【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路输出信号同步性测试，尤其涉及一种电路输出信号同步性测试方法及相关设备。
技术介绍
1、大规模集成电路同步输出信号的同步性直接影响电路中数据传输的可靠性和准确性，因此对同步输出信号的时间间隔测量是评估电路功能、提升产品可靠性的重要测试环节，常采用自动测试设备(auto test equipment)来进行测试，自动测试设备是对被测对象自动进行性能验证和故障诊断并对故障予以隔离的测试设备。
2、在现有技术中，对同步输出信号的时间间隔测量通常采用向量保障的方法，但是此种方法存在一些不足：一方面由于受到向量运行最大频率(通常为200mhz)的限制，测量精度最高只能达到5ns，而器件手册中的测量精度标准一般需要达到1ns，因此无法满足对一系列时序参数精准测量的要求；另一方面，采取高频的向量保障方法对测试硬件尤其是外围接口板、线路等要求极高，存在无法运行的风险。在以数字信号处理器(dsp)为代表的高频大规模电路中对于同步输出信号的时间间隔无法在自动测试设备单次完整测试，需要额外借助示波器、逻辑分析仪等外接资源手动测试，...
【技术保护点】
1.一种电路输出信号同步性测试方法，其特征在于，应用于自动测试设备，所述自动测试设备包括依次连接的数据处理单元和时间测量单元，所述时间测量单元包括计数器，将待测试的高频电路作为待测器件，所述待测器件上的多个待测管脚通过所述自动测试设备内部的总线与所述数据处理单元进行信号传输，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测器件的时钟信号的时钟周期确定所述时间测量单元的采样时段，包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测器件的时钟信号的第一属性信息确定虚拟使能信号的第二属性信息，并使得所述虚拟使能信号...
【技术特征摘要】
1.一种电路输出信号同步性测试方法，其特征在于，应用于自动测试设备，所述自动测试设备包括依次连接的数据处理单元和时间测量单元，所述时间测量单元包括计数器，将待测试的高频电路作为待测器件，所述待测器件上的多个待测管脚通过所述自动测试设备内部的总线与所述数据处理单元进行信号传输，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测器件的时钟信号的时钟周期确定所述时间测量单元的采样时段，包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测器件的时钟信号的第一属性信息确定虚拟使能信号的第二属性信息，并使得所述虚拟使能信号触发计数器的时间早于所述待测管脚的输出信号的起始时间，包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述时间测量单元中主频的扫描周期和所述时间测量单元的连续采集时长阈值确定冗余时间，包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时间测量单元在接收到所述虚拟使能信号...
【专利技术属性】
技术研发人员：于望，熊耀斌，刘江城，温景超，李明明，王国栋，刘思嘉，胡涵，郭焕焕，贾博涛，汪翔，刘开，
申请(专利权)人：中国运载火箭技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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