所述天线
、
天线匹配电路和参考地结构的当前反射损耗
。
[0025]根据本专利技术的另一方面，提供了一种螺丝锁紧检测装置，该螺丝锁紧检测装置包括：
[0026]获取模块，用于获取当前穿戴式装置的天线与电路板连接时的当前反射损耗；
[0027]确定模块，用于基于所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧
。
[0028]根据本专利技术的另一方面，提供了一种螺丝锁紧检测系统，所述螺丝锁紧检测系统包括：
[0029]损耗检测装置，用于检测反射损耗；
[0030]至少一个处理器；以及
[0031]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0032]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的螺丝锁紧检测方法
。
[0033]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的螺丝锁紧检测方法
。
[0034]本专利技术实施例的技术方案，通过获取当前穿戴式装置的天线与电路板连接时的当前反射损耗，然后基于所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧，故能够精准的判断螺丝是否锁紧，减少因为螺丝没锁紧而造成穿戴式装置组成整机后的天线性能影响，降低不良品和返工成本，进而提高生产效率，解决了螺丝未锁紧导致的穿戴式装置的不良率较高的问题
。
[0035]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围
。
本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解
。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0037]图1为本专利技术实施例提供的一种穿戴式装置的机壳与电路板的连接示意图；
[0038]图2为本专利技术实施例提供的一种穿戴式装置的固定机构与电路板的连接示意图；
[0039]图3是本专利技术实施例提供的一种穿戴式装置进行检测的场景示意图；
[0040]图4是图3中的穿戴式装置进行检测的检测示意图；
[0041]图5为本专利技术实施例一提供的一种螺丝锁紧检测方法的流程图；
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种螺丝锁紧检测方法，用于穿戴式装置，所述穿戴式装置包括机壳
、
电路板
、
固定机构和天线，所述固定机构包括支架和螺丝，所述电路板包括固定部，所述固定部位于所述支架和所述机壳之间，所述螺丝穿过所述支架与所述机壳螺纹连接以实现固定所述电路板，所述螺丝
、
所述机壳和所述电路板的地构成所述天线的参考地结构，所述天线用于与所述电路板电连接；其特征在于，所述螺丝锁紧检测方法包括：获取当前穿戴式装置的天线与电路板连接时的当前反射损耗；基于所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧
。2.
根据权利要求1所述的螺丝锁紧检测方法，其特征在于，所述基于所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧包括：获取标准反射损耗；基于所述标准反射损耗和所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧
。3.
根据权利要求2所述的螺丝锁紧检测方法，其特征在于，所述基于所述标准反射损耗和所述当前反射损耗确定螺丝是否锁紧，包括：确定所述当前反射损耗与所述标准反射损耗的差值是否大于预设损耗差值阈值；若所述当前反射损耗与所述标准反射损耗的差值大于预设损耗差值阈值，确定螺丝未锁紧；若所述当前反射损耗与所述标准反射损耗的差值小于或等于预设损耗差值阈值，确定所述螺丝锁紧
。4.
根据权利要求3所述的螺丝锁紧检测方法，其特征在于，所述预设损耗差值阈值大于
2dB
且小于
4dB。5.
根据权利要求4所述的螺丝锁紧检测方法，其特征在于，所述预设损耗差值阈值为
3dB。6.
根据权利要求1至5中任一项所述的螺丝锁紧检测方法，其特征在于，所述机壳
、
所述电路板和所述固定机构构成待测主体，所述电路板包括天线馈入点<...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄襄临，杨原濡，
申请(专利权)人：立讯智造浙江有限公司，
类型：发明
国别省市：