【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要涉及半导体光电器件，具体涉及一种半导体激光器的老化筛选测试系统及测试方法。
技术介绍
1、随着半导体光电器件制造技术的飞速发展，对光电器件的可靠性要求越来越高。如何提高光电器件的可靠性，达到使用的要求，那么就要针对器件的失效规律提出合适的筛选方法。半导体激光器的失效虽然是随机事件，但也存在一定规律性，大量使用和试验表明，器件失效率曲线是两端高、中间低，呈浴盆状，如图1所示。器件失效大致分为三个阶段，早期失效期、偶然失效期和损耗失效期。早期失效期出现在器件开始工作的初期，特点是失效率高，可靠性低；偶然失效期出现在早期失效期之后，特点是失效率相对较低，且稳定；损耗失效期，损耗失效率出现在产品后期，与早期失效期相反，失效率会随着工作时间迅速上升。
2、光电器件的性能和寿命受到多种因素的影响，其中老化筛选测试是确保产品质量的关键环节。针对光电器件的早期失效期，开展半导体激光器的老化筛选测试，选择具有一定特性的产品或剔除早期失效产品。现有技术中，半导体激光器的老化筛选测试测试方法存在以下问题：
3、1、效率低...
【技术保护点】
1.一种半导体激光器的老化筛选测试系统，其特征在于，包括单片机、恒流源驱动单元、TEC温度控制单元、高低温环境箱、数据采集单元、工控机和显示单元；待测激光器安装于所述高低温环境箱内；所述单片机通过恒流源驱动单元和TEC温度控制单元与待测激光器相连；所述数据采集单元分别与单片机和待测激光器相连；所述工控机分别与所述数据采集单元、显示单元和待测激光器相连。
2.根据权利要求1所述的半导体激光器的老化筛选测试系统，其特征在于，待测激光器依次经跨阻放大单元、低通滤波单元与数据采集单元相连。
3.根据权利要求1所述的半导体激光器的老化筛选测试系统，其特征...
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器的老化筛选测试系统，其特征在于，包括单片机、恒流源驱动单元、tec温度控制单元、高低温环境箱、数据采集单元、工控机和显示单元；待测激光器安装于所述高低温环境箱内；所述单片机通过恒流源驱动单元和tec温度控制单元与待测激光器相连；所述数据采集单元分别与单片机和待测激光器相连；所述工控机分别与所述数据采集单元、显示单元和待测激光器相连。
2.根据权利要求1所述的半导体激光器的老化筛选测试系统，其特征在于，待测激光器依次经跨阻放大单元、低通滤波单元与数据采集单元相连。
3.根据权利要求1所述的半导体激光器的老化筛选测试系统，其特征在于，待测激光器通过夹具安装于所述高低温环境箱内。
4. 根据权利要求1或2或3所述的半导体激光器的老化筛选测试系统，其特征在于，所述工控机具备rs485 rs232接口，以实现老化系统的自动控制与数据采集；工控机配置...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘兵，李松辉，王振翔，曾佳慧，杨胜嵘，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十八研究所，
类型：发明
国别省市：
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