芯片测试机的调整机构制造技术

本实用新型专利技术公开了芯片测试机的调整机构，包括支撑架，还包括设于支撑架内部两侧的第一夹持组件组件和第二夹持组件，所述第一组件包括第一连接板、转动连接杆和第一夹持板，所述转动连接杆转动连接在第一连接板内侧壁，所述第一夹持板固定连接在转动连接杆内侧，所述第二夹持组件包括第二连接板、转动电机和第二夹持板，所述转动电机镶嵌连接在第二连接板外侧；本实用新型专利技术在对芯片测试时，能通过计算机的精准计算来控制调节结构对芯片测试机的高度和角度进行精准调控，不需要人工手动进行调节，从而避免手动调节造成测试机角度偏差的问题，有效提高芯片测试的效率和测试的效果。有效提高芯片测试的效率和测试的效果。有效提高芯片测试的效率和测试的效果。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试机的调整机构


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及芯片测试机的调整机构。

技术介绍

[0002]在芯片测试领域，芯片测试时，一般将芯片测试机放置在一固定的放置架上，测试前需要将芯片测试机与探针卡连接后与测试晶圆对准，针对不同型号的测试晶圆需要将放置架上的芯片测试机转动至不同方向并调整至不同角度进行对准。
[0003]现有的芯片测试机在使用时一般通过支架固定在测试区域的工作台上，而芯片在测试时由于放置的位置需要对芯片测试机进行位置调节，现有的调节方式一般人工手动对芯片测试机进行调整，但由于芯片测试机本体比较重而难以移动，导致对芯片测试机的调整和移动耗费人力和时间，调整难度较大，从而降低芯片的测试效率。为此，我们提出芯片测试机的调整机构。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供芯片测试机的调整机构，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0006]芯片测试机的调整机构，包括支撑架，还包括设于支撑架内部两侧的第一夹持组件和第二夹持组件，所述第一夹持组件包括第一连接板、转动连接杆和第一夹持板，所述转动连接杆转动连接在第一连接板内侧壁，所述第一夹持板固定连接在转动连接杆内侧，所述第二夹持组件包括第二连接板、转动电机和第二夹持板，所述转动电机镶嵌连接在第二连接板外侧，且转动电机动力输出端贯穿第二连接板延伸至第二连接板内侧，所述第二夹持板固定连接在转动电机动力输出端，所述支撑架内部两侧均镶嵌连接有多个电动伸缩气缸，且电动伸缩气缸伸缩端分别与第一连接板和第二连接板外侧壁可拆卸连接。
[0007]进一步地，还包括设于支撑架背面的支撑柱，所述支撑柱面相支撑架的一侧开设有滑槽，所述滑槽内部滑动连接有相适配的连接滑块，且连接滑块外侧壁与支撑架背面固定连接。
[0008]进一步地，所述支撑柱内部转动连接有驱动螺杆，且驱动螺杆贯穿连接滑块且与连接滑块螺纹连接。
[0009]进一步地，所述支撑柱顶端镶嵌连接有驱动电机，且驱动电机动力输出端与驱动螺杆可拆卸连接。
[0010]进一步地，所述支撑柱一侧表面镶嵌连接有控制面板。
[0011]进一步地，所述支撑柱底端固定连接有底座。
[0012]进一步地，所述第一夹持板和第二夹持板内侧壁均固定连接有多个橡胶防滑块。
[0013]进一步地，所述连接滑块上表现开设有与驱动螺杆相适配的螺纹孔，且螺纹孔贯穿连接滑块并延伸至连接滑块底端。
[0014]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：本技术通过设置支撑架、电动伸缩气缸、第一连接板、转动连接杆、第一夹持板、第二连接板、转动电机和第二夹持板，在芯片测试机对芯片测试时，将测试机本体放置在支撑架上，并通过控制器控制电动伸缩气缸带动第一夹持板和第二夹持板向内侧移动以此将测试机夹持在支撑架内侧，在测试时，根据芯片的摆放位置，来通过操控面板操控转动电机带动第二夹持板进行转动，而第一夹持板通过转动连接杆与第一连接板进行连接的方式也能在夹持时进行转动，以此转动电机带动第二夹持板转动时，内侧夹持的芯片测试机以及第一夹持板跟随转动，从而实现芯片测试机的角度调节，方便对芯片进行测试，并且通计算机输出伺服电机的转动数值，能精准的控制转动电机的转动你角度，从而精准的控制测试机的转动角度，不需要人工手动进行调节，从而避免手动调节造成测试机角度偏差的问题，有效提高芯片测试的效率和测试的效果。
附图说明
[0015]图1为本技术芯片测试机的调整机构的整体结构示意图。
[0016]图2为本技术芯片测试机的调整机构的第二夹持组件的结构示意图。
[0017]图3为本技术芯片测试机的调整机构的第一夹持组件的结构示意图。
[0018]图中：1、底座；2、支撑柱；3、控制面板；4、驱动电机；5、支撑架；6、滑槽；7、驱动螺杆；8、连接滑块；9、第一夹持组件；10、第二夹持组件；11、电动伸缩气缸；12、橡胶防滑块；901、第一连接板；902、转动连接杆；903、第一夹持板；1001、第二连接板；1002、转动电机；1003、第二夹持板。
具体实施方式
[0019]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0020]如图1
‑
3所示，芯片测试机的调整机构，包括支撑架5，还包括设于支撑架5内部两侧的第一夹持组件9和第二夹持组件10，所述第一夹持组件9包括第一连接板901、转动连接杆902和第一夹持板903，所述转动连接杆902转动连接在第一连接板901内侧壁，所述第一夹持板903固定连接在转动连接杆902内侧，所述第二夹持组件10包括第二连接板1001、转动电机1002和第二夹持板1003，所述转动电机1002镶嵌连接在第二连接板1001外侧，且转动电机1002动力输出端贯穿第二连接板1001延伸至第二连接板1001内侧，所述第二夹持板1003固定连接在转动电机1002动力输出端，所述支撑架5内部两侧均镶嵌连接有多个电动伸缩气缸11，且电动伸缩气缸11伸缩端分别与第一连接板901和第二连接板1001外侧壁可拆卸连接；转动电机1002带动第二夹持板1003进行转动，而第一夹持板903通过转动连接杆902与第一连接板901进行连接的方式也能在夹持时进行转动，以此转动电机1002带动第二夹持板1003转动时，内侧夹持的芯片测试机以及第一夹持板903跟随转动，从而实现芯片测试机的角度调节，方便对芯片进行测试。
[0021]其中，还包括设于支撑架5背面的支撑柱2，所述支撑柱2面相支撑架5的一侧开设有滑槽6，所述滑槽6内部滑动连接有相适配的连接滑块8，且连接滑块8外侧壁与支撑架5背面固定连接，所述支撑柱2内部转动连接有驱动螺杆7，且驱动螺杆7贯穿连接滑块8且与连
接滑块8螺纹连接，所述支撑柱2顶端镶嵌连接有驱动电机4，且驱动电机4动力输出端与驱动螺杆7可拆卸连接；通过驱动电机4带动驱动螺杆7正反转，以此与驱动螺杆7螺纹连接的连接滑块8顺着支撑柱2表面开设的滑槽6上下滑动，并带动外侧来接的支撑架5上下滑动，以此调节测试机的上下高度。
[0022]其中，所述支撑柱2一侧表面镶嵌连接有控制面板3，所述支撑柱2底端固定连接有底座1；通过底座1方便将支撑柱2稳定放置在地面上，便于后期对测试机进行支撑使用。
[0023]其中，所述第一夹持板903和第二夹持板1003内侧壁均固定连接有多个橡胶防滑块12，所述连接滑块8上表现开设有与驱动螺杆7相适配的螺纹孔，且螺纹孔贯穿连接滑块8并延伸至连接滑块8底端；通过橡胶防滑块12能提高第一夹持板903和第二夹持板1003的防滑性，确保夹持的稳定，通过螺纹孔便于将连接滑块8与驱动螺杆7螺纹连接，方便通过转动的驱动螺杆7带动连接滑块8上下移动。
[0024]需要说明的是，本技术为芯片测试机的调整机构，工作时，将测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.芯片测试机的调整机构，包括支撑架(5)，其特征在于，还包括设于支撑架(5)内部两侧的第一夹持组件(9)和第二夹持组件(10)，所述第一夹持组件(9)包括第一连接板(901)、转动连接杆(902)和第一夹持板(903)，所述转动连接杆(902)转动连接在第一连接板(901)内侧壁，所述第一夹持板(903)固定连接在转动连接杆(902)内侧，所述第二夹持组件(10)包括第二连接板(1001)、转动电机(1002)和第二夹持板(1003)，所述转动电机(1002)镶嵌连接在第二连接板(1001)外侧，且转动电机(1002)动力输出端贯穿第二连接板(1001)延伸至第二连接板(1001)内侧，所述第二夹持板(1003)固定连接在转动电机(1002)动力输出端，所述支撑架(5)内部两侧均镶嵌连接有多个电动伸缩气缸(11)，且电动伸缩气缸(11)伸缩端分别与第一连接板(901)和第二连接板(1001)外侧壁可拆卸连接。2.根据权利要求1所述的芯片测试机的调整机构，其特征在于：还包括设于支撑架(5)背面的支撑柱(2)，所述支撑柱(2)面相支撑架(5)的一侧开设有滑槽(6...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟，
申请(专利权)人：南通麟耀科技有限公司，
类型：新型
国别省市：