一种外延设备用晶圆传送系统及传送方法技术方案

技术编号:39570610 阅读:24 留言:0更新日期:2023-12-03 19:21
本发明专利技术公开了一种外延设备用晶圆传送系统及传送方法,包括:料腔

【技术实现步骤摘要】
一种外延设备用晶圆传送系统及传送方法


[0001]本专利技术属于外延设备
,具体涉及一种外延设备用晶圆传送系统及传送方法


技术介绍

[0002]目前,外延炉是通过机械手将晶圆从上料腔传至传送腔再传至反应室,待反应生长完后,再使用机械手将反应室内晶圆取至传送腔,最后送回下料腔

[0003]当前晶圆传送系统的传送方法存在以下缺点:
[0004]1、
在晶圆传送进入反应室过程中,沿路上的颗粒

副产物落在晶圆表面,导致外延过程中形成缺陷,影响外延层质量

[0005]2、
在晶圆传送进入反应室过程中,冷的晶圆进入热腔室内,晶圆表面骤热发生应力变化,影响晶圆翘曲,导致膜厚与掺杂浓度均匀性不受生长工艺调控,严重时更会直接开裂

[0006]3、
在晶圆传回至下料腔过程中,热晶圆容易受下料腔内气氛影响表面状态,严重时被氧化,破坏外延层质量

[0007]4、
无法避免晶圆骤热和过热,全程采用极其缓慢的传输速度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种外延设备用晶圆传送系统,其特征在于,包括:料腔
(1)、
机械手
(2)、
传送腔
(3)、
门阀
(4)、
反应室
(5)、
测温探头
(6)、
热偶
(7)
和介质流道
(9)
;所述传送腔
(3)
的输入端和输出端分别通过门阀
(4)
与料腔
(1)
和反应室
(5)
连接;所述传送腔
(3)
内设有机械手
(2)
和多个热偶
(7)
,传送腔
(3)
顶部外侧设有多个测温探头
(6)
,所述机械手
(2)
用于实现晶圆在料腔
(1)、
传送腔
(3)
和反应室
(5)
之间传送,所述测温探头
(6)
用于监测晶圆在传送过程中的温度变化,所述热偶
(7)
用于监测传送腔
(3)
内的温度变化;所述传送腔
(3)
外侧设有介质流道
(9)
,所述介质流道
(9)
通入介质,以实现晶圆在传送腔
(3)
内加热或降温;所述料腔
(1)、
机械手
(2)
和传送腔
(3)
中均设有多个独立控制的吹扫口,用于实现传送过程中的晶圆保持吹扫状态
。2.
根据权利要求1所述的外延设备用晶圆传送系统,其特征在于,所述介质流道
(9)
包括多条平行设置的子流道,各子流道独立控制通断,并独立控制输入的介质种类;晶圆由料腔
(1)
上料至反应室
(5)
的过程中,介质流道
(9)
内通入热介质对晶圆进行加热;晶圆由反应室
(5)
下料至料腔
(1)
的过程中,介质流道
(9)
内通入冷介质对晶圆进行冷却
。3.
根据权利要求2所述的外延设备用晶圆传送系统,其特征在于,多个所述测温探头
(6)
均布在传送腔
(3)
的输入端和输出端之间
。4.
根据权利要求3所述的外延设备用晶圆传送系统,其特征在于,多个热偶
(7)
均布在传送腔
(3)
的输入端和输出端之间,且热偶
(7)
的分布与介质流道
(9)
的子流道分布相匹配
。5.
根据权利要求4所述的外延设备用晶圆传送系统,其特征在于,还包括载片盘
(8)
,所述载片盘
(8)
用于承载晶圆;机械手
(2)
的机械手指
(21)
用于抓取载片盘
(8)
,且机械手指
(21)
上部和底部设有多个独立控制的吹扫口,以实现对晶圆表面和底部进行吹扫
。6.
根据权利要求5所述的外延设备用晶圆传送系统,其特征在于,所述料腔
(1)
上设有料腔吹扫口
(11)
;所述传送腔
(3...

【专利技术属性】
技术研发人员:巴赛胡凡巩小亮万胜强刘柱
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第四十八研究所
类型:发明
国别省市:

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