本发明专利技术公开了一种镜面及类镜面物体缺陷检测方法、系统、装置及存储介质，通过将第一预设图像以及第二预设图像投影到待检测物体表面，然后获取待检测物体表面与第一预设图像对应的第一图像以及与第二预设图像对应的第二图像，根据第一图像和第二图像确定灰度差值图，并根据所述灰度差值图确定第n个轮廓，选取第n个轮廓的第n边界，并根据第n边界确定拟合直线，选取第n边界的若干个像素点，计算若干个像素点到拟合直线的距离，并根据距离计算若干个像素点到拟合直线的偏离度，然后，若偏离度大于第一预设值，就可确定待检测物体存在缺陷；本发明专利技术实施例实现成本较低，可提高检测效率，可广泛应用于检测技术领域。可广泛应用于检测技术领域。可广泛应用于检测技术领域。
【技术实现步骤摘要】
镜面及类镜面物体缺陷检测方法、系统、装置及存储介质
[0001]本专利技术涉及检测
，尤其涉及一种镜面及类镜面物体缺陷检测方法、系统、装置及存储介质。
技术介绍
[0002]在工业生产中，产品的质量检测是其中十分重要的一个环节。随着社会的发展，人们对工业生产的产品质量要求越来越高，因此对产品质量检测的要求也越来越高，对于工业生产中应用广泛的镜面以及类镜面产品，如光学镜片、玻璃面板等，由于在制造生产过程中加工材料的热胀冷缩，在不均匀的体积收缩情况下，产品会出现内应力与收缩凹陷缺陷缩水，从而对产品的质量、美观以及用户的使用舒适度产生影响，而对这类产品的检测，一般使用人工检测法或者反射式三维重建物体表面的方法，其中，人工检测法是人在一定光照的条件下，使用肉眼对产品表面缺陷进行判别；而反射式三维重建是指重建镜面及类镜面物体表面三维模型；但人工检测法方法检测效率低下，并且由于光线影响和长时间用眼疲劳会对工人眼睛造成损害，反射式三维重建要求精度比较高，其实现成本也相对较高。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本专利技术实施例的目的是提供一种镜面及类镜面物体缺陷检测方法、系统、装置及存储介质，可提高检测效率，降低检测的实现成本。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供了一种镜面及类镜面物体缺陷检测方法，包括以下步骤：
[0005]将第一预设图像和第二预设图像分别投影到待检测物体表面，并获取待检测物体表面与所述第一预设图像对应的第一图像以及与所述第二预设图像对应的第二图像；
[0006]对所述第一图像和所述第二图像确定灰度差值图，并根据所述灰度差值图确定第一轮廓；所述第一轮廓表征检测图像的轮廓；
[0007]根据所述轮廓选取第一边界，并根据所述第一边界确定拟合直线；
[0008]选取所述第一边界的若干个所述像素点，并计算若干个所述像素点到所述拟合直线的偏离度，若所述偏离度大于第一预设值，则确定待检测物体存在缺陷。
[0009]进一步，所述根据所述灰度差值图确定第一轮廓，具体包括：
[0010]获取预设窗口与预设分割阈值，根据所述预设窗口和所述预设分割阈值对所述灰度差值图进行分割，得到第一二值化图像；
[0011]根据所述第一二值化图像和所述灰度差值图确定第二二值化图像，对所述第二二值化图像进行轮廓提取得到第一轮廓。
[0012]进一步，根据所述预设窗口和所述预设分割阈值对所述灰度差值图进行分割，得到第一二值化图像，具体包括：
[0013]根据所述预设窗口对所述灰度差值图进行划分，得到若干个窗口；每个窗口包括若干个像素点；
[0014]计算每个窗口内的像素点灰度均值，并根据所述像素点灰度均值与所述预设分割阈值确定分割节点；
[0015]在每个窗口内，对像素点灰度小于所述分割阈值的像素点进行分割，得到第一二值化图像。
[0016]进一步，通过以下公式得到灰度差值图：
[0017]I(x)＝|I
`x1
‑
I
`x2
|
[0018]其中，I(x)为灰度差值图，I
`x1
为与所述第一预设图像对应的第一图像，I
`x2
为与所述第二预设图像对应的第二图像。
[0019]进一步，所述根据所述第一边界确定拟合直线，具体包括：
[0020]获取所述第一边界包含的若干个像素点以及对应的坐标集；
[0021]将所述坐标集以某一轴线为主进行排序，从所述坐标集中选取第一坐标，并根据所述第一坐标和第一预设公式确定第二坐标；
[0022]根据所述第一坐标和所述第二坐标确定拟合直线。
[0023]进一步，所述第一预设公式为：
[0024][0025]n＝1,2,3
…
,i＝1,2,3
…
N
[0026]其中，(C
`n
x
max
,C
`n
y
max
)为第n个轮廓内的第二坐标，为第n个轮廓内所有坐标点的均值坐标点，(C
`n
x
i
,C
`n
y
i
)为第n个轮廓内的第i坐标。
[0027]进一步，所述计算若干个所述像素点到所述拟合直线的偏离度，具体包括：
[0028]分别计算若干个所述像素点到所述拟合直线的距离；
[0029]根据所述距离计算若干个所述像素点到所述拟合直线的距离均值；
[0030]根据所述距离以及所述距离均值计算若干个所述像素点的方差，将所述方差作为若干个所述像素点到所述拟合直线的偏离度。
[0031]第二方面，本专利技术实施例提供了一种镜面及类镜面物体缺陷检测装置，包括：
[0032]至少一个处理器；
[0033]至少一个存储器，用于存储至少一个程序；
[0034]当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如上述方法实施例所述的方法。
[0035]第三方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如上述方法实施例所述的方法。
[0036]第四方面，本专利技术实施例提供了一种镜面及类镜面物体缺陷检测系统，包括光源、图像采集装置以及连接所述光源和所述图像采集装置的计算机设备；其中，
[0037]所述光源，用于接收所述计算机设备发送的指令，并根据指令投影预设的图像到待检测物体表面；
[0038]所述图像采集装置，用于获取所述待检测物体表面投影后的图像，并将所述图像发送给所述计算机设备；
[0039]所述计算机设备包括：
[0040]至少一个处理器；
[0041]至少一个存储器，用于存储至少一个程序；
[0042]当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如上述方法实施例所述的方法。
[0043]实施本专利技术实施例包括以下有益效果：本实施例首先第一预设图像以及第二预设图像投影到待检测物体表面，然后获取待检测物体表面与第一预设图像对应的第一图像以及与第二预设图像对应的第二图像，然后，根据得到的第一图像和第二图像确定灰度差值图，并根据所述灰度差值图确定第一轮廓，然后，根据所述轮廓选取第一边界，并根据第一边界确定拟合直线，然后，选取第一边界的若干个像素点，计算若干个所述像素点到所述拟合直线的偏离度，若所述偏离度大于第一预设值，判断待检测物体存在缺陷；通过将预设图像投影到待检测物体，并对待检测物体的第一图像和第二图像进行处理得到第一轮廓，根据第一轮廓选取第一边界，选取第一边界中的若干个像素点并计算对应的偏离度判断待检测物体是否存在缺陷，降低了检测的实现成本，并且通过投影，获取图像进行处理缺陷检测，减少因光线影响以及长时间用眼导致的人眼疲劳影响，提高检测效率。
附图说明
[0044]图本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种镜面及类镜面物体缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将第一预设图像和第二预设图像分别投影到待检测物体表面，并获取待检测物体表面与所述第一预设图像对应的第一图像以及与所述第二预设图像对应的第二图像；根据所述第一图像和所述第二图像确定灰度差值图，并根据所述灰度差值图确定第一轮廓；所述第一轮廓表征检测图像的轮廓；根据所述轮廓选取第一边界，并根据所述第一边界确定拟合直线；选取所述第一边界的若干个所述像素点，并计算若干个所述像素点到所述拟合直线的偏离度，若所述偏离度大于第一预设值，则确定待检测物体存在缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰度差值图确定第一轮廓，具体包括：获取预设窗口与预设分割阈值，根据所述预设窗口和所述预设分割阈值对所述灰度差值图进行分割，得到第一二值化图像；根据所述第一二值化图像和所述灰度差值图确定第二二值化图像，对所述第二二值化图像进行轮廓提取得到第一轮廓。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述预设窗口和所述预设分割阈值对所述灰度差值图进行分割，得到第一二值化图像，具体包括：根据所述预设窗口对所述灰度差值图进行划分，得到若干个窗口；每个窗口包括若干个像素点；计算每个窗口内的像素点灰度均值，并根据所述像素点灰度均值与所述预设分割阈值确定分割节点；在每个窗口内，对像素点灰度小于所述分割阈值的像素点进行分割，得到第一二值化图像。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过以下公式得到灰度差值图：I(x)＝|I`
x1
‑
I`
x2
|其中，I(x)为灰度差值图，I`
x1
为与所述第一预设图像对应的第一图像，I`
x2
为与所述第二预设图像对应的第二图像。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一边界确定拟合直线，具体包括：获取所述第一边界包含的若干个像素点以及对应的坐标集；将所述坐标集以某一轴线为主进行排序，从所述坐标集中选取第一坐标，并根据所述第一坐标和第一预设公...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜龙，李耀楠，席宁，陈和平，范兴刚，王清阳，
申请(专利权)人：嘉兴市敏硕智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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