【技术实现步骤摘要】
一种MOSFET芯片封装结构
[0001]本技术涉及芯片封装
,具体涉及一种MOSFET芯片封装结构。
技术介绍
[0002]目前,对于MOSFET芯片的封装,其包含有多种封装形式,pdfn50*60,pdfn3.3*3.3;TO系列以及TOLL系列等。MOSFET芯片下部基本为漏极区域,上面包括源极区域和栅极区域。
[0003]但是,无论哪种封装形式,基本都是将MOSFET芯片用粘结物料(导电胶或锡膏)固定在基岛上,使得MOSFET芯片的漏极与基岛连接;然后利用键合机进行键合操作,通过键合线将MOSFET芯片的源极区域与源极引脚连接,将MOSFET芯片的栅极区域与栅极引脚连接,再经过塑封,电镀和切单工序,形成单颗封装结构。
[0004]在MOSFET芯片的运行过程中,如图1所示,现有技术中的MOSFET芯片封装结构,通过栅极键合线4连接芯片栅极区域3和栅极引脚6,栅极键合线4一般只起到开关作用(不必受到过大电流或电压的冲击),所以在键合时容易受到忽视,一般栅极键合线4采用单线,并只在栅极键合线4的两端 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种MOSFET芯片封装结构,其特征在于,包括:MOSFET芯片本体(1),固定在基岛(2)上;栅极引脚(6),设置在所述基岛(2)的一侧,且所述栅极引脚(6)与所述MOSFET芯片本体(1)上的芯片栅极区域(3)之间通过栅极键合线(4)连接;其中,所述栅极键合线(4)一端与所述芯片栅极区域(3)之间的一次键合连接位置处形成键合部一(5),另一端与所述栅极引脚(6)之间的至少两次键合连接位置处形成多个键合部。2.根据权利要求1所述的一种MOSFET芯片封装结构,其特征在于,所述栅极键合线(4)与所述栅极引脚(6)之间的键合连接位置处形成键合部二(7)和键合部三(8),所述键合部二(7)和所述键合部三(8)之间通过...
【专利技术属性】
技术研发人员:李联勋,
申请(专利权)人:安徽积芯微电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。