芯片测试机的调整机构制造技术

本实用新型专利技术公开了芯片测试机的调整机构，包括支撑架，还包括设于支撑架内部两侧的第一夹持组件组件和第二夹持组件，所述第一组件包括第一连接板、转动连接杆和第一夹持板，所述转动连接杆转动连接在第一连接板内侧壁，所述第一夹持板固定连接在转动连接杆内侧，所述第二夹持组件包括第二连接板、转动电机和第二夹持板，所述转动电机镶嵌连接在第二连接板外侧；本实用新型专利技术在对芯片测试时，能通过计算机的精准计算来控制调节结构对芯片测试机的高度和角度进行精准调控，不需要人工手动进行调节，从而避免手动调节造成测试机角度偏差的问题，有效提高芯片测试的效率和测试的效果。有效提高芯片测试的效率和测试的效果。有效提高芯片测试的效率和测试的效果。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试机的调整机构


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及芯片测试机的调整机构。

技术介绍

[0002]在芯片测试领域，芯片测试时，一般将芯片测试机放置在一固定的放置架上，测试前需要将芯片测试机与探针卡连接后与测试晶圆对准，针对不同型号的测试晶圆需要将放置架上的芯片测试机转动至不同方向并调整至不同角度进行对准。
[0003]现有的芯片测试机在使用时一般通过支架固定在测试区域的工作台上，而芯片在测试时由于放置的位置需要对芯片测试机进行位置调节，现有的调节方式一般人工手动对芯片测试机进行调整，但由于芯片测试机本体比较重而难以移动，导致对芯片测试机的调整和移动耗费人力和时间，调整难度较大，从而降低芯片的测试效率。为此，我们提出芯片测试机的调整机构。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供芯片测试机的调整机构，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0006]芯片测试机的调整机构，包括支撑架，还包括设于支撑架内部两侧的第一夹持组件和第二夹持组件，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.芯片测试机的调整机构，包括支撑架(5)，其特征在于，还包括设于支撑架(5)内部两侧的第一夹持组件(9)和第二夹持组件(10)，所述第一夹持组件(9)包括第一连接板(901)、转动连接杆(902)和第一夹持板(903)，所述转动连接杆(902)转动连接在第一连接板(901)内侧壁，所述第一夹持板(903)固定连接在转动连接杆(902)内侧，所述第二夹持组件(10)包括第二连接板(1001)、转动电机(1002)和第二夹持板(1003)，所述转动电机(1002)镶嵌连接在第二连接板(1001)外侧，且转动电机(1002)动力输出端贯穿第二连接板(1001)延伸至第二连接板(1001)内侧，所述第二夹持板(1003)固定连接在转动电机(1002)动力输出端，所述支撑架(5)内部两侧均镶嵌连接有多个电动伸缩气缸(11)，且电动伸缩气缸(11)伸缩端分别与第一连接板(901)和第二连接板(1001)外侧壁可拆卸连接。2.根据权利要求1所述的芯片测试机的调整机构，其特征在于：还包括设于支撑架(5)背面的支撑柱(2)，所述支撑柱(2)面相支撑架(5)的一侧开设有滑槽(6...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟，
申请(专利权)人：南通麟耀科技有限公司，
类型：新型
国别省市：