一种在线式C型框架厚度测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种在线式C型框架厚度测量仪，包括C型测量框架、控制箱和离线标定装置，所述C型测量框架的底部固定安装有测量框架行走机构，所述测量框架行走机构安装在测量框架移动导轨上，C型测量框架的测量点垂直方向的上部和下部分别安装有上激光位移传感器和下激光位移传感器。本实用新型专利技术通过激光位移传感器对板材或带材进行测量，避免了传统的射线类或同位素类的测厚仪在使用时对人体的辐射危害，更加的安全可靠，而且无需专业部门监管，具有可移动、在线式运行时长可控的优点，其集成度高、实时性好、精确性高并且维护成本低。精确性高并且维护成本低。精确性高并且维护成本低。

【技术实现步骤摘要】
一种在线式C型框架厚度测量仪


[0001]本技术涉及钢板厚度测量设备
，具体为一种在线式C型框架厚度测量仪。

技术介绍

[0002]钢板的厚度是钢材生产中最重要的参数之一，板带成品的质量主要取决于板带纵向厚度公差。作为板带材轧机基础自动化功能的一个重要组成部分，测厚仪对轧钢厚度控制起到至关重要的作用。测厚仪为轧机自动厚度控制提供测量值与设定值偏差信号，其精确的厚度测量功能是保证轧机厚度控制有效、正确的基本条件。
[0003]传统的射线类或同位素类的测厚仪存在一定的缺陷：
[0004]同位素测厚仪是利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等，其缺点是，由于其测量点很大(最大可达40mm)，这导致在板的开始和结束处出现死区现象；时间常数高(25
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100mS)，这导致在高速度下需要更大的测量点，这意味着特定厚度值的测量位置是不精确的，不可能检测到微小的厚度变化；同位素测量仪还需要严格的安全预防措施，在安装前和安装期间需要大量的管理工作，还需要每年或每两年进行一次昂贵的检查，一旦它们使用寿命结束，处理起来既困难又昂贵；同位素具有很强的辐射，且被测材料也会辐射(所谓的二次辐射)，容易对工作人员的健康造成损害；
[0005]射线类测厚仪是通过施加高压电源放射出X射线,当射线穿过被测材质时，一部分射线被材质吸收导致强度减弱，利用这一原理来检测被测物质的厚度。其缺点是X射线源本身在测量中的日渐衰减、在生产过程中操作者人为的偏差造成补偿值的不精确、被测量物体上的附着物以及X射线途经的环境中的温度或者湿度的影响；对于厚度比较大的材料，需要很高的电压才能产生足够能量的辐射，即使是最强大的X射线发生器也无法测量厚度超过50毫米(钢)的材料，切X射线同样具有辐射的危险。

技术实现思路

[0006]鉴于现有技术中所存在的问题，本技术的目的是提供一种在线式C型框架厚度测量仪，解决现有技术中测量仪放射源辐射危害大、检测值不精确、检测实时性不高、维护成本高昂、废弃放射源处理困难且成本过高等问题。
[0007]为了实现上述技术目的，本技术采用如下所述的技术方案：一种在线式C型框架厚度测量仪，包括：C型测量框架、控制箱和离线标定装置，所述控制箱固定安装在C型测量框架的左侧，所述离线标定装置设置在C型测量框架移动到最末端位置时的测量区域内，所述C型测量框架的底部固定安装有测量框架行走机构，所述测量框架行走机构安装在测量框架移动导轨上，C型测量框架的测量点垂直方向的上部和下部分别安装有上激光位移传感器和下激光位移传感器。
[0008]作为本技术的一种优选方案，所述控制箱内安装有控制电源模块、IPC工控
机、输入输出模块、变频器和网络通讯模块，所述IPC工控机与控制电源模块电性连接，所述IPC工控机与输入输出模块、变频器和网络通讯模块电性连接。
[0009]作为本技术的一种优选方案，所述C型测量框架上设置有位置传感器，所述输入输出模块与C型框架上的位置传感器电性连接。
[0010]作为本技术的一种优选方案，所述变频器与所述测量框架行走机构电性连接。
[0011]作为本技术的一种优选方案，所述上激光位移传感器和下激光位移传感器与控制箱内的输入输出模块电性连接。
[0012]作为本技术的一种优选方案，所述离线标定装置包括离线标定板，离线标定装置与IPC工控机电性连接，IPC工控机用于控制离线标定板的伸出与缩回。
[0013]作为本技术的一种优选方案，所述测量框架行走机构采用步进电机驱动，所述测量框架移动导轨采用直线导轨。
[0014]由于采用上述技术方案，本技术具有以下有益效果：
[0015]本技术通过激光位移传感器对板材或带材进行测量，避免了传统的射线类或同位素类的测厚仪在使用时对人体的辐射危害，更加的安全可靠，而且无需专业部门监管，具有可移动、在线式运行时长可控的优点，其集成度高、实时性好、精确性高并且维护成本低。
附图说明
[0016]图1为本技术的整体结构示意图；
[0017]图2为本技术的三维结构示意图；
[0018]图3为本技术的局部结构示意图。
[0019]图中：1、控制箱；2、C型测量框架；3、上激光位移传感器；4、下激光位移传感器；5、离线标定装置；6、测量框架行走机构；7、测量框架移动导轨；8、板料；9、输送机构。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0021]实施例1
[0022]如图1至图3所示，本技术所述的一种在线式C型框架厚度测量仪的具体实施例，包括：C型测量框架2、控制箱1和离线标定装置5，所述控制箱1固定安装在C型测量框架2的左侧，所述离线标定装置5设置在C型测量框架2移动到最末端位置时的测量区域内，所述C型测量框架2的底部固定安装有测量框架行走机构6，所述测量框架行走机构6安装在测量框架移动导轨7上，C型测量框架2的测量点垂直方向的上部和下部分别安装有上激光位移传感器3和下激光位移传感器4，控制箱1内安装有控制电源模块、IPC工控机、输入输出模块、变频器和网络通讯模块，所述IPC工控机与控制电源模块电性连接，所述IPC工控机与输入输出模块、变频器和网络通讯模块电性连接，控制电源模块的进线端子连接外部AC230V交流电，控制电源模块的出线提供DC24V直流电源用于IPC工控机、输入输出模块、变频器控
制电源和网络通讯模块的供电。
[0023]C型测量框架2上设置有位置传感器，所述输入输出模块与C型框架上的位置传感器电性连接；变频器与所述测量框架行走机构6电性连接；上激光位移传感器3和下激光位移传感器4与控制箱1内的输入输出模块电性连接；离线标定装置5包括离线标定板，离线标定装置5与IPC工控机电性连接，IPC工控机用于控制离线标定板的伸出与缩回。
[0024]在本实施例中，测量框架行走机构6采用步进电机驱动，测量框架移动导轨7采用直线导轨，测量框架行走机构6与测量框架移动导轨7之间采用丝杆加直线导轨的方式连接。
[0025]本技术的工作原理：厚度测量仪在初始化时先在后退位(图1中最左侧位置)进行离线标定以获取当前测量环境下的补偿值；经过标定后的厚度测量仪根据输送机构9的来料情况(如图1所示，输送机构9在前后方向上进行板料8的输送)，测量框架行走机构6将C型测量框架2移动到生产线上对板料进行厚度的测量；测量位置可以在IPC工控机上的人机界面或通讯电文的方式进行提前的设定，IPC工控机接收到相关位置设定值会通过变频器控制测量框架行走机构6上的步进电机将C型测量框架2移动到指定的测量位置；C型测量框架2上的上激光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在线式C型框架厚度测量仪，包括：C型测量框架(2)、控制箱(1)和离线标定装置(5)，所述控制箱(1)固定安装在C型测量框架(2)的左侧，所述离线标定装置(5)设置在C型测量框架(2)移动到最末端位置时的测量区域内，其特征在于：所述C型测量框架(2)的底部固定安装有测量框架行走机构(6)，所述测量框架行走机构(6)安装在测量框架移动导轨(7)上，C型测量框架(2)的测量点垂直方向的上部和下部分别安装有上激光位移传感器(3)和下激光位移传感器(4)。2.根据权利要求1所述的一种在线式C型框架厚度测量仪，其特征在于：所述控制箱(1)内安装有控制电源模块、IPC工控机、输入输出模块、变频器和网络通讯模块，所述IPC工控机与控制电源模块电性连接，所述IPC工控机与输入输出模块、变频器和网络通讯模块电性连接。3.根据权利要求2所述的一种在线...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈叶根，刘华，濮臣梁，
申请(专利权)人：上海朝冶机电成套设备有限公司，
类型：新型
国别省市：