一种石膏板成型尺寸监测调控方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种石膏板成型尺寸监测调控方法及系统，包括以下步骤：获取第一缺陷信息；获取第二缺陷信息；将第一缺陷信息和第二缺陷信息中表征石膏板同一尺寸缺陷的缺陷信息筛选出作为第三缺陷信息；获取第一调控信息；根据第三缺陷信息对应的第一尺寸监测数据与第一调控信息训练调控模型，所述调控模型用于在石膏板生产过程中依据实时尺寸监测数据得到石膏板生产线的实时调控信息

【技术实现步骤摘要】
一种石膏板成型尺寸监测调控方法及系统


[0001]本专利技术涉及石膏板智能化生产
，具体涉及一种石膏板成型尺寸监测调控方法及系统
。

技术介绍

[0002]纸面石膏板在生产下料
、
切断
、
干燥机内部运输等过程中均有可能出现板材破损
、
坏板角等各类问题，从而在石膏板成型过程中造成尺寸不标准的问题，石膏板成型尺寸主要在石膏板生产完成后通过质检岗位人员通过仪器测量判定，但是此时石膏板已经是成型成品状态，因此这种尺寸监测存在滞后性，难以做到对尺寸不标准的石膏板进行规避，尺寸不标准造成的生产不可逆加重生产损耗
。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种石膏板成型尺寸监测调控方法及系统，以解决现有技术中尺寸监测存在滞后性，难以做到对尺寸不标准的石膏板进行规避的技术问题
。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术具体提供下述技术方案：
[0005]一种石膏板成型尺寸监测调控方法，包括以下步骤：
[0006]获取第一缺陷信息，所述第一缺陷信息由第一尺寸监测数据经过与标准尺寸数据进行比较得到，所述第一尺寸监测数据为石膏板成型生产过程中监测得到的石膏板成型前的尺寸数据，尺寸数据包括以下数据中的一种或多种：石膏板外观图像数据
、
石膏板外观文本数据或石膏板外观数值数据；
[0007]获取第二缺陷信息，所述第二缺陷信息由第二尺寸监测数据经过与标准尺寸数据进行比较得到，所述第二尺寸监测数据为石膏板成型生产完成后监测得到的石膏板成型后的尺寸数据；
[0008]将第一缺陷信息和第二缺陷信息中表征石膏板同一尺寸缺陷的缺陷信息筛选出作为第三缺陷信息；
[0009]获取第一调控信息，所述第一调控信息由第三缺陷信息依据缺陷调控关系匹配得到；
[0010]根据第三缺陷信息对应的第一尺寸监测数据与第一调控信息训练调控模型，所述调控模型用于在石膏板生产过程中依据实时尺寸监测数据得到石膏板生产线的实时调控信息
。
[0011]作为本专利技术的一种优选方案，获取第一缺陷信息，包括：
[0012]将第一尺寸监测数据经过与标准尺寸数据进行相似度比较，其中，
[0013]当第一尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度低于预设阈值，则将第一尺寸监测数据赋予缺陷标签；
[0014]当第一尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度高于或等于预设阈值，则将第一尺寸监测数据赋予非缺陷标签；
[0015]将具有缺陷标签的第一尺寸监测数据利用预建立的缺陷信息识别模型进行缺陷信息识别，得到表征具有缺陷标签的第一尺寸监测数据中缺陷信息的第一缺陷信息；
[0016]所述第一尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度利用欧式距离
、
余弦相似度
、
相关系数中的一种或多种进行计算
。
[0017]作为本专利技术的一种优选方案，获取第二缺陷信息，包括：
[0018]将第二尺寸监测数据经过与标准尺寸数据进行相似度比较，其中，
[0019]当第二尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度低于预设阈值，则将第二尺寸监测数据赋予缺陷标签；
[0020]当第二尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度高于或等于预设阈值，则将第二尺寸监测数据赋予非缺陷标签；
[0021]将具有缺陷标签的第二尺寸监测数据利用预建立的缺陷信息识别模型进行缺陷信息识别，得到表征具有缺陷标签的第二尺寸监测数据中缺陷信息的第二缺陷信息；
[0022]所述第二尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度利用欧式距离
、
余弦相似度
、
相关系数中的一种或多种进行计算
。
[0023]作为本专利技术的一种优选方案，将第一缺陷信息和第二缺陷信息中表征石膏板同一尺寸缺陷的缺陷信息筛选出作为第三缺陷信息，包括：
[0024]将第一缺陷信息和第二缺陷信息进行相似度比较，其中，
[0025]当第一缺陷信息和第二缺陷信息的相似度高于或等于预设阈值，则表明第一缺陷信息和第二缺陷信息表征石膏板同一尺寸缺陷；
[0026]当第一缺陷信息和第二缺陷信息的相似度低于预设阈值，则表明第一缺陷信息和第二缺陷信息表征石膏板同一尺寸缺陷；
[0027]在表征石膏板同一尺寸缺陷的第一缺陷信息和第二缺陷信息中将第一缺陷信息提取出标记为第三缺陷信息；
[0028]所述第一缺陷信息和第二缺陷信息的相似度利用欧式距离
、
余弦相似度
、
相关系数中的一种或多种进行计算
。
[0029]作为本专利技术的一种优选方案，所述获取第一缺陷信息中的预设阈值
、
获取第二缺陷信息中的预设阈值以及筛选出第三缺陷信息中的预设阈值相一致
。
[0030]作为本专利技术的一种优选方案，所述缺陷信息识别模型的预建立包括：
[0031]获取多个尺寸监测数据，并在各个尺寸监测数据中标记出缺陷信息，其中，尺寸监测数据包括第一尺寸监测数据和第二尺寸监测数据中的一种或多种；
[0032]将尺寸监测数据作为目标检测网络
YOLO V3
的输入项，将缺陷信息作为目标检测网络
YOLO V3
的输出项，利用目标检测网络
YOLO V3
对目标检测网络
YOLO V3
的输入项和目标检测网络
YOLO V3
的输出项进行学习训练，得到所述缺陷信息识别模型
。
[0033]作为本专利技术的一种优选方案，所述第一缺陷信息包括以下数据中的一种或多种：石膏板成型宽度缺陷
、
石膏板成型厚度缺陷
、
石膏板成型边角缺陷；
[0034]所述第二缺陷信息包括以下数据中的一种或多种：石膏板成型宽度缺陷
、
石膏板成型厚度缺陷
、
石膏板成型边角缺陷；
[0035]所述第三缺陷信息包括以下数据中的一种或多种：石膏板成型宽度缺陷
、
石膏板成型厚度缺陷
、
石膏板成型边角缺陷；
[0036]所述缺陷调控关系包括以下匹配关系的一种或多种：石膏板成型宽度缺陷对应于调控石膏板生产线中成型刀的距离
、
石膏板成型厚度缺陷对应于调控石膏板生产线中成型板的高度
、
石膏板成型边角缺陷对应于调控石膏板生产线中成型刀的角度；
[0037]所述第一调控信息包括以下数据中的一种或多种：调控石膏板生产线中成型刀的距离
、
调控石膏板生产线中成型板的高度和调控石膏板生产线中成型刀的角度
。
[0038]作为本专利技术的一种优选方案，根据第三缺陷信息对应的第一尺寸监测数据与第一调控信息训练调控模型，包括：
[0039]将第三缺陷信息对应的第一尺寸监测数据作为神经网络的输入项，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种石膏板成型尺寸监测调控方法，其特征在于：包括以下步骤：获取第一缺陷信息，所述第一缺陷信息由第一尺寸监测数据经过与标准尺寸数据进行比较得到，所述第一尺寸监测数据为石膏板成型生产过程中监测得到的石膏板成型前的尺寸数据，尺寸数据包括以下数据中的一种或多种：石膏板外观图像数据
、
石膏板外观文本数据或石膏板外观数值数据；获取第二缺陷信息，所述第二缺陷信息由第二尺寸监测数据经过与标准尺寸数据进行比较得到，所述第二尺寸监测数据为石膏板成型生产完成后监测得到的石膏板成型后的尺寸数据；将第一缺陷信息和第二缺陷信息中表征石膏板同一尺寸缺陷的缺陷信息筛选出作为第三缺陷信息；获取第一调控信息，所述第一调控信息由第三缺陷信息依据缺陷调控关系匹配得到；根据第三缺陷信息对应的第一尺寸监测数据与第一调控信息训练调控模型，所述调控模型用于在石膏板生产过程中依据实时尺寸监测数据得到石膏板生产线的实时调控信息
。2.
根据权利要求1所述的一种石膏板成型尺寸监测调控方法，其特征在于：获取第一缺陷信息，包括：将第一尺寸监测数据经过与标准尺寸数据进行相似度比较，其中，当第一尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度低于预设阈值，则将第一尺寸监测数据赋予缺陷标签；当第一尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度高于或等于预设阈值，则将第一尺寸监测数据赋予非缺陷标签；将具有缺陷标签的第一尺寸监测数据利用预建立的缺陷信息识别模型进行缺陷信息识别，得到表征具有缺陷标签的第一尺寸监测数据中缺陷信息的第一缺陷信息；所述第一尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度利用欧式距离
、
余弦相似度
、
相关系数中的一种或多种进行计算
。3.
根据权利要求1所述的一种石膏板成型尺寸监测调控方法，其特征在于：获取第二缺陷信息，包括：将第二尺寸监测数据经过与标准尺寸数据进行相似度比较，其中，当第二尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度低于预设阈值，则将第二尺寸监测数据赋予缺陷标签；当第二尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度高于或等于预设阈值，则将第二尺寸监测数据赋予非缺陷标签；将具有缺陷标签的第二尺寸监测数据利用预建立的缺陷信息识别模型进行缺陷信息识别，得到表征具有缺陷标签的第二尺寸监测数据中缺陷信息的第二缺陷信息；所述第二尺寸监测数据与标准尺寸数据的相似度利用欧式距离
、
余弦相似度
、
相关系数中的一种或多种进行计算
。4.
根据权利要求1所述的一种石膏板成型尺寸监测调控方法，其特征在于：将第一缺陷信息和第二缺陷信息中表征石膏板同一尺寸缺陷的缺陷信息筛选出作为第三缺陷信息，包括：将第一缺陷信息和第二缺陷信息进行相似度比较，其中，
当第一缺陷信息和第二缺陷信息的相似度高于或等于预设阈值，则表明第一缺陷信息和第二缺陷信息表征石膏板同一尺寸缺陷；当第一缺陷信息和第二缺陷信息的相似度低于预设阈值，则表明第一缺陷信息和第二缺陷信息表征石膏板同一尺寸缺陷；在表征石膏板同一尺寸缺陷的第一缺陷信息和第二缺陷信息中将第一缺陷信息提取出标记为第三缺陷信息；所述第一缺陷信息和第二缺陷信息的相似度利用欧式距离
、
余弦相似度
、
相关系数中的一种或多种进行计算
。5.
根据权利要求1所述的一种石膏板成型尺寸监测调控方法，其特征在于：所述获取第一缺陷信息中的预设阈值
、
获取第二缺陷信息中的预设阈值以及筛选出第三缺陷信息中的预设阈值相一致
。6.
根据权利要求1所述的一种石膏板成型尺寸监测调控方法，其特征在于：所述缺陷信息识别模型的预建立包括：获取多个尺寸监测数据，并在各个尺寸监测数据中标记出缺陷信息，其中，尺寸监...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨小东，杨正波，张羽飞，武建江，栗运泽，吴鹏举，
申请(专利权)人：北新集团建材股份有限公司中国建材集团有限公司，
类型：发明
国别省市：