一种射线源性能检测装置及方法制造方法及图纸

本申请属于射线源检测技术领域，公开了一种射线源性能检测装置及方法，包括操作台，操作台一端设置有立柱，立柱上滑动设置有横向滑槽，横向滑槽的槽口背对立柱设置，横向滑槽内滑动设置有感应器，感应器与上位机连接并将测得的数据上传到上位机上，操作台上沿长度方向滑动设置有滑动座，滑动座上设置有旋转台，旋转台上用于放置待测射线源

【技术实现步骤摘要】
一种射线源性能检测装置及方法


[0001]本专利技术涉及射线源检测
，特别涉及一种射线源性能检测装置及方法
。

技术介绍

[0002]X
射线源是
X
射线透射式检测的核心组成设备，其稳定性与可靠性决定了
X
射线投射式检测性能
。X
射线是高速运动的电子在与物质相互作用中产生的
。
在
X
射线管中，从阴极发射的电子，经阴极
、
阳极间的电场加速后，轰击
X
射线管靶，将其动能传递给靶上的原子
。
其中约有1％左右的能量转化为
X
射线，并从
X
射线照射窗中射出
。
阴极发射的电子会被聚焦到靶上的一个点，称为
X
射线焦点；所发出的
X
射线均从
X
射线焦点以一个特定的发射角射出
。
[0003]X
射线源的性能主要包括五个参数：管电压
、
管电流
、
焦点尺寸
、
发射角和聚焦到物体的距离
。
不同材料对于较高的管电压可以发出较高能量的
X
射线光子，能够穿透较厚的样品，所以管电压越高，
X
射线的穿透能力越强
。X
射线源的焦点尺寸越小，图像的分辨率越高，图片也越清晰
。
管电流越大，单位时间内照射到样品上的
>X
射线光子就越多，成像的信噪比越好，所需的曝光时间也越短
。
样品厚的可以考虑调高管电压；样品的结构精细可以选择较小的焦点尺寸；希望缩短成像时间，则可以尝试增加管电流，为了图像的质量，需要选择较小的焦点尺寸和较高的管电流
。
若要增加管电压，聚焦在焦点上的功率会增强，过高的能量容易打坏产生
X
射线的管靶，会导致在保证图像质量的情况下难以兼顾后样品成像的穿透能力；在大多数情况下，希望样品在一次拍照中就完成成像，所以
X
射线源的窗口大小起着至关重要的作用
。
此外不同材料对
X
射线的透过率不同
。
其中铍的透过率最好，当
X
射线的能量达到
3Kev
时就能有
50
％以上的射线透过，而这方面体现在
X
射线的剂量参数上
。
所以对于射线源性能的测试尤为重要
。
[0004]现有技术主要通过等间距放多个探测设备进行实时检测
X
射线源的剂量值，这种方式需要使用多个探测设备，种设备体积巨大，不易携带放置，并且只能测得
X
射线源的剂量值，无法同时测量
X
射线源的焦点尺寸
、
出束口大小等其他参数，使用不便
。

技术实现思路

[0005]为了解决上述问题，本专利技术提供一种射线源性能检测装置及方法
。
[0006]本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种射线源性能检测装置，包括操作台，所述操作台一端设置有立柱，所述立柱上滑动设置有横向滑槽，所述横向滑槽的槽口背对立柱设置，所述横向滑槽内滑动设置有感应器，所述感应器与上位机连接并将测得的数据上传到上位机上，所述操作台上沿长度方向滑动设置有滑动座，所述滑动座上设置有旋转台，所述旋转台上用于放置待测射线源
。
[0007]通过采用上述技术方案，将感应器通过横向滑槽
、
立柱设置在操作台上，便于调整感应器的位置，再将待测射线源通过旋转台
、
滑动座设置在操作台上，可以调整待测射线源的位置和角度，这样通过对待测射线源进行移动和旋转，利用感应器测量待测射线源的剂
量值及其变化情况，就可以检测出待测射线源的剂量值
、
出束口大小
、
焦点尺寸等参数，从而判断待测射线源的标定参数是否准确，使得射线源的性能检测更加简单方便
。
[0008]进一步的，所述操作台上设置有固定座，所述固定座上平行间隔布置有两条第一滑轨，所述滑动座滑动设置在第一滑轨上，所述固定座上还转动设置有第一丝杆，所述第一丝杆的一端设置有第一转动盘，所述滑动座底部开设有螺纹孔与第一丝杆螺旋连接
。
[0009]通过采用上述技术方案，设置第一滑轨和第一丝杆，通过转动第一转动盘带动第一丝杆转动，从而驱动滑动座在第一滑轨上滑动，便于调节待测射线源与感应器之间的距离
。
[0010]进一步的，所述旋转台包括固定设置在滑动座上的底座，所述底座上转动设置有转盘，所述转盘上设置有刻度，所述底座上还设置有驱动转盘转动的驱动电机
。
[0011]通过采用上述技术方案，将转盘转动设置在底座上，并在转盘上设置刻度，方便待测射线源的旋转以及记录转动角度
。
[0012]进一步的，所述立柱上设置有第二滑轨，所述第二滑轨上滑动设置有滑块，所述立柱上还转动设置有第二丝杆，所述第二丝杆的顶端设置有第二转动盘，所述滑块上开设有螺纹孔与第二丝杆螺旋连接，所述滑块与横向滑槽槽底固定连接
。
[0013]通过采用上述技术方案，设置第二滑轨
、
第二丝杆，通过转动第二转动盘带动第二丝杆转动，从而驱动横向滑槽在立柱上上下滑动，便于调节感应器的高度，以使得感应器能够对准待测射线源窗口，可使用时不同型号的射线源
。
[0014]进一步的，所述感应器上设置有锁止机构
。
[0015]通过采用上述技术方案，设置锁止机构，使得感应器在横向滑槽内滑动到指定位置后，将感应器锁死，避免其在横向滑槽内继续滑动，从而防止在检测过程中感应器滑动影响检测结果的准确性
。
[0016]进一步的，还包括移动小车，所述操作台固定设置在移动小车上
。
[0017]通过采用上述技术方案，设置移动小车并将操作台固定在移动小车上，使得整个装置可以随移动小车运动，可以随时随地进行检测工作，更加方便
。
[0018]一种射线源性能检测方法，包括以下步骤：
[0019]S1
：将待测射线源放置到转盘上，使待测射线源窗口所在平面与横向滑槽平行；
[0020]S2
：转动第二转动盘调节横向滑槽的高度，再调节感应器在横向滑槽内的位置，使得感应器对准待测射线源窗口的中心位置后锁死感应器；
[0021]S3
：转动第一转动盘调节滑动座在固定座上的位置，使待测射线源与感应器之间达到标定距离；
[0022]S4
：启动驱动电机驱动转盘转动，感应器检测待测射线源的剂量值并上传至上位机；
[0023]S5
：上位机根据待测射线源的剂量值的变化曲线测算出待测射线源的剂量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种射线源性能检测装置，其特征是：包括操作台
(10)
，所述操作台
(10)
一端设置有立柱
(20)
，所述立柱
(20)
上滑动设置有横向滑槽
(21)
，所述横向滑槽
(21)
的槽口背对立柱
(20)
设置，所述横向滑槽
(21)
内滑动设置有感应器
(22)
，所述感应器
(22)
与上位机连接并将测得的数据上传到上位机上，所述操作台
(10)
上沿长度方向滑动设置有滑动座
(30)
，所述滑动座
(30)
上设置有旋转台
(40)
，所述旋转台
(40)
上用于放置待测射线源
(A)。2.
根据权利要求1所述的一种射线源性能检测装置及方法，其特征是：所述操作台
(10)
上设置有固定座
(50)
，所述固定座
(50)
上平行间隔布置有两条第一滑轨
(51)
，所述滑动座
(30)
滑动设置在第一滑轨
(51)
上，所述固定座
(50)
上还转动设置有第一丝杆
(52)
，所述第一丝杆
(52)
的一端设置有第一转动盘
(53)
，所述滑动座
(30)
底部开设有螺纹孔与第一丝杆
(52)
螺旋连接
。3.
根据权利要求1所述的一种射线源性能检测装置及方法，其特征是：所述旋转台
(40)
包括固定设置在滑动座
(30)
上的底座
(41)
，所述底座
(41)
上转动设置有转盘
(42)
，所述转盘
(42)
上设置有刻度，所述底座
(41)
上还设置有驱动转盘
(42)
转动的驱动电机
(43)。4.
根据权利要求1所述的一种射线源性能检测装置及方法，其特征是：所述立柱
(20)
上设置有第二滑轨
(23)
，所述第二滑轨
(23)
上滑动设置有滑块
(24)
，所述立柱
(20)
上还转动设置有第二丝杆
(25)
...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐天权，王炳，
申请(专利权)人：爱克斯瑞真空技术苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：