一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统技术方案

本发明专利技术公开了一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统，涉及抽样质检分析系统技术领域，包括抽样单元和缺陷检测单元，所述抽样单元用于对加工线上输送的液晶显示屏进行随机抽样，所述缺陷检测单元用于对抽取的液晶显示屏样本进行缺陷检测并统计样本中缺陷的数量，其特征在于，还包括：缺陷分析单元，缺陷分析单元对有缺陷的液晶显示屏进行缺陷种类分析，统计各个缺陷种类的数量。本发明专利技术对实测的各个缺陷种类数据进行代表性补偿系数计算，并通过补偿系数计算各缺陷种类次品率的代表性修正值，使得计算获取的各缺陷种类次品率情况可以更好的代表批次产品总体特征，提高推断整体批次产品的质量的准确性。体批次产品的质量的准确性。体批次产品的质量的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统


[0001]本专利技术涉及抽样质检分析系统
，具体为一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统。

技术介绍

[0002]公知的，全数检验是对一批产品中的每一件产品逐一进行检验，挑出不合格品后，认为其余全都是合格品。这种质量检验方法适用于生产批量很少的大型机电设备产品，但大多数生产批量较大的产品，如电子元器件产品就很不适用，产品产量大，检验项目多或检验较复杂时，进行全数检验势必要花费大量的人力和物力，同时，仍难免出现错检和漏检现象，抽样检验是从一批产品中随机抽取少量产品(样本)进行检验，据以判断该批产品是否合格的统计方法和理论。它与全面检验不同之处，在于后者需对整批产品逐个进行检验，把其中的不合格品拣出来，而抽样检验则根据样本中的产品的检验结果来推断整批产品的质量从而判断是否符合质量指标，该液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统是用于对组装加工后的液晶显示屏外观缺陷进行抽样检测分析系统。
[0003]如授权公告号为CN115219885B，授权公告日为2022.12.02，名称为《一种芯片传送抽样系统》，其包括传送吸附单元、入口端传送带以及出口端传送带；其中，所述入口端传送带具有第一入口和第一出口，所述出口端传送带具有第二入口和第二出口，所述第二入口设置在所述第一出口的末端；其中，所述传送吸附单元包括传送吸附装置以及移动控制装置；其中，所述传送吸附装置设置于所述第一出口和所述第二入口之间；所述传送吸附装置具有传送状态以及吸附状态，所述传送吸附装置处于传送状态时，可将芯片从第一出口端向所述第二入口端传送；所述传送吸附装置处于吸附状态时可将芯片吸附于吸附装置表面；所述移动控制装置与所述传送吸附装置连接，可带动所述传送吸附装置移动。
[0004]如上述申请相同的，现有的抽样质检系统多为通过随机抽样检验然后判断整批次产品的质量，但是对组装加工后的液晶显示屏外观缺陷进行抽样检测分析时，由于液晶显示屏组装加工缺陷主要包括屏体配件缺陷、壳体配件缺陷、组装加工缺陷以及输送加工缺陷多个因素组成，其仅仅通过单次的抽样检测，进行外观缺陷检验直接计算整体批次产品的质量数据，会导致样本各单位的结构情况不足以代表总体特征而引起误差，准确度低。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统，以解决现有技术中的上述不足之处。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统，其用于对组装加工后的液晶显示屏外观缺陷进行抽样检测分析，包括抽样单元和缺陷检测单元，所述抽样单元用于对加工线上输送的液晶显示屏进行随机抽样，所述缺陷检测单元用于对抽取的液晶显示屏样本进行缺陷检测并统计样本中缺陷的数量，其特征在于，还包括：
[0007]缺陷分析单元，缺陷分析单元对有缺陷的液晶显示屏进行缺陷种类分析，统计各个缺陷种类的数量，缺陷种类共包括：屏体配件缺陷、壳体配件缺陷、组装加工缺陷、输送加工缺陷；
[0008]补偿分析单元，补偿分析单元计算各缺陷种类代表性补偿系数，并基于代表性补偿系数计算各缺陷种类次品率的代表性修正值；
[0009]整合处理单元，整合处理单元整合计算当前批次产品的次品率修正系数G，并调取各缺陷种类数量的代表性修正值基于修正系数计算当前质检批次产品的整体次品率。
[0010]作为上述技术方案的进一步描述：所述屏体配件缺陷代表性补偿系数Wp计算方式为：其中，K
P
为屏体配件的次品率，P为样本中屏体配件缺陷数量，M为当前质检批次产品数量；
[0011]所述壳体配件缺陷代表性补偿系数Wt计算方式为：其中，K
t
为壳体配件的次品率，t为样本中壳体配件缺陷数量，M为当前质检批次产品数量；
[0012]所述组装加工缺陷代表性补偿系数Wz,计算方式为：其中，K
Z
为组装加工的次品率，z为样本中组装加工缺陷数量，M为当前质检批次产品数量；
[0013]所述输送加工缺陷代表性补偿系数Ws计算方式为：其中，K
S
为输送加工的次品率，s为样本中输送加工缺陷数量，M为当前质检批次产品数量。
[0014]作为上述技术方案的进一步描述：基于代表性补偿系数计算各缺陷种类的次品率代表性修正值的计算方式具体为：
[0015]所述屏体配件缺陷次品率代表性修正值Fp计算方式为：
[0016]所述壳体配件缺陷次品率代表性修正值Ft计算方式为：
[0017]所述组装加工缺陷次品率代表性修正值Fz计算方式为：
[0018]所述输送加工缺陷次品率代表性修正值Fs计算方式为：
[0019]作为上述技术方案的进一步描述：调取各缺陷种类的次品率代表性修正值基于修正系数G计算当前质检批次产品的整体次品率
△
F具体为：
[0020]△
F＝(Fp+Ft+Fz+Fs)
×
G。
[0021]作为上述技术方案的进一步描述：所述修正系数G的计算方式为：
[0022]调取缺陷检测单元中检测统计的样本中缺陷的数量Q；
[0023]调取缺陷分析单元统计的各缺陷种类的数量，即；屏体配件缺陷数量P、壳体配件缺陷数量t、组装加工缺陷数量z以及输送加工缺陷数量s；
[0024]计算修正系数G，
[0025]作为上述技术方案的进一步描述：所述抽样单元包括抽样控制模块以及抽样机器人；抽样控制模块的输出端与所述抽样机器人的输入端通信连接；
[0026]所述抽样控制模块用于控制抽样机器人对组装加工线上输送的液晶显示屏进行随机抽样，并将抽取的样本转移至缺陷检测单元。
[0027]作为上述技术方案的进一步描述：抽样机器人对组装加工线上输送的液晶显示屏进行随机抽样时，抽样机器单次抽取相邻的多个液晶显示屏样本。
[0028]作为上述技术方案的进一步描述：所述缺陷检测单元包括机器视觉检测终端和图像分析模块，机器视觉检测终端用于对抽取的液晶显示屏样本外观进行图像采集，并将采集的图像传输至图像分析模块，通过图像分析模块对采集的样本图像进行缺陷检测，并在液晶显示屏样本上标记缺陷位置。
[0029]作为上述技术方案的进一步描述：所述缺陷分析单元对有缺陷的液晶显示屏进行缺陷种类分析包括：
[0030]缺陷分析单元对图像上缺陷位置标记进行识别获取缺陷标记点在液晶显示屏样本上缺陷位置信息；
[0031]基于缺陷位置信息将缺陷种类划分为屏体配件缺陷、壳体配件缺陷、组装加工缺陷、输送加工缺陷，并进行统计。
[0032]作为上述技术方案的进一步描述：基于缺陷位置信息对液晶显示屏样本进行缺陷种类划分时，当液晶显示屏样本上具有多个缺陷位置信息时，分别进行缺陷种类划分统计。
[0033]在上述技术方案中，本专利技术提供的一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统，具备以下有益效果：
[0034]该液晶显示屏组装加本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统，其用于对组装加工后的液晶显示屏外观缺陷进行抽样检测分析，包括抽样单元和缺陷检测单元；所述抽样单元用于对加工线上输送的液晶显示屏进行随机抽样；所述缺陷检测单元用于对抽取的液晶显示屏样本进行缺陷检测并统计样本中缺陷的数量，其特征在于，还包括：缺陷分析单元，缺陷分析单元对有缺陷的液晶显示屏进行缺陷种类分析，统计各个缺陷种类的数量，缺陷种类共包括：屏体配件缺陷、壳体配件缺陷、组装加工缺陷、输送加工缺陷；补偿分析单元，补偿分析单元计算各缺陷种类代表性补偿系数，并基于代表性补偿系数计算各缺陷种类次品率的代表性修正值；整合处理单元，整合处理单元整合计算当前批次产品的次品率修正系数G，并调取各缺陷种类次品率的代表性修正值，基于修正系数计算当前质检批次产品的整体次品率。2.根据权利要求1所述的一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统，其特征在于：所述屏体配件缺陷代表性补偿系数Wp计算方式为：其中，K
P
为屏体配件的次品率，P为样本中屏体配件缺陷数量，M为当前质检批次产品数量；所述壳体配件缺陷代表性补偿系数Wt计算方式为：其中，K
t
为壳体配件的次品率，t为样本中壳体配件缺陷数量，M为当前质检批次产品数量；所述组装加工缺陷代表性补偿系数Wz,计算方式为：其中，K
Z
为组装加工的次品率，z为样本中组装加工缺陷数量，M为当前质检批次产品数量；所述输送加工缺陷代表性补偿系数Ws计算方式为：其中，K
S
为输送加工的次品率，s为样本中输送加工缺陷数量，M为当前质检批次产品数量。3.根据权利要求2所述的一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统，其特征在于，基于代表性补偿系数计算各缺陷种类的次品率代表性修正值的计算方式具体为：所述屏体配件缺陷次品率代表性修正值Fp计算方式为：所述壳体配件缺陷次品率代表性修正值Ft计算方式为：所述组装加工缺陷次品率代表性修正值Fz计算方式为：所述输送加工缺陷次品率代表性修正值Fs计算方式为：4.根据权利要求3所述的一种液晶显示屏组装加工线抽样质检分析系统，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨飞，石华清，纵亮，
申请(专利权)人：安徽创显电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：