一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统，涉及数据处理领域，其中，所述方法包括：根据测试控制信息和基础信息生成多场景测试方案；通过多场景测试方案控制测试装置执行包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；生成验证测试信息；生成验证数据集；基于验证测试信息对磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果

【技术实现步骤摘要】
一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统


[0001]本专利技术涉及数据处理领域，具体地，涉及一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统
。

技术介绍

[0002]随着包装薄膜的广泛应用，包装薄膜的各项性能指标受到人们的广泛关注
。
磨损性能是包装薄膜的重要性能指标之一
。
现有技术中，存在针对包装薄膜的磨损测试分析精准性低，进而造成包装薄膜的磨损测试分析质量不高的技术问题
。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统
。
解决了现有技术中针对包装薄膜的磨损测试分析精准性低，进而造成包装薄膜的磨损测试分析质量不高的技术问题
。
达到了提高包装薄膜的磨损测试分析精准性，提升包装薄膜的磨损测试分析质量的技术效果
。
[0004]鉴于上述问题，本申请提供了一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统
。
[0005]第一方面，本申请提供了一种包装薄膜的磨损测试分析方法，其中，所述方法应用于一种包装薄膜的磨损测试分析系统，所述方法包括：读取包装薄膜的基础信息，其中，所述基础信息包括材质
、
尺寸
、
生产参数信息；读取测试装置的测试控制信息，根据所述测试控制信息和所述基础信息生成多场景测试方案；通过所述多场景测试方案，控制测试装置执行所述包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；基于场景验证装置进行测试过程的过程数据采集，生成验证测试信息；通过图像采集装置和拉力测试装置分别对所述包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集；基于所述验证测试信息对所述磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和所述验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果
。
[0006]第二方面，本申请还提供了一种包装薄膜的磨损测试分析系统，其中，所述系统包括：薄膜信息获得模块，所述薄膜信息获得模块用于读取包装薄膜的基础信息，其中，所述基础信息包括材质
、
尺寸
、
生产参数信息；测试方案生成模块，所述测试方案生成模块用于读取测试装置的测试控制信息，根据所述测试控制信息和所述基础信息生成多场景测试方案；磨损测试模块，所述磨损测试模块用于通过所述多场景测试方案，控制测试装置执行所述包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；测试过程数据采集模块，所述测试过程数据采集模块用于基于场景验证装置进行测试过程的过程数据采集，生成验证测试信息；验证数据生成模块，所述验证数据生成模块用于通过图像采集装置和拉力测试装置分别对所述包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集；磨损测试分析模块，所述磨损测试分析模块用于基于所述验证测试信息对所述磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和所述验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果
。
[0007]本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
通过包装薄膜的基础信息和测试装置的测试控制信息进行场景测试分析，生成多场景测试方案；通过多场景测试方案，控制测试装置执行包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；基于场景验证装置进行测试过程的过程数据采集，生成验证测试信息；通过图像采集装置和拉力测试装置分别对包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集；通过验证测试信息对磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果
。
达到了提高包装薄膜的磨损测试分析精准性，提升包装薄膜的磨损测试分析质量的技术效果
。
[0008]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的
、
特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式
。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案
,
下面将对本公开实施例的附图作简单地介绍
。
明显地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例
,
而非对本公开的限制
。
[0010]图1为本申请一种包装薄膜的磨损测试分析方法的流程示意图；图2为本申请一种包装薄膜的磨损测试分析方法中进行测试装置的检修处理的流程示意图；图3为本申请一种包装薄膜的磨损测试分析系统的结构示意图
。
[0011]附图标记说明：薄膜信息获得模块
11
，测试方案生成模块
12
，磨损测试模块
13
，测试过程数据采集模块
14
，验证数据生成模块
15
，磨损测试分析模块
16。
具体实施方式
[0012]本申请通过提供一种包装薄膜的磨损测试分析方法及系统
。
解决了现有技术中针对包装薄膜的磨损测试分析精准性低，进而造成包装薄膜的磨损测试分析质量不高的技术问题
。
达到了提高包装薄膜的磨损测试分析精准性，提升包装薄膜的磨损测试分析质量的技术效果
。
[0013]实施例1[0014]请参阅附图1，本申请提供一种包装薄膜的磨损测试分析方法，其中，所述方法应用于一种包装薄膜的磨损测试分析系统，所述方法具体包括如下步骤：步骤
S100
：读取包装薄膜的基础信息，其中，所述基础信息包括材质
、
尺寸
、
生产参数信息；步骤
S200
：读取测试装置的测试控制信息，根据所述测试控制信息和所述基础信息生成多场景测试方案；具体而言，对包装薄膜进行基础信息采集，获得基础信息
。
对测试装置进行控制信息采集，获得测试控制信息
。
其中，所述基础信息包括包装薄膜的材质信息
、
尺寸信息
、
生产参数信息
。
材质信息包括包装薄膜的材料组成信息
、
材料成分含量信息
。
尺寸信息包括包装薄膜的厚度
、
形状
、
面积等尺寸参数
。
生产参数信息包括包装薄膜对应的生产线速度
、
温度
、
拉伸比等生产控制参数信息
。
所述测试装置可以为现有技术中的薄膜磨损测试仪
。
所述测
试控制信息包括测试装置对应的磨损频率
、
磨损力
、
磨损位置
、
磨损时长等控制参数类型信息
。
[0015]进一步，基于测试控制信息和基础信息，生成多场景测试方案
。
示例性地，在生成多场景测试方案时，基于测试控制信息和基础信息进行历史数据查询，获得场景测试方案库
。
场景测试方案库包括多组场景测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种包装薄膜的磨损测试分析方法，其特征在于，所述方法包括：读取包装薄膜的基础信息，其中，所述基础信息包括材质
、
尺寸
、
生产参数信息；读取测试装置的测试控制信息，根据所述测试控制信息和所述基础信息生成多场景测试方案；通过所述多场景测试方案，控制测试装置执行所述包装薄膜的多场景磨损测试，并输出磨损测试控制信息；基于场景验证装置进行测试过程的过程数据采集，生成验证测试信息；通过图像采集装置和拉力测试装置分别对所述包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集；基于所述验证测试信息对所述磨损测试控制信息进行测试补偿，并将测试补偿结果和所述验证数据集输入磨损测试分析模型，输出磨损测试分析结果
。2.
如权利要求1所述的方法，其特征在于，在执行所述包装薄膜的多场景磨损测试前，还包括：基于所述基础信息设置包装薄膜的定位验证点；对所述定位验证点进行无损标识，生成无损标识
MARK
点；通过所述图像采集装置进行所述包装薄膜的原始数据采集，获得原始采集图像；根据所述原始采集图像和所述无损标识
MARK
点生成初始比对特征；通过所述初始比对特征进行特征比对验证，获得所述验证数据集
。3.
如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述原始采集图像进行所述无损标识
MARK
点的位置识别，生成定位辅助坐标；对所述原始采集图像进行包装薄膜的异常特征识别，并基于所述定位辅助坐标生成异常关联坐标；根据异常特征识别结果和所述异常关联坐标生成所述初始比对特征
。4.
如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过图像采集装置和拉力测试装置分别对所述包装薄膜执行数据采集，生成验证数据集，还包括：获得验证采集图像，其中，所述验证采集图像为所述包装薄膜执行磨损测试后的图像集合；对所述验证采集图像进行所述无损标识
MARK
点的点位识别，生成所述无损标识
MARK
点的更新点位坐标；根据所述无损标识
MARK
点的点位映射关系，基于所述更新点位坐标和所述定位辅助坐标进行点位畸变分析，生成畸变补偿坐标区间；通过所述畸变补偿坐标区间对所述异常关联坐标进...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭彪，党宇，
申请(专利权)人：张家港禾福新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：