【技术实现步骤摘要】
自动随机生成验证数据包的方法、电子设备和介质
[0001]本专利技术涉及芯片验证
,尤其涉及一种自动随机生成验证数据包的方法、电子设备和介质。
技术介绍
[0002]在芯片验证的过程中,为了保证覆盖率,验证平台(Testbench)需要生成多种类型的验证数据包,发送给待测设计(Design Under Test,简称DUT)进行验证。现有技术中,需要生成每种类型对应的所有验证数据包,当验证数据包类型众多,验证数据包数量巨大时,会造成验证数据包生成速度慢,导致芯片验证效率低。现有技术中还可以采用随机方式生成所有验证数据包,来提高验证数据包的生成速度,但是,由于不同类型的数据包数据结构不同,对应的约束条件也不同,现有的随机生成方式有可能会生成错误的验证数据包,无法保证生成验证数据包的准确性。由此可知,如何提高生成验证数据包的效率和准确性成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
[0003]本专利技术目的在于,提供一种自动随机生成验证数据包的方法、电子设备和介质,提高了生成验证数据包的效率和准确性。
[0004]根据本专利技术第一方面,提供了一种自动随机生成验证数据包的方法,包括:步骤S1、将验证平台所需生成的验证数据包划分为M个验证数据包类型{OP1,OP2,
…
,OP
m
,
…
,OP
M
},OP
m
为第m个验证数据包类型标识;步骤S2、将M个验证数据包类型划分为N个自动随机类型{A1,A2,
… ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种自动随机生成验证数据包的方法,其特征在于,包括:步骤S1、将验证平台所需生成的验证数据包划分为M个验证数据包类型{OP1,OP2,
…
,OP
m
,
…
,OP
M
},OP
m
为第m个验证数据包类型标识;步骤S2、将M个验证数据包类型划分为N个自动随机类型{A1,A2,
…
,A
n
,
…
,A
N
},A
n
为第n个自动随机类型,n的取值范围为1到N,M>N,为每一个A
n
设置对应的随机约束信息;步骤S3、所述验证平台解析验证数据包处理请求获取目标OP
m
,基于目标OP
m
确定目标A
n
;步骤S4、基于目标A
n
获取目标OP
m
对应的目标随机约束信息,基于目标随机约束信息自动随机生成目标验证数据包,并发送给待测设计中的目标模块。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每一OP
m
对应的地址位数为R,N=3,所述步骤S2包括:步骤S21、若OP
m
对应的验证数据包为连续地址范围内的数据包,则将OP
m
划分至第一自动随机类型A1中,并将OP
m
对应的随机数值范围设置为[B
1m
,B
2m
], [B
1m
,B
2m
]在[0,2
R
]范围内,将[BA
1m
,BA
2m
]设置为OP
m
对应的随机约束信息;步骤S22、若OP
m
对应的验证数据包为离散的数据包,则将OP
m
划分至第二自动随机类型A2中,生成第二自动随机类型对应的验证数据包类型集合{OP
12
,OP
22
,
…
,OP
x2
,
…
,OP
X2
},OP
x2
为第二自动随机类型对应的验证数据包类型集合中的第x个验证数据包类型标识,{OP
12
,OP
22
,
…
,OP
x2
,
…
,OP
X2
}为{OP1,OP2,
…
,OP
m
,
…
,OP
M
}的子集,获取每一OP
x2
对应的取值集合,将OP
x2
对应的取值集合设置为OP
x2
对应的随机约束信息;步骤S23、将未划分至A1和A2中的OP
m
划分至第三自动随机类型A3中,为A3中的每一OP
m
设置对应的预设约束信息。3.根据权利要求2...
【专利技术属性】
技术研发人员:高卫,
申请(专利权)人:沐曦集成电路上海有限公司,
类型:发明
国别省市:
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