一种便于测试制造技术

本实用新型专利技术提供了一种便于测试

【技术实现步骤摘要】
一种便于测试MLCC端电极附着力的测试工装


[0001]本申请涉及
MLCC
领域，尤其是涉及一种便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装
。

技术介绍

[0002]MLCC
即多层片式陶瓷电容器，是电子产品中用量最大的一种元器件，其使用寿命
、
性能和可靠性与端电极浆料的附着力密切相关
。
因此，测试
MLCC
端电极附着力是生产过程中必不可少的一个步骤
。
目前市场上主要是在
MLCC
产品端电极烧端
、
镀镍
、
镀锡后，焊接于产品再测试拉力和推力
。
[0003]MLCC
包括陶瓷电容主体和设置于陶瓷电容两端的端电极；现有技术中，在端电极烧端后
‑
电镀前，多是不检测附着力或简单夹持产品后用刀片刮端头按经验判断，该方式存在夹持力难以控制
、
定位不准确
、
无清晰数据等问题，影响了测试结果的精准性和重复性
。

技术实现思路

[0004]为了在端电极烧端后
‑
电镀前期间，提高检测
MLCC
端电极检测的方便性和准确性，本申请提供一种便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装
。
[0005]为解决上述问题，本技术的技术方案为：
[0006]一种便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，包括：
[0007]底座，设置在所述底座上的固定块；
[0008]固定槽，开设于所述固定块上并由此形成用于固定待测陶瓷电容的空腔，所述固定槽在其高度方向上低于待测陶瓷电容高度使得待测陶瓷电容的端电极侧壁突出于所述固定槽；
[0009]测试头，滑移连接于所述固定块表面，并且所述测试头朝向固定槽；所述测试头用于抵接于端电极侧壁并推动端电极和待测陶瓷电容主体分离，并得到附着力参数
。
[0010]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述固定槽在其长度方向上大于待测陶瓷电容的长度，且所述固定槽长度减去待测陶瓷电容长度的差值为
a
，
a
取值范围
[0,0.1]mm。
[0011]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述固定槽在其宽度方向上大于待测陶瓷电容的宽度，且所述固定槽宽度减去待测陶瓷电容宽度的差值为
b
，
b
取值范围
[0,0.1]mm。
[0012]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述固定槽在其高度方向上小于待测陶瓷电容的高度，且所述固定槽高度减去待测陶瓷电容高度的差值为
c
，
c
取值范围
[
‑
0.05
，
0]mm。
[0013]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述固定槽长度减去待测陶瓷电容长度的差值为
a
，
a
取
0.05mm
；所述固定槽宽度减去待测陶瓷电容宽度的差值为
b
，
b
取
0.05mm
；所述固定槽高度减去待测陶瓷电容高度的差值为
c
，
c
取
‑
0.03mm。
[0014]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述底座上开设有至少一
个第一定位槽，所述固定块上开设有和所述第一定位槽对应的第二定位槽；所述底座上卡接有位于所述第一定位槽内的安装块，所述安装块同时卡接于所述第二定位槽内
。
[0015]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述固定块为圆柱体结构
。
[0016]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述固定块的材料为钨钢
。
[0017]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述测试头包括测试端和连接与所述测试端的安装端，所述安装端开设有便于固定外部拉力计的安装槽；所述测试端用于抵接于端电极侧壁
。
[0018]本技术的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，所述测试端的宽度大于端电极侧壁的宽度
。
[0019]本技术由于采用以上技术方案，使其与现有技术相比具有以下的优点和积极效果：
[0020]一
、
通过将待测陶瓷电容放入固定块的固定槽内，实现将陶瓷电容固定，然后通过测试头抵接于端电极侧壁并推动端电极和待测陶瓷电容主体分离，最终实现测得附着力参数；
[0021]由此，该
MLCC
可以不再连接于产品，然后对其进行附着力的检测；该系统下，在
MLCC
端电极烧端后立即测试附着力，提高了检测效率，准确测试端电极附着力，且，测试结果精准可重复；
[0022]按高精度加工形成的固定槽，使得固定待测陶瓷电容放入固定槽内的精度更加准确，可以在不损伤
MLCC
的前提下将
MLCC
卡入固定槽内；
[0023]尤其实在常规
，采用夹持方式，其夹持力对测试结果影响很大，如果夹持力小则产品测试时容易偏移甚至掉落，如果夹持力大可能导致产品损伤甚至夹碎，每次测试结果相差度大，不精准且不好重复测试；但该方案下通过测试抵接推动，减小导致产品损伤甚至夹碎的可能性
。
[0024]二
、
固定块和底座通过安装块实现可拆卸连接，由此可变更固定槽的尺寸，使得该系统可适应更多规格尺寸的陶瓷电容
。
附图说明
[0025]图1本申请实施例的便于测试
MLCC
端电极附着力的底座
、
固定块的结构示意图
[0026]图2本申请实施例的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试头示意图
[0027]图3本申请实施例的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试示意图
[0028]附图标记说明：
1、
底座；
2、
固定块；
3、
固定槽；
4、
测试头；
5、
安装槽；
6、
安装块
。
具体实施方式
[0029]以下结合附图和具体实施例对本技术提出的一种便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装作进一步详细说明
。
根据下面说明和权利本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，其特征在于，包括：底座，设置在所述底座上的固定块；固定槽，开设于所述固定块上并由此形成用于固定待测陶瓷电容的空腔，所述固定槽在其高度方向上低于待测陶瓷电容高度使得待测陶瓷电容的端电极侧壁突出于所述固定槽；测试头，滑移连接于所述固定块表面，并且所述测试头朝向固定槽；所述测试头用于抵接于端电极侧壁并推动端电极和待测陶瓷电容主体分离，并得到附着力参数
。2.
根据权利要求1所述的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，其特征在于，所述固定槽在其长度方向上大于待测陶瓷电容的长度，且所述固定槽长度减去待测陶瓷电容长度的差值为
a
，
a
取值范围
[0,0.1]mm。3.
根据权利要求1所述的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，其特征在于，所述固定槽在其宽度方向上大于待测陶瓷电容的宽度，且所述固定槽宽度减去待测陶瓷电容宽度的差值为
b
，
b
取值范围
[0,0.1]mm。4.
根据权利要求1所述的便于测试
MLCC
端电极附着力的测试工装，其特征在于，所述固定槽在其高度方向上小于待测陶瓷电容的高度，且所述固定槽高度减去待测陶瓷电容高度的差值为
c
，
c
取值范围
[
‑
0.05
，
0]mm。5.
根据权利要求1所述的便于测试
MLCC
端...

【专利技术属性】
技术研发人员：向晋钰，李宇彤，谈启明，李华健，
申请(专利权)人：上海匠聚新材料有限公司，
类型：新型
国别省市：