片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质。该方法包括：确定目标片状材料以及确定目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，目标片状材料中的片材缺陷与参考片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离小于预设差值，预设差值用于判断两个片材缺陷是否位于相同位置；若存在，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，以及确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息；依据目标缺陷特征信息与参考缺陷特征信息，确定目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。该方法解决了由于光照、颜色、缺陷裁切不全、深浅形貌等原因造成畸变时，无法判别片状材料缺陷类型，从而造成周期性缺陷漏检的问题。漏检的问题。漏检的问题。

【技术实现步骤摘要】
片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质


[0001]本专利技术涉及片状材料表面缺陷检测
，尤其涉及一种片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质。

技术介绍

[0002]周期性缺陷是片状材料生产过程中由于前工序故障引起的缺陷，及早识别可减少缺陷生成率。
[0003]通过对片状材料表面的缺陷进行周期的分析，能推断出此类缺陷产生的位置及原因，为有效改善片状材料产品质量提供良好基础，并利于生产工艺人员排查设备问题，及早发现能够降低产品浪费提高产能。但是，现有方案中仍存在以下问题：对于光照、颜色、缺陷裁切不全、深浅形貌发生一定程度畸变时，无法判别片状材料缺陷类型，从而造成周期性缺陷漏检的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质，以解决在片状材料发生畸变时，无法判别缺陷类型，从而造成周期性缺陷漏检的问题。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种片状材料的周期性缺陷检测方法，包括：
[0006]确定目标片状材料以及确定所述目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，所述目标片状材料中的片材缺陷与所述参考片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离小于预设差值，所述预设差值用于判断两个片材缺陷是否位于相同位置；
[0007]若存在，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，以及确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息，所述缺陷特征信息包括用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的语义空间信息以及用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的视觉空间信息；
[0008]依据目标缺陷特征信息与所述参考缺陷特征信息，确定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。
[0009]根据本专利技术的另一方面，提供了一种片状材料的周期性缺陷检测装置，包括：
[0010]缺陷位置确定模块，用于确定目标片状材料以及确定所述目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，所述目标片状材料中的片材缺陷与所述参考片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离小于预设差值，所述预设差值用于判断两个片材缺陷是否位于相同位置；
[0011]缺陷特征信息确定模块，用于若存在，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，以及确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息，所述缺陷特征信息包括用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的语义空间信息以及用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的视觉空间信息；
[0012]周期性缺陷确定模块，用于依据目标缺陷特征信息与所述参考缺陷特征信息，确
定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。
[0013]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0014]至少一个处理器；以及
[0015]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0016]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的片状材料的周期性缺陷检测方法。
[0017]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的片状材料的周期性缺陷检测方法。
[0018]本专利技术实施例的技术方案，首先确定目标片状材料与目标片状材料对应的参考片状材料，该步骤根据是否存在参考片状材料，来确定是否对周期性缺陷进行判断，避免了在检测到缺陷就进行判断的问题，从而提高了系统检测的效率。若存在参考片状材料，则确定目标片状材料及参考片状材料的缺陷特征信息，根据特征信息的差异判断片材缺陷是否为周期性缺陷，该步骤根据缺陷的缺陷特征信息判断周期性缺陷，能够提高检测的效率及准确率。因此，本专利技术的技术方案有效解决了由于光照、颜色、缺陷裁切不全、深浅形貌等原因造成畸变时，无法判别片状材料缺陷类型，从而造成周期性缺陷漏检的问题。
[0019]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为根据本专利技术提供的一种片状材料的周期性缺陷检测方法的流程图；
[0022]图2为根据本专利技术提供的一种检测片状材料周期性缺陷的网络模型结构示意图；
[0023]图3为根据本专利技术提供的一种Triplet loss结构示意图；
[0024]图4为根据本专利技术提供的一种不同类型周期性缺陷形态示意图；
[0025]图5为根据本专利技术提供的另一种片状材料的周期性缺陷检测方法的流程图；
[0026]图6为根据本专利技术提供的采用无序收集方式运送候选片状材料的流程图；
[0027]图7为根据本专利技术提供的采用第一收集方式运送候选片状材料的流程图；
[0028]图8为根据本专利技术提供的采用第二收集方式运送候选片状材料的流程图；
[0029]图9为根据本专利技术提供的又一种片状材料的周期性缺陷检测方法的流程图；
[0030]图10为根据本专利技术提供的一种特征融合系统框图；
[0031]图11为根据本专利技术提供的一种片状材料的周期性缺陷检测装置的结构示意图；
[0032]图12为实现本专利技术实施例的片状材料的周期性缺陷检测方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0033]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0034]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0035]图1为根据本专利技术提供的一种片状材料的周期性缺陷检测方法的流程图，本实施例可适用于由于光照、颜色、缺陷裁切不全、深浅形貌等造成的周期性缺陷漏检的情况，该方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种片状材料的周期性缺陷检测方法，其特征在于，应用于片材检测设备，所述方法包括：确定目标片状材料以及确定所述目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，所述目标片状材料中的片材缺陷与所述参考片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离小于预设差值，所述预设差值用于判断两个片材缺陷是否位于相同位置；若存在，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，以及确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息，所述缺陷特征信息包括用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的语义空间信息以及用于衡量片状材料中片材缺陷的缺陷属性的视觉空间信息；依据目标缺陷特征信息与所述参考缺陷特征信息，确定所述目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定目标片状材料，包括：对片材生产设备生产的片状材料进行缺陷检测，并将存在片材缺陷的片状材料确定为目标片状材料。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述目标片状材料是否存在对应的参考片状材料，包括：检测所述目标片状材料之前收集的候选片状材料中是否存在片材缺陷；若在候选片状材料中检测到存在片材缺陷，则检测存在的片材缺陷的候选片状材料与所述目标片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离是否小于预设差值；若小于预设差值，则确定所述存在的片材缺陷的候选片状材料为所述目标片状材料对应的参考片状材料。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，检测所述目标片状材料之前收集的候选片状材料中是否存在片材缺陷，包括：在各个片材生产设备生产的候选片状材料被配置为无序收集运送到片材检测设备的情况下，遍历检测所述目标片状材料之前连续收集的预设数量的候选片状材料中是否存在片材缺陷，所述预设数量是基于片材生成设备的设备数量进行确定。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，检测所述目标片状材料之前收集的候选片状材料中是否存在片材缺陷，包括：在各个片材生产设备生产的候选片状材料被配置为按照第一收集方式进行收集运送到片材检测设备的情况下，从所述目标片状材料之前连续收集的候选片状材料确定第一片状材料，所述第一片状材料与所述目标片状材料之间间隔着预设数量的候选片状材料，所述第一收集方式为将各个片材生产设备生产的候选片状材料依照各个片材生产设备的次序进行循环收集，在每次循环收集过程中每个片材生产设备生产的候选片状材料收集一次；检测所述第一片状材料中是否存在片材缺陷。6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，检测所述目标片状材料之前收集的候选片状材料中是否存在片材缺陷，包括：在各个片材生产设备生产的候选片状材料被配置为按照第二收集方式进行收集运送到片材检测设备的情况下，从所述目标片状材料之前连续收集的候选片状材料确定第二片
状材料，所述第二片状材料为与所述目标片状材料在同一组进行连续收集且所述目标片状材料的上一个候选片状材料，所述第二收集方式为各个片材生产设备生产的候选片状材料按照不同的片材生产设备进行分组收集，同一组进行连续收集片状材料为同一个片材生成设备生成；检测所述第二片状材料中是否存在片材缺陷。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息，包括：确定包含有目标片状材料中片材缺陷的目标缺陷图像；通过预设缺陷提取模型从所述目标缺陷图像中提取第一目标缺陷特征信息，所述第一目标缺陷特征信息用于衡量所述目标缺陷图像中片材缺陷的缺陷属性的语义空间信息；通过对目标缺陷图像进行轮廓分割，从所述目标缺陷图像中提取第二目标缺陷特征信息，所述第二目标缺陷特征信息用于衡量所...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛铭，魏鹏，魏江，沈井学，
申请(专利权)人：杭州百子尖科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：