一种管接头泄漏流量的计算方法技术

本发明专利技术提供了一种管接头泄漏流量的计算方法

【技术实现步骤摘要】
一种管接头泄漏流量的计算方法、装置、网络设备及介质


[0001]本专利技术涉及工业生产领域，特别涉及一种管接头泄漏流量的计算方法
、
装置
、
网络设备及介质
。

技术介绍

[0002]在复杂服役过程中，管接头很容易受到振动
、
冲击
、
交变温度等载荷作用，从而出现松动和泄漏等失效行为，影响管路服役的可靠性
。
对管接头泄漏量进行准确计算对于定量评估其密封性能至关重要
。
当前，很多比较成熟的接触力学理论和方法尚未在静密封微观机理研究中得到有效地运用，接触力学计算方法与静密封机理研究
、
密封性能定量评估方法之间缺少有效的纽带
。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种管接头泄漏流量的计算方法
、
装置
、
网络设备及介质，用于解决现有技术中接触力学计算方法与静密封机理研究
、
密封性能定量评估方法之间缺少有效的纽带，造成不能够准确计算管接头泄漏量的问题
。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种管接头泄漏流量的计算方法，其中，所述方法包括：
[0005]根据管接头的外形，获取在第一预紧力的装配参数条件下所述管接头的密封界面的接触压力分布；
[0006]获取所述密封界面的微观表面形貌；
[0007]根据所述微观表面形貌和所述接触压力分布获取所述密封界面划分的多个采样区域中每一采样区域的泄漏流场；
[0008]获取所述第一预紧力条件下的第一泄漏流量
。
[0009]可选地，所述的计算方法，其中，所述根据管接头的外形，获取在第一预紧力的装配参数条件下所述管接头的密封界面的接触压力分布包括：
[0010]获取所述管接头的外形信息；
[0011]根据所述外形信息建立有限元模型；
[0012]基于所述有限元模型，求解在第一预紧力的装配参数条件下的装配过程，得到在所述第一预紧力下所述密封界面的接触压力分布
。
[0013]可选地，所述的计算方法，其中，所述获取所述密封界面的微观表面形貌，包括：
[0014]通过工具对所述管接头进行测量，获取粗糙表面测量信号；
[0015]对所述粗糙表面测量信号进行降噪滤波处理，获取所述微观表面形貌
。
[0016]可选地，所述的计算方法，其中，所述根据所述微观表面形貌和所述接触压力分布获取所述密封界面划分的多个采样区域中每一采样区域的泄漏流场，包括：
[0017]将所述密封界面划分为多个采样区域；
[0018]根据所述接触压力分布和所述第一预紧力，获取每一所述采样区域的平均接触压
力；
[0019]根据所述微观表面形貌和所述密封界面的材料力学参数，建立每一所述采样区域的微观接触模型；
[0020]将所述平均接触压力分布作为边界条件，求解所述微观接触模型，获取每一所述采样区域的实际接触面积和三维接触间隙；
[0021]根据所述实际接触面积和所述三维接触间隙，获取每一所述所述采样区域的所述泄漏流场
。
[0022]可选地，所述的计算方法，其中，所述获取第一预紧力条件下的第一泄漏流量，包括：
[0023]根据每一采样区域的所述泄漏流场获取对应的泄漏流量；
[0024]根据多个所述泄漏流量获取所述第一泄漏流量
。
[0025]为了达到上述目的，本专利技术提供一种管接头泄漏流量的计算装置，其中，所述装置包括：
[0026]第一获取模块，用于根据管接头的外形，获取在第一预紧力的装配参数条件下所述管接头的密封界面的接触压力分布；
[0027]第二获取模块，用于获取所述密封界面的微观表面形貌；
[0028]第三获取模块，用于根据所述微观表面形貌和所述接触压力分布获取所述密封界面划分的多个采样区域中每一采样区域的泄漏流场；
[0029]第四获取模块，用于获取所述第一预紧力条件下的第一泄漏流量
。
[0030]为了达到上述目的，本专利技术提供一种网络设备，包括：收发器
、
处理器
、
存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令；其中，所述处理器执行所述程序或指令时实现如上所述的管接头泄漏流量的计算方法
。
[0031]为了达到上述目的，本专利技术提供一种可读存储介质，其上存储有程序或指令，其中，所述程序或指令被处理器执行时实现如上所述的管接头泄漏流量的计算方法中的步骤
。
[0032]本专利技术的上述技术方案的有益效果如下：
[0033]上述方案中，结合管接头的密封界面的宏观接触压力分布和密封界面的微观表面形貌，将密封界面划分为多个采样区域，得到每一采样区域的泄漏流场，根据所有采样区域的泄漏流场得到密封结构的总泄漏量
。
在接触力学计算方法与静密封机理研究
、
密封性能定量评估方法之间建立有效的纽带，计算结果准确率更高
。
附图说明
[0034]图1为本专利技术实施例所述的管接头泄漏流量的计算方法的示意图；
[0035]图2为本专利技术实施例所述的管接头泄漏流量的计算方法的流程图；
[0036]图3为本专利技术实施例所述的管接头泄漏流量的计算装置的示意图
。
具体实施方式
[0037]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，并不是全部的实施例
。
基于
本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围
。
[0038]本专利技术针对现有技术中接触力学计算方法与静密封机理研究
、
密封性能定量评估方法之间缺少有效的纽带，造成不能够准确计算管接头泄漏量的问题，提供一种管接头泄漏流量的计算方法
、
装置
、
网络设备及介质
。
[0039]如图1所示，本专利技术实施例提供一种管接头泄漏流量的计算方法，其中，所述方法包括：
[0040]S10
，根据管接头的外形，获取在第一预紧力的装配参数条件下所述管接头的密封界面的接触压力分布；
[0041]S20
，获取所述密封界面的微观表面形貌；
[0042]S30
，根据所述微观表面形貌和所述接触压力分布获取所述密封界面划分的多个采样区域中每一采样区域的泄漏流场；
[0043]S40
，获取所述第一预紧力条件下的第一泄漏流量
。
[0044]该实施例中，结合所述管接头的所述密封界面的宏观接触压力分布和所述密封界面的所述微观表面形貌，将本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种管接头泄漏流量的计算方法，其特征在于，所述方法包括：根据管接头的外形，获取在第一预紧力的装配参数条件下所述管接头的密封界面的接触压力分布；获取所述密封界面的微观表面形貌；根据所述微观表面形貌和所述接触压力分布获取所述密封界面划分的多个采样区域中每一采样区域的泄漏流场；获取所述第一预紧力条件下的第一泄漏流量
。2.
根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述根据管接头的外形，获取在第一预紧力的装配参数条件下所述管接头的密封界面的接触压力分布包括：获取所述管接头的外形信息；根据所述外形信息建立有限元模型；基于所述有限元模型，求解在第一预紧力的装配参数条件下的装配过程，得到在所述第一预紧力下所述密封界面的接触压力分布
。3.
根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述获取所述密封界面的微观表面形貌，包括：通过工具对所述管接头进行测量，获取粗糙表面测量信号；对所述粗糙表面测量信号进行降噪滤波处理，获取所述微观表面形貌
。4.
根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，所述根据所述微观表面形貌和所述接触压力分布获取所述密封界面划分的多个采样区域中每一采样区域的泄漏流场，包括：将所述密封界面划分为多个采样区域；根据所述接触压力分布和所述第一预紧力，获取每一所述采样区域的平均接触压力；根据所述微观表面形貌和所述密封界面的材料力学参数，建立每一所述采样区域的微观接触模型；将所述平均接触压力分...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘检华，巩浩，王凯，黄嘉禹，邓新建，夏焕雄，庄存波，敖晓辉，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：