一种用于光谱分析的自吸式试样磨样辅助工具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于光谱分析的自吸式试样磨样辅助工具，属于磨制工具领域，包括工具主体，工具主体的一面开设有试样槽及与其连通的剪尾槽，该剪尾槽远离试样槽的一端延伸至工具主体边缘，试样槽与剪尾槽用以适配放置试样，且试样槽的高度小于试样的厚度以使试样的待打磨处高于试样槽，其中，工具主体设置有磁性部，该磁性部在试样放置入试样槽内时对试样起到吸附作用。本实用新型专利技术使用时人员无需直接接触试样，只需控制辅助工具即可，提高了试样磨样的安全性，减轻工作人员工作强度，且磁性部可有效对试样吸附，稳定性和便捷性好，在人工磨制试样时起到很好的辅助作用，结构简单，设计巧妙，实用性强。实用性强。实用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光谱分析的自吸式试样磨样辅助工具


[0001]本技术涉及一种用于光谱分析的自吸式试样磨样辅助工具，属于磨制工具领域。

技术介绍

[0002]在钢铁冶炼过程中，钢铁炉前现场试样需送至化验室进行直读光谱分析，其所送试样形状为“乒乓球拍”型，又称“棒棒糖”型试样，在进行光谱分析前需对试样进行磨制。
[0003]目前磨制“乒乓球拍”型试样一般都是采用人工在电动磨样机上进行磨制和抛光，工作人员的手指直接握持试样，其磨制和抛光过程很容易产生安全隐患，造成人员伤害，为此我们提出了一种用于光谱分析的自吸式试样磨样辅助工具，在人工磨制试样时起到很好的辅助作用。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的是当前人工利用磨样机对试样进行磨制和抛光时需直接接触试样，存在安全隐患的技术问题，为克服现有技术的缺点，提供了一种用于光谱分析的自吸式试样磨样辅助工具。
[0005]为了解决以上技术问题，本技术提供的用于光谱分析的自吸式试样磨样辅助工具包括工具主体，所述工具主体的一面开设有试样槽及与其连通的剪尾槽，该剪尾槽远离试样槽的一端延伸至工具主体边缘，所述试样槽与剪尾槽用以适配放置试样，且试样槽的高度小于试样的厚度以使试样的待打磨处高于试样槽，其中，所述工具主体设置有磁性部，该磁性部在试样放置入试样槽内时对试样起到吸附作用，本辅助工具通过试样槽和剪尾槽放置待打磨的试样并使试样的待打磨处高于辅助工具，再利用磨样机对试样高于辅助工具的一面进行打磨，人工无需直接接触试样，只需控制辅助工具即可，大大提高了试样磨样的安全性，且磁性部可有效对试样吸附，稳定性和便捷性好。
[0006]本技术进一步限定的技术方案是：
[0007]进一步的，所述工具主体包括磁性底座及与其连接的试样座，所述试样座用以开设试样槽及剪尾槽，所述磁性底座用以吸附嵌入试样槽的试样。
[0008]进一步的，所述工具主体的侧壁设置有多个防滑条，人工握持辅助工具时可有效提高摩擦力。
[0009]进一步的，所述防滑条沿工具主体的厚度方向设置。
[0010]进一步的，所述工具主体为长方体状结构，工具主体的形状可以按需设计，比如长方体、正方体或圆盘状均可以，本技术方案设计为长方体是便于加工制作，亦可根据需要进行制作。
[0011]进一步的，所述磁性部为钕磁铁。
[0012]进一步的，所述试样槽呈圆盘状并与剪尾槽共同构成棒棒糖型以适配放置试样。
[0013]本技术的有益效果是：本技术通过试样槽和剪尾槽放置待打磨的试样并
使试样的待打磨处高于辅助工具，再利用磨样机对试样高于辅助工具的一面进行打磨，人工无需直接接触试样，只需控制辅助工具即可，提高了试样磨样的安全性，减轻工作人员工作强度，且磁性部可有效对试样吸附，稳定性和便捷性好，在人工磨制试样时起到很好的辅助作用，结构简单，设计巧妙，实用性强。
附图说明
[0014]图1为本技术自吸式试样磨样辅助工具的结构示意图；
[0015]图2为本技术中试样的结构示意图；
[0016]图中：1、试样槽；2、剪尾槽；3、磁性底座；4、试样座；5、防滑条；6、试样；7、试样剪尾处。
具体实施方式
[0017]本实施例提供的一种自吸式试样磨样辅助工具，结构如图1所示，包括工具主体，工具主体由长方体状的磁性底座3及与其连接的试样座4构成，试样座4上开设有试样槽1及剪尾槽2，磁性底座3为钕磁铁，作为磁性部用以吸附嵌入试样槽1的试样6，该剪尾槽2远离试样槽1的一端延伸至工具主体边缘，试样槽1与剪尾槽2用以适配放置试样6，试样6（球拍型/棒棒糖型）的结构参见图2，试样6的试样剪尾处7置于剪尾槽2内，且试样槽1的高度小于试样6的厚度以使试样6的待打磨处高于试样槽1，试样槽1呈圆盘状并与剪尾槽2共同构成棒棒糖型以适配放置试样6。
[0018]在本实施例中，工具主体的侧壁设置有多个防滑条5，防滑条5沿工具主体的厚度方向设置。
[0019]本实施例在使用时，将球拍型试样6放入该辅助工具的试样槽1内，试样6因试样槽1底部具有的磁性特征，吸附于试样槽1内，试样剪尾处7对准并嵌于剪尾槽2内，握紧该辅助工具，使试样6表面垂直于磨样机，启动磨样机，磨样机转动，将试样6垂直于磨样机的表面与磨样机接触，形成摩擦，磨去试样6表面的氧化层，磨样完毕，关闭磨样机，取出试样6。
[0020]除上述实施例外，本技术还可以有其他实施方式。凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本技术要求的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光谱分析的自吸式试样磨样辅助工具，其特征在于，包括工具主体，所述工具主体的一面开设有试样槽及与其连通的剪尾槽，该剪尾槽远离试样槽的一端延伸至工具主体边缘，所述试样槽与剪尾槽用以适配放置试样，且试样槽的高度小于试样的厚度以使试样的待打磨处高于试样槽，其中，所述工具主体设置有磁性部，该磁性部在试样放置入试样槽内时对试样起到吸附作用。2.如权利要求1所述的自吸式试样磨样辅助工具，其特征在于，所述工具主体包括磁性底座及与其连接的试样座，所述试样座用以开设试样槽及剪尾槽，所述磁性底座用以吸附嵌...

【专利技术属性】
技术研发人员：李凌飞，汪五一，嵇立磊，
申请(专利权)人：南京钢铁股份有限公司，
类型：新型
国别省市：