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本发明公开了一种半导体激光器的老化筛选测试系统及测试方法，测试系统包括单片机、恒流源驱动单元、TEC温度控制单元、高低温环境箱、数据采集单元、工控机和显示单元；待测激光器安装于所述高低温环境箱内；所述单片机通过恒流源驱动单元和TEC温度控制...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十八研究所授权不得商用。

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