一种测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及示波器测试技术领域，公开了一种测试装置，测试装置包括：示波器，

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置


[0001]本专利技术涉及示波器测试
，具体涉及一种测试装置
。

技术介绍

[0002]在硬件测试中，测量高速信号时，为了保证测量精度，通常需要使用接地弹簧，但接地弹簧使用时有很大的限制，比如因为弹簧很短难以操纵且弹性会导致稍微无法固定就会恢复原状，导致探针脱离待测试管脚，甚至将某些管脚短地，造成部分芯片烧毁
。
为了从而对测量精度与测试速度都有很大的影响
。
[0003]而且实际测试中，各种元器件都可能面临必须使用靠测手法来进行测试，且需要与其他同等频率的其他信号进行时序比较，导致需要同时靠测的信号通常为3‑4个，从而无法单人进行操作，需要2‑3人协同操作，且这样会让测试速度大幅度降低，靠测时“手滑”类失误，将导致花费半小时乃至更长时间，都无法收获一张正确的示波器测量结果
。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术提供一种测试装置，以解决相关技术中电子元器件用示波器难以测量的问题
。
[0005]本专利技术提供了一种测试装置，包括：示波器
、
第一测试束线
、
第二测试束线及转接器，其中，示波器，其与第一测试束线的第一端连接，用于接收来自被测器件的测试信号；第一测试束线，其第二端与转接器的第一端连接，用于实现示波器与转接器之间的数据传输；第二测试束线，其第一端与转接器的第二端连接，其第二端与被测器件连接，用于获取测试信号，并传输到转接器；转接器，用于固定第二测试束线
。
[0006]本专利技术提供的测试装置，示波器
、
第一测试束线
、
第二测试束线及转接器组成测量装置，该装置测量连接稳定
、
更方便快捷
、
准确，能够精确的测试多路数据，且测试线束不对所测电路板造成损伤
。
[0007]本专利技术提供的测试装置，分为第一测试束线
、
第二测试束线，第一测试束线连接示波器，保证收到信号能够稳定的传到示波器里；第二测试束线用于测量被测器件，实现了同轴线方便且可靠的与测试点相连接；第一测试束线
、
第二测试束线的区分也有助于后续测试束线出现故障时更容易找到故障位置，实现更灵活的后期维护
。
[0008]在一种可选的实施方式中，第一测试束线包括：
BNC
公头连接器
、
第一同轴线及第一
SMA
公头连接器；
BNC
公头连接器，其第一端与示波器连接，其第二端与第一同轴线的第一端连接，用于将第一测试束线与示波器固定连接；第一同轴线，其第二端与第一
SMA
公头连接器的第一端连接，用于传输信号；第一
SMA
公头连接器，其第二端与转接器第一端连接，用于将第一测试束线接到转接器
。
[0009]本专利技术提供的测试装置，采用同轴线作为测试线束，利用同轴线具有高频率传输稳定
、
噪声低
、
大容量传输的特点，使电磁波不泄露，从而保证测量精度
。
[0010]在一种可选的实施方式中，第二测试束线包括：第一
SMA
母头连接器
、
第二同轴线
、
信号线及地线；第一
SMA
母头连接器，其第一端与转接器第二端连接，其第二端与第二同轴线的第一端连接，用于把第二测试束线固定到转接器；第二同轴线，其第二端与信号线及地线的第一端连接，用于传输信号；信号线及地线，其第二端用于焊接到被测点测试
。
[0011]在一种可选的实施方式中，信号线及地线为金属丝；信号线及地线能稳定的传输被测器件的信号；信号线及地线的安装位置为在第二同轴线的内层信号与外层屏蔽线的末端引出，直接焊接到测试点上
。
[0012]本专利技术提供的测试装置，由于同轴线本身的硬度较高，不易焊接且占空间，使用能传播信号的细金属丝可以解决实际测试中需要同时高精度的测量多路信号，且多个测试点之间的距离非常短的情况
。
[0013]在一种可选的实施方式中，第二
SMA
母头连接器
、
固定夹具
、
第二
SMA
公头连接器；第二
SMA
母头连接器，其第一端与第一
SMA
公头连接器的第二端连接，其第二端固定于固定夹具第一端上，用于和第一测试束线的第二端连接；固定夹具，用于固定第二测试束线；第二
SMA
公头连接器，其第二端固定于固定夹具的第二端上，用于和第二测试束线的第一端连接
。
[0014]本专利技术提供的测试装置，采用
SMA
连接器作为测试线束和固定夹具的连接，利用
SMA
具有体积小
、
结构简单
、
工作频带宽
、
可靠性高的优点，能够在一个夹具上设置多个
SMA
接口，提供多个测试点
。
[0015]在一种可选的实施方式中，示波器包括：
BNC
母头连接器
。
[0016]本专利技术提供的测试装置，采用标准
BNC
连接器连接示波器，具有插拔方便快捷的优势
。
[0017]在一种可选的实施方式中，固定夹具包括：第一金属板
、
第二金属板及固定组件，第一金属板的一端与第二金属板的一端通过固定组件固定，以构成夹子结构；第一金属板上设置多个通孔，通孔用于固定第二
SMA
公头连接器
、
第二
SMA
母头连接器
。
[0018]本专利技术提供的测试装置，固定夹具能够避免同轴线本身的硬度较高，在测试时容易因为本身的弹性造成对连接点产生较大的拉力，导致焊接断裂乃至焊盘脱落的问题；夹子结构可在上部末端凸出合适高度的固定台，台子末端作柔化处理；夹子结构下部末端亦进行柔化处理，使得夹具能够在电路板上固定且不会损伤电路板，这样的固定夹具能承受各种外力的作用，不存在焊盘脱落的风险
。
[0019]在一种可选的实施方式中，第二测试束线的信号线及地线均连接探针
。
[0020]本专利技术提供的测试装置，测试装置具备拓展性，示波器连接的第一测试束线能够保持不变，第二测试束线依旧固定在固定夹具上保持稳定，根据测试需求对第二测试束线的信号线及地线进行调整即可满足新的测试，拓展性较好，且易改动调整
。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测试装置，其特征在于，包括：示波器
、
第一测试束线
、
第二测试束线及转接器，其中，示波器，其与所述第一测试束线的第一端连接，用于接收来自被测器件的测试信号；第一测试束线，其第二端与所述转接器的第一端连接，用于实现所述示波器与转接器之间的数据传输；第二测试束线，其第一端与所述转接器的第二端连接，其第二端与被测器件连接，用于获取测试信号，并传输到转接器；转接器，用于固定第二测试束线
。2.
根据权利要求1中所述的测试装置，其特征在于，所述第一测试束线包括：
BNC
公头连接器
、
第一同轴线及第一
SMA
公头连接器；
BNC
公头连接器，其第一端与所述示波器连接
、
其第二端与所述第一同轴线的第一端连接，用于将所述第一测试束线与所述示波器固定连接；第一同轴线，其第二端与所述第一
SMA
公头连接器的第一端连接，用于传输信号；第一
SMA
公头连接器，其第二端与转接器的第一端连接，用于将第一测试束线接到转接器
。3.
根据权利要求1中所述的测试装置，其特征在于，所述第二测试束线3包括：第一
SMA
母头连接器
、
第二同轴线
、
信号线及地线；第一
SMA
母头连接器，其第一端与所述转接器的第二端连接，其第二端与所述第二同轴线的第一端连接，用于把所述第二测试束线固定到转接器；第二同轴线，其第二端与所述信号线及所述地线的第一端连接，用于传输信号；信号线及地线，其第二端用于焊接到被测点测...

【专利技术属性】
技术研发人员：张洪森，
申请(专利权)人：镁佳北京科技有限公司，
类型：发明
国别省市：